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[发明专利]基于层叠相干衍射成像的大口径光学元件面形检测方法-CN202110640411.7有效
发明人：刘勇;刘旭;李东;陈竹;石振东;马骅;巴荣声;姜宏振;何宇航;任寰;柴立群;朱启华 -专利权人：中国工程物理研究院激光聚变研究中心
申请日： 2021-06-09 - 公布日： 2021-09-07 - 主分类号： G01B11/24 文献下载
摘要：本发明公开了一种基于层叠相干衍射成像的大口径光学元件面形检测方法，涉及光学检测及数字图像处理技术领域，解决现有层叠相干衍射成像技术中测量视场小的技术问题，实现大口径光学元件的面形测量，包括如下步骤：将待测元件移至初始子孔径扫描位置并进行对准；用相机采集衍射光斑；将待测元件平移至下一子孔径扫描位置并采集衍射光斑，相邻子孔径扫描位置子孔径需有一定的重叠区域；直至扫描子孔径光斑覆盖光学元件待测区域；对采集到的系列衍射图像进行处理，采用层叠相干衍射成像迭代算法，恢复出待测元件面形分布；本发明用于大口径光学元件面形检测,具有测量口径大、光路简单、成本低廉的优点。
基于层叠相干衍射成像口径光学元件检测方法

[发明专利]微型大视场超分辨显微成像装置-CN202011118196.6在审
发明人：白金玺;马骅;张霖;石振东;刘丽佳;马可;任寰;柴立群;姜宏振;杨一 -专利权人：中国工程物理研究院激光聚变研究中心
申请日： 2020-10-19 - 公布日： 2021-01-05 - 主分类号： G01N21/88 文献下载
摘要：一种用于光学元件亚表面缺陷检测的微型大视场超分辨显微成像装置，包括光纤激光器、单模保偏光纤、偏振控制器、1×4MEMS光开关、两个1×2光纤耦合器、5个光纤准直头、大视场显微物镜、成像透镜、科学相机、工作台和精密位移平台，本发明在实现超分辨显微成像的过程中，将极大地缩小装置的体积，且最大程度的提升超分辨检测系统的分辨率和检测效率，同时具备优良的可移植性，可方便地嵌入到被检系统中。
微型视场分辨显微成像装置

[发明专利]一种激光光学元件使用寿命加速测试和预计方法-CN201810052233.4有效
发明人：巴荣声;李杰;丁磊;周信达;郑垠波;徐宏磊;陈波;李文洪;姜宏振;刘勇;李东;刘旭;张霖;杨一;郑芳兰;于德强;马可;石振东;马骅;任寰;张保汉;景峰 -专利权人：中国工程物理研究院激光聚变研究中心
申请日： 2018-01-19 - 公布日： 2020-10-23 - 主分类号： G01M11/02 文献下载
摘要：本发明公开了一种激光光学元件使用寿命加速测试和预计方法，旨在解决现有技术中无法获取大口径光学元件在任意通量照射下使用寿命的问题；本发明包括：以发次或时间为自变量，以对应的寿命概率为因变量拟合获得大口径光学元件特定激光参数下的寿命概率函数；改变设定参数的照射激光的辐照通量获得不同辐照通量下的大口径光学元件寿命概率曲线，对函数进行数据拟合获得特定寿命概率下的寿命通量函数；本发明可以对激光光学元件使用寿命进行加速测试，缩短测试时间，应用本发明测试结果可以获得特定通量下的大口径光学元件使用寿命，应用经典可靠性理论对激光系统中的激光大口径光学元件进行可靠性分析与预计；本发明适用于大口径光学器件寿命测试领域。
一种激光光学元件使用寿命加速测试预计方法

