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[发明专利]光学邻近校正模型的校正方法-CN201210313494.X有效
发明人：王辉;时雪龙 -专利权人：中芯国际集成电路制造（上海）有限公司
申请日： 2012-08-29 - 公布日： 2014-03-12 - 主分类号： G03F1/36 文献下载
摘要：种光学邻近校正模型的校正方法，包括：提供多个具有图形的半导体衬底，所述多个具有图形的半导体衬底分别在不同光刻条件下获得；分别对所述多个具有图形的半导体衬底中的图形进行采样，获得多组采样数据，同一具有图形的半导体衬底的采样数据为一组；提供待校正的光学邻近校正模型；利用每一组采样数据分别对所述待校正的光学邻近校正模型进行校正，获得多个校正的光学邻近校正模型，一种光刻条件对应一个校正的光学邻近校正模型。
光学邻近校正模型方法

[发明专利]一种室内定位航向误差校正方法-CN201610518051.2在审
发明人：杨洲;袁子伦;张绘军;李冀;肖岩 -专利权人：郑州联睿电子科技有限公司
申请日： 2016-06-30 - 公布日： 2016-12-07 - 主分类号： G01C25/00 文献下载
摘要：本发明属于室内导航定位技术领域，具体涉及一种室内定位航向误差校正方法，该校正方法包括如下步骤：步骤一，选取校正方向，记录航向真实值；步骤二，测量校正方向，得到相应的航向测量值；步骤三，计算航向误差并建立航向误差校正模型，对航向测量值和航向真实值作差，得到航向误差，并把航向误差看做航向测量值的非线性函数，建立参数未知的航向误差校正模型；步骤四，根据预设阈值进行曲线拟合，确定航向误差校正模型的参数；步骤五，根据航向误差校正模型来校正实际的航向本发明能够自适应地确定航向误差校正模型，准确完成误差校正与精度补偿，解决了室内定位和导航过程中航向校正的问题。
一种室内定位航向误差校正方法

[发明专利]一种图像校正的方法及装置-CN202110528969.6在审
发明人：张耀 -专利权人：深圳精智达技术股份有限公司
申请日： 2021-05-14 - 公布日： 2021-07-23 - 主分类号： G06T5/00 文献下载
摘要：本申请公开了一种图像校正的方法及装置，能够对目标显示屏在拍摄时由于观察视角不同造成图像中出现的不均匀进行校正，其中，方法包括：获取目标图像，所述目标图像由第一目标光学系统对第一目标LCD显示屏拍摄所得；确定所述目标图像所对应的第一灰阶；通过所述第一灰阶在目标校正系数模型中确定对应的目标校正参数，所述目标校正系数模型为根据获取若干个样本训练图像的灰阶与最优校正系数所训练得到的模型，通过所述目标校正系数模型，可以得到不同画面不同灰阶所对应的校正参数；将所述目标校正参数带入预设校正模型进行校正得到目标校正图像。
一种图像校正方法装置

[发明专利]设计和制造光学微影掩膜的方法及系统-CN201410369382.5有效
发明人： P·维尔马;T·P·卢坎 -专利权人：格罗方德半导体公司
申请日： 2014-07-30 - 公布日： 2017-07-04 - 主分类号： H01L21/027 文献下载
摘要：本发明涉及设计和制造光学微影掩膜的方法及系统，提供一种设计光学光罩的方法，该方法包括设置目标图案；以光学邻近校正(OPC)模型校正该目标图案；调整该目标图案及/或该光学邻近校正模型；以及校正第一校正图案校正该目标图案包括使用光学邻近校正(OPC)模型以产生包含边缘位置误差(EPE)信息、第一校正图案及/或该预图案化开口的模拟轮廓的光学邻近校正输出信息。调整该目标图案及/或该光学邻近校正模型包括以基于该光学邻近校正输出信息的在光学邻近校正的基础上的调整。校正该第一校正图案包括回应以该光学邻近校正为基础的调整而使用该光学邻近校正模型来产生第二校正图案。
设计制造光学微影掩膜方法系统

[发明专利]图像校正标定方法、装置、计算机设备和存储介质-CN201910865916.6有效
发明人：刘钦 -专利权人：北京迈格威科技有限公司;南京旷云科技有限公司
申请日： 2019-09-09 - 公布日： 2023-04-18 - 主分类号： G06T5/00 文献下载
摘要：本申请涉及一种图像校正标定方法、装置和计算机设备。包括：基于多个球体构建标定场景；获取待标定摄像头拍摄的包含标定场景的待处理图像；基于保形校正模型对待处理图像进行保形校正；根据保形校正后的待处理图像的圆形度值，调整保形校正模型的保形校正参数；返回基于保形校正模型对待处理图像进行保形校正的步骤，循环执行，直到圆形度值满足预设条件，则将当前保形校正参数作为保形校正模型的标定结果。使得采用经保形校正参数校正的图像能解决图像拉伸的问题。
图像校正标定方法装置计算机设备存储介质

