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[发明专利]基于FDTD的材料微观缺陷太赫兹无损检测仿真方法-CN201911410910.6有效
发明人：张丹丹;周桐宇;任姣姣;顾健;李丽娟;张霁旸;熊伟华;牟达;钟一帆 -专利权人：长春理工大学
申请日： 2019-12-31 - 公布日： 2022-10-21 - 主分类号： G01N21/88 文献下载
摘要：本发明公开了一种基于FDTD的材料微观缺陷太赫兹无损检测仿真方法，解决在太赫兹波段检测时微观缺陷无法被精确的识别，以及在针对微观缺陷检测时没有准确的微观缺陷模型的时序特征波形对照标准的问题。包括以下步骤：获取实际检测的太赫兹光源并对太赫兹光源进行信号处理；对于色散介质及非色散介质光学参数的优化拟合；建立多参数微观缺陷仿真模型样本库，对微观缺陷进行电磁场仿真，构建多参数特征波形；太赫兹波段检测微观缺陷仿真模型进行反演，判定微观缺陷的存在情况，进而完成标定微观缺陷的微观厚度。
基于 fdtd 材料微观缺陷赫兹无损检测仿真方法

[发明专利]微观缺陷检测装置及其控制方法、显微镜-CN201610580102.4有效
发明人：王鹏;刘勋 -专利权人：京东方科技集团股份有限公司;北京京东方显示技术有限公司
申请日： 2016-07-21 - 公布日： 2019-04-12 - 主分类号： G01N21/88 文献下载
摘要：本发明公开了一种微观缺陷检测装置及其控制方法、显微镜，属于显示技术领域。所述微观缺陷检测装置包括：检测组件和标记组件，所述检测组件和所述标记组件均设置在显微镜上，所述检测组件用于检测被测对象上存在微观缺陷的第一区域；所述标记组件用于在所述检测组件检测到所述第一区域后，采用第一标记印章标记所述第一区域中的微观缺陷本发明解决了现有技术中微观缺陷检测装置的功能较单一的问题，实现了丰富了微观缺陷检测装置的功能的效果，用于检测微观缺陷。
微观缺陷检测装置及其控制方法显微镜

[发明专利]微观缺陷检测装置及检测方法、显微镜-CN201710329998.3在审
发明人：刘铁男;王跃林;王彦明;孟维欣;方业周;徐敬义;赵艳艳;任艳伟 -专利权人：京东方科技集团股份有限公司;鄂尔多斯市源盛光电有限责任公司
申请日： 2017-05-11 - 公布日： 2018-11-23 - 主分类号： G01N21/88 文献下载
摘要：本发明提供一种微观缺陷检测装置及检测方法、显微镜，属于显示技术领域，其可解决现有的微观缺陷件标记不精准的问题。本发明的微观缺陷检测装置，包括：检测组件、标记组件、转换组件；其中，所述检测组件和所述标记组件均设置在所述转换组件上；所述转换组件与显微镜连接；所述检测组件，具有第一视区，用于检测显示面板上存在微观缺陷的位置；所述转换组件，用于在所述检测组件检测出存在微观缺陷的位置，将所述标记组件旋转至存在微观缺陷的第一视区；所述标记组件，具有第二视区，用于在所述存在微观缺陷的位置的第一视区中确定出存在所述微观缺陷的位置，
微观缺陷视区标记组件检测组件转换组件检测装置显微镜检测显示面板

[实用新型]微观缺陷检测装置及显微镜-CN201720521276.3有效
发明人：刘铁男;王跃林;王彦明;孟维欣;方业周;徐敬义;赵艳艳;任艳伟 -专利权人：京东方科技集团股份有限公司;鄂尔多斯市源盛光电有限责任公司
申请日： 2017-05-11 - 公布日： 2017-12-05 - 主分类号： G01N21/88 文献下载
摘要：本实用新型提供一种微观缺陷检测装置及显微镜，属于显示技术领域，其可解决现有的微观缺陷件标记不精准的问题。本实用新型的微观缺陷检测装置，包括检测组件、标记组件、转换组件；其中，所述检测组件和所述标记组件均设置在所述转换组件上；所述转换组件与显微镜连接；所述检测组件，具有第一视区，用于检测显示面板上存在微观缺陷的位置；所述转换组件，用于在所述检测组件检测出存在微观缺陷的位置，将所述标记组件旋转至存在微观缺陷的第一视区；所述标记组件，具有第二视区，用于在所述存在微观缺陷的位置的第一视区中确定出存在所述微观缺陷的位置，
微观缺陷检测装置显微镜