[发明专利]基于图像互相关匹配的电光晶体光轴出露点提取方法-CN201610786512.4有效
发明人：李东;姜宏振;刘勇;刘旭;郑芳兰;张霖;巴荣声;杨一;陈波;杨晓瑜;柴立群 -专利权人：中国工程物理研究院激光聚变研究中心
申请日： 2016-08-31 - 公布日： 2020-04-17 - 主分类号： G06K9/46 文献下载
摘要：本发明公开了一种基于图像互相关匹配的电光晶体光轴出露点提取方法，属于光学精密检测技术领域，解决利用偏光干涉图确定电光晶体的光轴方向方法中光轴出露点的提取精度差的问题。本发明具体如下：获得偏光干涉图I，模拟得到合适的初始特征模板T0；对初始特征模板T0进行几何变换，获得不同大小不同旋转角度下的一系列特征模板图像Tmn；将特征模板Tmn分别和偏光干涉图I进行图像互相关匹配运算，用相关系数rmn(x,y)定量特征模板Tmn和偏光干涉图I的相关程度，经过图像互相关匹配运算，得到在特征模板Tmn下的最大相关系数rmn‑max和最大相关系数的位置坐标(xmn,ymn)；并选取最大相关系数rmn‑max中的最大值rmax的位置坐标(xmax,ymax)作为光轴出露点的位置坐标。
基于图像互相匹配电光晶体光轴露点提取方法

[发明专利]一种微观元件外观缺陷的检测装置及检测方法-CN201910592894.0在审
发明人： 姜宏振;李艺;刘旭;刘勇;贺思敏;于德强;于劭洁;郑芳兰;柴立群 -专利权人：中国工程物理研究院激光聚变研究中心
申请日： 2019-07-02 - 公布日： 2019-12-06 - 主分类号： G01N21/88 文献下载
摘要：本发明公开了一种微观元件外观缺陷的检测装置，包括：二自由度微动平台，用于装载、调整待测微观元件；图像采集装置，其用于拍摄待测微观元件并获得待测微观元件的表面图像；图像数据处理与运动控制单元，用于获取、分析表面图像以及确定待测微观元件表面是否具有外观缺陷，和用于控制二自由度微动台和图像采集装置；图像采集装置包括：架体，设于架体上的工业相机、照明单元，以及转动连接于架体上、具有一与工业相机对应的拍摄工位、设有高倍率大数值孔径镜头、以及设有低倍率宽视场镜头的镜头转换器。本发明还公开了一种微观元件外观缺陷检测方法。本发明解决了现有技术中使用高倍镜检测微观元件外观缺陷时难以快速定位微观元件中心的问题。
微观元件图像采集装置外观缺陷架体表面图像二自由度工业相机图像数据处理外观缺陷检测运动控制单元大数值孔径镜头转换器宽视场镜头检测装置快速定位微动平台照明单元转动连接拍摄低倍率高倍镜高倍率微动台工位装载镜头检测分析

[发明专利]基于最小二乘拟合迭代自动提取十字图形中心的方法-CN201610786591.9有效
发明人：刘勇;姜宏振;李东;刘旭;郑芳兰;张霖;巴荣声;杨一;陈波;杨晓瑜;柴立群 -专利权人：中国工程物理研究院激光聚变研究中心
申请日： 2016-08-31 - 公布日： 2019-06-28 - 主分类号： G06T7/66 文献下载
摘要：本发明公开了一种基于最小二乘拟合迭代自动提取十字图形中心的方法，属于数字图像技术领域，解决现有技术中晶体锥光干涉图中的暗十字交叉区域较大，难以精确提取出十字图形中心位置的问题。本发明步骤如下：获取数字图像；将数字图像进行阈值分割或边缘提取，提取出暗十字区域；设置迭代的暗十字区域的初始坐标；以初始坐标为原点，将暗十字区域分割成横向和纵向两部分，对横向和纵向两部分进行加权最小二乘线性拟合，得到两者交点；求交点与初始坐标的距离，并将交点坐标赋值于初始坐标；将距离作为迭代收敛条件，若满足收敛条件则迭代终止，输出初始坐标作为中心坐标，否则重复迭代。本发明用于提取十字图形的中心。
基于最小拟合自动提取十字图形中心方法