[发明专利]温度校正信息计算装置及方法、半导体制造装置、程序-CN202210598634.6在审
发明人：渡边达也;竹永裕一 -专利权人：东京毅力科创株式会社
申请日： 2022-05-30 - 公布日： 2022-12-09 - 主分类号： G05D23/22 文献下载
摘要：本发明提供温度校正信息计算装置、半导体制造装置、程序和温度校正信息计算方法。半导体制造装置通过以根据在内壁累积的累积膜厚而校正了的设定温度对被处理体进行热处理来进行成膜，温度校正信息计算装置包括：模型存储部，其存储用于生成将累积膜厚与温度校正值相关联的温度校正信息的模型；学习判断部，其在获得了热处理的成膜结果的情况下，判断是否进行模型的更新；模型学习部，其在学习判断部判断为进行模型的更新的情况下，基于对被处理体的成膜结果来更新模型；和温度校正信息生成部，其使用模型学习部所更新了的模型来生成温度校正信息，并根据温度校正信息校正设定温度。
温度校正信息计算装置方法半导体制造程序

[发明专利]一种图像伪影校正方法和系统-CN201910319178.5在审
发明人：苏彬;刘炎炎 -专利权人：上海联影医疗科技有限公司
申请日： 2019-04-19 - 公布日： 2019-07-26 - 主分类号： G06T11/00 文献下载
摘要：本申请涉及一种图像伪影校正方法，该方法包括：获取初始图像；用机器学习模型处理所述初始图像，得到所述初始图像的伪影校正信息；至少根据所述初始图像的伪影校正信息确定所述初始图像对应的伪影校正后的图像；其中，所述机器学习模型包括第一子模型和第二子模型；所述第一子模型用于生成第一类伪影校正信息；所述第二子模型用于生成第二类伪影校正信息。
初始图像伪影校正子模型机器学习模型图像伪影校正信息确定图像申请

[发明专利]建立光学邻近校正模型的方法及光学邻近校正的方法-CN202111034437.3在审
发明人：李其衡;粟雅娟;董立松;张利斌;陈睿;苏晓菁 -专利权人：中国科学院微电子研究所;真芯（北京）半导体有限责任公司
申请日： 2021-09-03 - 公布日： 2023-03-07 - 主分类号： G03F7/20 文献下载
摘要：本申请公开了一种建立光学邻近校正模型的方法及光学邻近校正的方法。该建立光学邻近校正模型的方法，包括：针对设计好的各图案，根据各图案之间的密切系数来划分图案组；分别为划分好的每个图案组建立相匹配的光学邻近校正模型；其中，密切系数包括图案形状异同、图案密度、图案与自身周围图案的距离以及图案功能异同中的至少一个参数本公开的建立光学邻近校正模型的方法，根据各图案之间的密切系数来划分图案组，分别为划分好的每个图案组建立相匹配的光学邻近校正模型，大大提高了各图案组所对应的光学邻近校正模型的匹配度，从而能够实现在利用各光学邻近校正模型对相匹配的图案组进行图案模型化时降低图案模型化时产生的误差和不良率
建立光学邻近校正模型方法

[发明专利]基于波段筛选的光谱加权集成校正模型的构建方法及系统-CN201811541152.7在审
发明人：于绍慧 -专利权人：合肥师范学院
申请日： 2018-12-17 - 公布日： 2019-04-19 - 主分类号： G06T5/00 文献下载
摘要：本发明涉及光谱分析中的多元校正领域，具体为一种基于波段筛选的光谱加权集成校正模型的构建方法及系统，其中基于波段筛选的光谱加权集成校正模型的构建方法，包括：红外光谱波长聚类；对聚类后的红外光谱波长剪枝；根据剪枝后的红外光谱波长构建综合加权系数；根据综合加权系数构建加权集成校正模型；以及通过加权集成校正模型得到预测含量矩阵。实现了加强加权集成校正模型稳定性。
加权集成校正模型构建红外光谱波长波段光谱加权系数筛选剪枝聚类多元校正光谱分析含量矩阵预测

[发明专利]机载微波光子SAR全孔径自聚焦方法-CN202310236372.3有效
发明人：陈溅来;朱钰灿;李萌亮;梁步阁;杨德贵;戴健 -专利权人：中南大学
申请日： 2023-03-13 - 公布日： 2023-09-19 - 主分类号： G01S7/40 文献下载
摘要：本发明公开了一种机载微波光子SAR全孔径自聚焦方法，包括获取原始雷达数据信息；构建距离空变误差模型和方位空变误差‑距离方位耦合误差模型；构建距离空变误差模型的校正模型和方位空变误差‑距离方位耦合误差模型的校正模型；求解构建的校正模型的模型参数；完成机载微波光子SAR的运动误差校正。本发明大幅提升了方位场景的整体校正和聚焦质量，并且进一步使得RS处理随距离变化，有效校正了距离方位耦合误差，大幅提升了整个大场景的校正质量和聚焦质量；而且本发明的可靠性高、精确性好且复杂度相对较低。
机载微波光子 sar 孔径自聚焦方法