[发明专利]一种金属轴承微观组织缺陷无创修复方法-CN202011155154.X有效
发明人：华林;孙倩;吴敏;洪峰 -专利权人：武汉理工大学
申请日： 2020-10-26 - 公布日： 2022-05-06 - 主分类号： C21D10/00 文献下载
摘要：本发明公开了一种金属轴承微观组织缺陷无创修复方法，属于金属锻坯件制造改性技术领域，该方法主要作用对象为轴承的环锻件，通过扫查装置对微观组织缺陷进行精准、重复定位，结合相控阵超声检测仪采集到的微观组织缺陷定位数据及显示的探伤结果分析，采用Open GL开放图形库工具重建微观组织缺陷位置3D模型，并利用有限元模型对重建的微观组织缺陷进行计算分析，确定的具体作用区域及作用参数，达到轴承锻坯微观组织缺陷无创修复的目的。
一种金属轴承微观组织缺陷修复方法

[发明专利]一种铸件疲劳寿命有限元预测方法及系统-CN201910255895.6在审
发明人：段永川;姚丹;李慕禹;官英平;杨柳;胡金华 -专利权人：燕山大学
申请日： 2019-04-01 - 公布日： 2019-07-09 - 主分类号： G06F17/50 文献下载
摘要：本发明公开了一种铸件疲劳寿命有限元预测方法及系统，所述预测方法，首先，建立铸件的铸造过程模型，并对所述铸造过程模型施加充型压力、充型温度、模具温度和传热系数，模拟铸造过程，获取微观缺陷数据；然后，采用网格数据传递算法将所述微观缺陷数据映射到所述有限元模型上，建立包含微观缺陷的有限元模型和包含微观缺陷的SN曲线；最后，利用包含微观缺陷的有限元模型施加载荷，进行有限元模拟，并根据包含微观缺陷的SN曲线对铸件的疲劳寿命进行预测。本发明在采用宏观的平均应力的疲劳寿命预测过程中，考虑了缩孔、二次枝晶等微观缺陷的影响，提高了铸件疲劳寿命预测的准确性。
微观缺陷铸件疲劳寿命铸造过程元模型疲劳寿命预测预测充型压力传热系数二次枝晶施加载荷数据映射网格数据充型算法缩孔模具施加传递宏观

[发明专利]高速重轨“黑线”类缺陷类型识别及深度的微观分析方法-CN201810924942.7在审
发明人：陶勇;张昌强;刘善青;罗海灵;杨国义;叶佳林;王潇;刘凯 -专利权人：武汉钢铁有限公司
申请日： 2018-08-14 - 公布日： 2019-01-04 - 主分类号： G01N21/88 文献下载
摘要：本发明公开了一种高速重轨“黑线”类缺陷类型识别及深度的微观分析方法，属于轨道生产制造技术领域。该方法通过对高速重轨“黑线”类缺陷部位进行取样，并按照GB/T13298‑2015标准进行金相试样制备，对制备好的金相试样开展微观检验分析,具体的包括未腐蚀状态下的微观缺陷形貌和深度分析，腐蚀状态下的微观缺陷形貌和深度分析及扫描电镜下的微观缺陷形貌和深度分析，并结合数字图像处理技术统计得出几类缺陷的微观形貌特征、缺陷深度数据和缺陷类型，从源头上采取针对性的措施对钢板的质量进行改进和控制，不断提高高速重轨的质量以确保高速铁路的安全。
重轨形貌黑线深度分析微观缺陷缺陷类型识别金相试样微观分析制备数字图像处理技术腐蚀缺陷部位缺陷类型扫描电镜深度数据微观检验微观形貌高速铁路取样钢板轨道源头制造改进统计分析安全生产