[发明专利]透镜的透射率测试系统及方法-CN201610208314.X有效
发明人：马骅;任寰;张霖;杨一;石振东;原泉;马玉荣;陈波;杨晓瑜;柴立群;马可;刘旭;姜宏振;刘勇;李东 -专利权人：中国工程物理研究院激光聚变研究中心
申请日： 2016-04-05 - 公布日： 2019-05-21 - 主分类号： G01M11/02 文献下载
摘要：本发明涉及光学领域，具体提供了一种透镜的透射率测试系统，所述系统包括测试光发生装置、光阑、光阑控制装置、积分球、光谱测试装置以及光谱分析装置，所述测试光发生装置用于提供测试光，所述光阑设置于所述测试光发生装置与所述积分球之间，所述光阑与所述积分球之间用于放置被测透镜，所述积分球的入光孔位于所述被测透镜的焦点位置，所述光阑控制装置用于控制所述光阑的移动以使所述测试光透过所述光阑的通光孔到所述被测透镜预定位置，所述光谱测试装置设置于所述积分球的出光孔方向，用于对所述积分球的输出光进行光谱测试，所述光谱分析装置与所述光谱测试装置电连接，用于对所述光谱测试装置获得的光谱进行光谱分析。
透镜透射率测试系统方法

[发明专利]一种精粗结合的光学表面缺陷的检测方法及装置-CN201510779518.4有效
发明人：陶显;张正涛;姜宏振;徐德;罗家祯;王子昊;张鸿燕;袁伦喜;刘旭 -专利权人：中国科学院自动化研究所;中国工程物理研究院激光聚变研究中心
申请日： 2015-11-13 - 公布日： 2018-09-25 - 主分类号： G06K9/62 文献下载
摘要：本发明公开了一种粗精结合的光学表面缺陷检测方法及装置，本发明涉及光学表面检测领域。本发明是要解决传统的肉眼识别的检测方式效率低下、检测精度有限、自动化水平低的问题，从而提出一种基于图像处理和模式识别技术的光学表面缺陷识别方法。该方法是分为两个步骤，步骤一对输入的原始图像直接利用基于图像建模的方差信息进行快速粗检测，获取异常区域的位置及其区域；步骤二是对区域中疑似缺陷利用基于Gist的模式识别方法进行精检测，最后输出结果。本发明应用于光滑表面的定量损伤检测和污渍分析，检测效率快，精度高。
一种结合光学表面缺陷检测方法装置

[发明专利]KDP晶体针状损伤点几何尺寸分布的测量方法-CN201610414569.1有效
发明人：郑垠波;丁磊;周信达;巴荣声;袁静;徐洪磊;那进;李亚军;姜宏振;张霖;杨晓瑜;柴立群;陈波 -专利权人：中国工程物理研究院激光聚变研究中心
申请日： 2016-06-14 - 公布日： 2018-08-28 - 主分类号： G01N21/88 文献下载
摘要：本发明公开了一种纳秒激光脉冲作用KDP晶体后在其体内形成的针状损伤点几何尺寸分布的测量装置及测量方法，属于KDP晶体技术领域中的KDP晶体体损伤的测量装置及测量方法。通常使用损伤阈值评价包含晶体在内的光学元件的抗损伤性能，但是损伤阈值自身具有概率性且容易受测试条件、测试方法、测试参数和数据处理的影响。本专利使用晶体体内针状损伤点几何尺寸分布作为评价晶体抗损伤性能的评价标准，并提出相应的测试方法和测试装置。这种评价标准及其测试方法可以避免损伤阈值及其测试方法的缺陷。
kdp 晶体针状损伤几何尺寸分布测量装置测量方法