[发明专利]畸变校正方法和装置、计算机可读的存储介质及电子装置-CN201910834103.0在审
发明人：景逸飞;唐大闰;江金陵 -专利权人：北京明略软件系统有限公司
申请日： 2019-09-04 - 公布日： 2019-12-13 - 主分类号： G06T5/00 文献下载
摘要：本发明公开了一种畸变校正方法和装置、计算机可读的存储介质及电子装置。其中，该方法包括：获取通过待校正的目标摄像头采集到的目标图像。将目标图像输入与目标摄像头相匹配的畸变校正模型，其中，畸变校正模型为利用多个样本图像进行机器学习后，得到的用于对畸变图像进行校正的神经网络模型。获取畸变校正模型输出的对目标图像进行校正后的校正图像。本发明解决了由于校正的操作较复杂导致校正的效率较低的技术问题。
校正畸变校正模型目标图像目标摄像头神经网络模型方法和装置计算机可读存储介质电子装置机器学习畸变图像畸变校正校正图像样本图像匹配采集输出

[发明专利]基于端边云协同的电熔镁砂需量数字孪生方法及装置-CN202210608043.2在审
发明人：柴天佑;谭文;王维洲 -专利权人：东北大学
申请日： 2022-05-31 - 公布日： 2022-09-06 - 主分类号： G06F30/27 文献下载
摘要：本申请公开了一种基于端边云协同的电熔镁砂需量数字孪生方法及装置，涉及不同批次复杂炉室数字孪生技术领域，通过对需量数字孪生模型中的非线性部分进行校正，实现对动态特性随生产过程变化的工业过程运行指标建模。所述方法包括：生成多炉次群炉功率动态模型；构建多炉次群炉需量数字孪生模型，包括线性模型和非线性动态系统；构建非线性动态系统的离线深度学习模型，构建在线深度学习校正模型和云端深度学习校正模型；获取指定生产过程数据对在线深度学习校正模型和云端深度学习校正模型校正，完成对非线性动态系统的校正；获取非线性动态系统的系统输出和线性模型的模型输出的和值作为目标需量数据，并将目标需量数据发送至展示终端进行展示。
基于端边云协同镁砂数字孪生方法装置

[发明专利]一种白平衡校正方法、装置、设备和存储介质-CN201910760080.3有效
发明人：范庆杰 -专利权人：浙江宇视科技有限公司
申请日： 2019-08-16 - 公布日： 2022-09-16 - 主分类号： H04N9/73 文献下载
摘要：本发明实施例公开了一种白平衡校正方法、装置、设备和存储介质。其中，方法包括：获取预先训练好的光源估计模型；针对任一摄像设备，基于所述光源估计模型构建自适应校正模型，并利用所述摄像设备采集的样本图像训练所述自适应校正模型；基于训练好的所述自适应校正模型对所述摄像设备采集的图像进行白平衡校正本发明实施例基于预先训练好的光源估计模型构建适用于摄像设备的自适应校正模型，实现了在较小训练样本的情况下，使网络方便地移植到不同的设备上，适应性强，并实现白平衡的准确校正。
一种白平衡校正方法装置设备存储介质

[发明专利]模型约束静校正法的校正量计算方法-CN201210296569.8有效
发明人：龙资强;敬龙江;耿春;胡善政;黎书琴;孙伟鹏;邓雁 -专利权人：中国石油集团川庆钻探工程有限公司地球物理勘探公司
申请日： 2012-08-20 - 公布日： 2012-12-26 - 主分类号： G01V1/36 文献下载
摘要：本发明涉及地球物理勘探技术，尤其涉及利用表层模型准确计算静校正量的方法。本发明的模型约束静校正法的校正量计算方法，其特征在于，所述方法包括如下几个步骤：(a)对目标区域建立表层模型；(b)采用模型静校正法计算出表层模型的第一参考校正量；(c)对所述第一参考校正量进行分解，并取得所述第一参考校正量的第一长波长分量；(d)采用非确定性静校正法计算出第二参考校正量；(e)对所述第二参考校正量进行分解以获得所述第二参考校正量的第二长波长分量；(f)从所述第二参考校正量中减去第二长波长分量以获得第二短波长分量；(g)将第一长波长分量和第二短波长分量相加，以获得目标校正量。
模型约束校正计算方法

[发明专利]图像处理方法及系统-CN202210715145.4有效
发明人：万文辉;邸凯昌;刘召芹;彭嫚;王晔昕;刘斌 -专利权人：中国科学院空天信息创新研究院
申请日： 2022-06-23 - 公布日： 2022-11-04 - 主分类号： G06T7/11 文献下载
摘要：提取目标行星的站点图像中各个立体像对的天际线，并根据天际线对各立体像对进行区域分割；确定与站点图像中任一立体像对中的任一图像的目标点匹配的同名点；根据同名点在组成立体像对的图像中的像点位置所属区域以及预设校正模型，构建校正方程；确定预设校正模型的系数，并根据系数以及预设校正模型，确定目标校正模型；将待校正站点图像输入至目标校正模型，对待校正站点图像进行校正。本发明通过图像中天际线的自动提取，自动对图像进行区域分割，有效满足了目标行星站点图像不同区域校正的需求，相比不分区域的整体校正，自适应针对图像中不同区域进行相对辐射校正，获得更为精准的校正效果。
图像处理方法系统