[发明专利]一种用于材料微观缺陷全域高通量观测表征方法及系统-CN202210593197.9在审
发明人：任群;方志刚;曹京宜;王海舟;张文宇;臧勃林;殷文昌;沈学静;赵雷 -专利权人：钢研纳克检测技术股份有限公司;中国人民解放军92228部队
申请日： 2022-05-27 - 公布日： 2022-08-19 - 主分类号： G01N21/88 文献下载
摘要：本发明公开了一种用于材料微观缺陷全域高通量观测表征方法及系统，包括：对材料取样切割，并进行研磨抛光处理，获得试样；视具体情况对试样待测面进行定位标记，采集全域高通量高精度的三维形貌高度信息；根据定位标记，提取试样无缺陷典型区域三维形貌高度信息，以及提取试样的含缺陷区域的三维形貌高度信息；基于无缺陷区域和含缺陷区域三维高度信息，对结果进行滤波分析，获得无缺陷区域三维高度信息滤波分析后第一分布规律以及含缺陷区域三维高度信息滤波分析后第二分布规律，获取试样的微观缺陷的相对高度信息及影响，生成用于表征微观缺陷的相对高度范围，并对微观缺陷进行原位分布分析表征；本发明针对空腔类型微观缺陷(孔洞、裂纹等)三维高度信息凹陷特征，进行高精度检测、筛查、解析，实现空腔类型微观缺陷全域高通量快速检测。
一种用于材料微观缺陷全域通量观测表征方法系统

[发明专利]一种盆式绝缘子微观缺陷判断方法-CN201410735099.X在审
发明人：党镇平;施毅舟;李西育;王贝 -专利权人：中国西电电气股份有限公司;西安高压电器研究院有限责任公司
申请日： 2014-12-04 - 公布日： 2015-03-25 - 主分类号： G01N29/14 文献下载
摘要：本发明提供了一种盆式绝缘子微观缺陷判断方法，用于判断气体绝缘电器用盆式绝缘子的微观缺陷，以筛选不合格的产品以及优化产品设计。所述盆式绝缘子微观缺陷判断方法，其特征在于，在进行盆式绝缘子水压破坏试验或耐受试验时，观察分析试验过程中的声发射信号，若盆式绝缘子被施加负荷在小于70％破坏负荷的时间段内出现了明显的大量的声发射事件，则说明盆式绝缘子存在微观缺陷，反之，则说明盆式绝缘子不存在微观缺陷。
一种绝缘子微观缺陷判断方法

[发明专利]辐照缺陷对Zr-Nb合金微观力学影响的模拟方法及相关产品-CN202211293615.9在审
发明人：潘荣剑;吴璐;信天缘;伍晓勇;王青青;覃检涛;赵民;孔祥刚;马聪;滕常青;张伟;方忠强;毛建军;宋小蓉;莫华均 -专利权人：中国核动力研究设计院
申请日： 2022-10-21 - 公布日： 2023-01-17 - 主分类号： G16C10/00 文献下载
摘要：本发明公开了辐照缺陷对Zr‑Nb合金微观力学影响的模拟方法及相关产品，模拟方法包括以下步骤：S1、获取含典型辐照缺陷的Zr‑Nb合金，并基于经典分子动力学获得含典型辐照缺陷的Zr‑Nb合金稳定构型；S2、对步骤S1获取的稳定构型进行模拟纳米压痕实验过程的微观力学性能计算，获得每个体系的微观力学性能；S3、基于步骤S2获得的微观力学性能，结合体系内部发生组织变化的动力学信息，建立微观力学性能与显微组织的对应关系本发明通过该模拟方法能够建立微观力学性能与显微组织的对应关系，助于揭示辐照缺陷对其微观力学性能的影响。
辐照缺陷 zr nb 合金微观力学影响模拟方法相关产品

[发明专利]一种微观元件外观缺陷的检测装置及检测方法-CN201910592894.0在审
发明人：姜宏振;李艺;刘旭;刘勇;贺思敏;于德强;于劭洁;郑芳兰;柴立群 -专利权人：中国工程物理研究院激光聚变研究中心
申请日： 2019-07-02 - 公布日： 2019-12-06 - 主分类号： G01N21/88 文献下载
摘要：本发明公开了一种微观元件外观缺陷的检测装置，包括：二自由度微动平台，用于装载、调整待测微观元件；图像采集装置，其用于拍摄待测微观元件并获得待测微观元件的表面图像；图像数据处理与运动控制单元，用于获取、分析表面图像以及确定待测微观元件表面是否具有外观缺陷本发明还公开了一种微观元件外观缺陷检测方法。本发明解决了现有技术中使用高倍镜检测微观元件外观缺陷时难以快速定位微观元件中心的问题。
微观元件图像采集装置外观缺陷架体表面图像二自由度工业相机图像数据处理外观缺陷检测运动控制单元大数值孔径镜头转换器宽视场镜头检测装置快速定位微动平台照明单元转动连接拍摄低倍率高倍镜高倍率微动台工位装载镜头检测分析