[发明专利]一种激光光学元件寿命检测和寿命概率测试方法及系统-CN201810052262.0在审
发明人：巴荣声;李杰;丁磊;周信达;郑垠波;徐宏磊;陈波;李文洪;姜宏振;刘勇;李东;刘旭;张霖;杨一;郑芳兰;于德强;马可;石振东;马骅;任寰;张保汉;景峰 -专利权人：中国工程物理研究院激光聚变研究中心
申请日： 2018-01-19 - 公布日： 2018-07-17 - 主分类号： G01M11/02 文献下载
摘要：本发明公开了一种激光光学元件寿命检测和寿命概率测试方法及系统，旨在解决现有技术中的大口径光学器件寿命测试由于套用现有寿命测试方法而引起的测试结果置信度低与适用性低的问题，解决传统大口径光学器件损伤特性评价参数无法直接应用于光学系统可靠性评价的问题；本发明使用激光连续辐照通大口径光学器件，直至光学器件发生不可逆损伤，记录累计发次或累计时间；统计不同发次或时间对应的寿命概率；以发次或时间为自变量，对应的寿命概率为因变量，使用威布尔分布对函数进行数据拟合，获得大口径光学器件在特定激光参数作用下的寿命概率函数；获得更可靠的大口径光学器件的使用寿命；本发明适用于测试大口径光学元件的寿命。
光学器件大口径激光光学元件概率测试寿命测试寿命检测自变量损伤大口径光学元件特性评价参数可靠性评价概率函数光学系统激光参数连续辐照使用寿命数据拟合不可逆因变量置信度概率套用激光测试记录应用统计

[发明专利]基于重建像强度方差的数字全息图在焦重建距离判断方法-CN201610242313.7有效
发明人： 姜宏振;刘勇;李东;刘旭;郑芳兰;周信达;杨一;陈竹;张霖;石振东;原泉;马骅;马玉荣;冯晓璇;马可;任寰;李文洪;于德强;巴荣声;郑垠波;袁静;丁磊;陈波;杨晓瑜 -专利权人：中国工程物理研究院激光聚变研究中心
申请日： 2016-04-18 - 公布日： 2018-02-16 - 主分类号： G03H1/22 文献下载
摘要：本发明公开了一种基于重建像强度方差的数字全息图在焦重建距离判断方法，属于光学精密测量技术领域中的数字全息图重建距离的自动化数值判断方法，其目的在于提供一种基于重建像强度方差的数字全息图在焦重建距离判断方法。本发明利用重建像强度的方差与重建像强度的平均值的比值对重建像的清晰程度进行判断、分析，并找到清晰的重建强度像及其所对应的数字全息图准确重建距离，该方法可实现对于数字全息图重建距离的自动化数值判断，提高对重建距离的测量精度及测量效率。
基于重建强度方差数字全息图距离判断方法

[实用新型]一种用于不同厚度光学元件检测夹持装置-CN201620010849.1有效
发明人：郑芳兰;姜宏振;刘勇;李东;刘旭;刘斌;陈竹;陈波;杨晓瑜 -专利权人：中国工程物理研究院激光聚变研究中心
申请日： 2016-01-07 - 公布日： 2017-07-04 - 主分类号： B25B11/00 文献下载
摘要：本实用新型涉及了一种用于不同厚度光学元件检测夹持装置，其特征在于包括带有元件容纳腔的夹块、辅助夹片、螺杆和螺孔，所述元件容纳腔的腔壁上设有螺孔，所述螺杆通过螺孔贯穿元件容纳腔的腔壁，所述螺杆朝向元件容纳腔的一端设有辅助夹片，通过调整螺杆的进退带动辅助夹片的进退，用于实现辅助夹片对待检光学元件的检测夹持；所述夹块底部设有卡槽，所述卡槽用于该元件检测夹持装置的固定。该夹持装置可以对不同厚度光学元件进行快速安全夹持。本实用新型保持了光学元件在运输、储存、转运、检验和表面观察等操作过程中的洁净传递，减小了光学元件表面的二次污染，同时该装置有体积小、结构简单的特点。
一种用于不同厚度光学元件检测夹持装置

[发明专利]电光晶体Z轴偏离角测量装置及测量方法-CN201510515313.5有效
发明人：李东;刘勇;刘旭;姜宏振;张霖;郑芳兰;任寰;杨一;李文洪;石振东;于德强;巴荣声;马骅;原泉;周信达;郑垠波;杨晓瑜;柴立群;陈波 -专利权人：中国工程物理研究院激光聚变研究中心
申请日： 2015-08-21 - 公布日： 2017-06-30 - 主分类号： G01B11/26 文献下载
摘要：本发明公开了一种电光晶体Z轴偏离角测量装置及测量方法，包括按光路依次放置的激光器（101）、显微物镜（102）、针孔（103）、可调光阑（104）、准直透镜（105）、起偏器（106）、反射镜（107）、分束立方体（108）、光屏（109）、透镜一（110）、待测晶体（111）、透镜二（112）、检偏器（113）、成像透镜（114）、探测器（115）和计算机处理系统（116）；其中，起偏器（106）和检偏器（113）偏振方向垂直，透镜一（110）和透镜二（112）严格共轭，分束立方体（108）、反射镜（107）、待测晶体（111）和光屏（109）组成迈克尔逊干涉系统。通过利用迈克尔逊干涉原理实现晶体精密定位，采用图像匹配算法实现光轴出露点中心计算，完成电光晶体Z轴偏离角精密测量。相对于其他装置和方法具有测量精度高、测量方法简单、测量系统误差小和测量重复性好等优点。
电光晶体偏离测量装置测量方法

[实用新型]光能量增强装置-CN201620278447.X有效
发明人：马骅;杨一;马玉荣;任寰;张霖;石振东;原泉;陈波;杨晓瑜;柴立群;马可;刘旭;姜宏振;刘勇;李东 -专利权人：中国工程物理研究院激光聚变研究中心
申请日： 2016-04-05 - 公布日： 2016-10-19 - 主分类号： G02B6/26 文献下载
摘要：本实用新型实施例提供了一种光能量增强装置。包括：光合束器，包括第一入射端口、第二入射端口以及出射端口；光开关，包括输入端口、第一输出端口以及第二输出端口；第一光纤，第一光纤的一端连接所述光合束器的第二入射端口，第一光纤的另一端连接所述光开关的第一输出端口；以及第二光纤，第二光纤的一端连接所述光合束器的出射端口，所述第二光纤的另一端连接所述光开关的输入端口；若所述第二光纤中的光的光能量低于所述光开关的预设切换阈值，所述光开关控制所述第二光纤中的光从第一输出端口输出，若所述第二光纤中的光的光能量大于或等于所述光开关的预设切换阈值，所述光开关控制所述第二光纤中的光从第二输出端口输出。
能量增强装置

[实用新型]透镜的透射率测试系统-CN201620273998.7有效
发明人：马骅;任寰;张霖;杨一;石振东;原泉;马玉荣;陈波;杨晓瑜;柴立群;马可;刘旭;姜宏振;刘勇;李东 -专利权人：中国工程物理研究院激光聚变研究中心
申请日： 2016-04-05 - 公布日： 2016-10-19 - 主分类号： G01M11/02 文献下载
摘要：本实用新型涉及光学领域，具体提供了一种透镜的透射率测试系统，所述系统包括测试光发生装置、光阑、光阑控制装置、积分球、光谱测试装置以及光谱分析装置，所述测试光发生装置用于提供测试光，所述光阑设置于所述测试光发生装置与所述积分球之间，所述光阑与所述积分球之间用于放置被测透镜，所述积分球的入光孔位于所述被测透镜的焦点位置，所述光阑控制装置用于控制所述光阑的移动以使所述测试光透过所述光阑的通光孔到所述被测透镜预定位置，所述光谱测试装置设置于所述积分球的出光孔方向，用于对所述积分球的输出光进行光谱测试，所述光谱分析装置与所述光谱测试装置电连接，用于对所述光谱测试装置获得的光谱进行光谱分析。
透镜透射率测试系统

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