[发明专利]一种微观晶圆表面缺陷图像检测方法-CN201810477639.7在审
发明人：赵昕玥;张树有;何再兴;刘明明;王宏远;谭建荣 -专利权人：浙江大学
申请日： 2018-05-18 - 公布日： 2018-11-06 - 主分类号： G06T7/00 文献下载
摘要：本发明公开了一种微观晶圆表面缺陷图像检测方法。由已标记缺陷类型及其标定包围盒的微观晶圆原始图像构建训练集；由训练集利用更快速区域卷积神经网络方法和区域建议网络结合进行模型训练，得到最终模型；采集工业生产中拍摄的微观晶圆图像，并用最终模型进行检测得到图像中缺陷的位置本发明方法可以很好地对微观晶圆表面缺陷进行识别和定位，并且识别的效率也有了很大提高。
微观晶圆表面缺陷图像最终模型训练集检测卷积神经网络标记缺陷晶圆图像快速区域模型训练网络结合原始图像包围盒标定构建晶圆并用采集图像拍摄

[发明专利]基于高时空分辨率热像的熔丝成型微观缺陷在线预测方法-CN202310695991.9在审
发明人：杨杰;何玥;黎静;张祺;高霞;赵永廷;孙小勇 -专利权人：中国科学院重庆绿色智能技术研究院
申请日： 2023-06-13 - 公布日： 2023-09-12 - 主分类号： G06F30/20 文献下载
摘要：本发明提供一种基于高时空分辨率热像的熔丝成型微观缺陷在线预测方法，包括：通过获取微观缺陷关键参数线性变化时的高时空分辨率丝间热像，并采用多空间尺度检索与时间尺度归一的数字图像处理方法，建立丝间温度特征与微观缺陷线性关联的模板数据库；获取合格件熔丝成型全过程的高时空分辨率丝间热像，提取合格件丝间温度特征的约束阈值；检测得到待测件成型全过程的丝间温度特征变化，对比约束阈值和模板数据库中的丝间温度特征，预测得到待测件的微观缺陷位置和缺陷大小本发明能够实现对待测件熔丝成型微米级微观缺陷的实时在线监测，提高了缺陷检测的精度，采用非接触式的高效处理模式进行全覆盖监测，缩短产品加工周期的同时节省成本。
基于时空分辨率成型微观缺陷在线预测方法

[实用新型]晶圆缺陷目检装置-CN201020130281.X有效
发明人：蔡金玉;王承惠;苏旸;俞洁妮 -专利权人：中芯国际集成电路制造(上海)有限公司
申请日： 2010-03-12 - 公布日： 2010-12-15 - 主分类号： G01N21/892 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种晶圆缺陷目检装置，其包括宏观目检机构和微观目检机构，所述晶圆通过传送机构分别送到宏观目检机构和微观目检机构进行检查，其特征在于，所述宏观目检机构的平台上设有用于检测晶圆的微观结构的光学元件本实用新型晶圆缺陷目检装置，通过设置在宏观目检机构的平台上的光学元件，检测人员可以观察到晶圆的环状缺陷、圈状缺陷以及边缘缺陷，从而弥补了现有的晶圆缺陷目检装置的微观目检机构无法检测上述缺陷的不足，因而，
缺陷装置

[发明专利]一种紫外光学元件加工表面微观光伤点缺陷检测方法-CN202111621697.0有效
发明人：程健;杨丁槐;陈明君;赵林杰;刘赫男;王振华;王景贺;刘志超;王健;许乔 -专利权人：哈尔滨工业大学
申请日： 2021-12-28 - 公布日： 2023-08-18 - 主分类号： G01N21/64 文献下载
摘要：一种紫外光学元件加工表面微观光伤点缺陷检测方法，它属于工程光学领域。本发明为解决现有技术中缺乏有效的微观光伤点缺陷精确辨识与检测方法的问题，本发明包括如下步骤：步骤一、确定元件加工表面尺寸最大的表面结构缺陷并完成定位；步骤二、获取步骤一定位的缺陷受不同波长激发光作用下产生的荧光发射光谱峰值强度，确定峰值强度最高的激发光波长为最佳激发光波长；步骤三、确定最佳缺陷位置；步骤四、对最佳缺陷位置受激发产生的荧光发射光谱进行高斯谱线拟合分析，确定微观光伤点缺陷的种类和权重大小；步骤五、建立元件加工表面缺陷区微观光伤点缺陷之间的演变规律及对步骤四的结果进行验证
一种紫外光学元件加工表面微观点缺陷检测方法

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