专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]一种基于长短基线干涉测向体制的基线选取方法-CN201710327780.4有效
  • 马家宁;陈泽礼;何成 - 北京遥感设备研究所
  • 2017-05-11 - 2022-02-25 - G06F30/20
  • 本发明公开了一种基于长短基线干涉测向体制的基线选取方法,利用长短基线干涉测角原理结合MATLAB仿真进行长短基线解模糊测角建模和仿真,通过设置不同频率、被测角度等系统参数,分析不同基线尺寸组合下的干涉解模糊能力,给出长短基线测角模型在已知工作频带下的最佳基线尺寸结构配置即在给定系统工作频率范围和测角范围前提下,通过选取恰当的长短基线的尺寸关系,使测向系统拥有最宽的基线相位误差容限,以此提高存在较大相位误差情况下该类型干涉测角无模糊的成功率,改善采用长短基线干涉测向体制的测向系统在实际应用中受系统和环境等因素影响时的测向性能。
  • 一种基于长短基线干涉仪测向体制选取方法
  • [发明专利]一种基于散斑干涉计量的残余应力测试装置-CN201610210813.2有效
  • 刘雪松;闫忠杰;潘海博 - 哈尔滨工业大学
  • 2016-04-07 - 2019-08-09 - G01L1/24
  • 本发明提供了一种基于散斑干涉计量的残余应力测试装置,属于残余应力测试装置技术领域。本发明包括:干涉底座、激光干涉、相机支架、相机连接块、工业CCD相机和三个尖角,所述激光干涉设置在干涉底座的上部,相机支架的下端与激光干涉的上部固定连接,相机支架的上端固定有相机连接块,工业CCD相机设置在相机连接块上;所述干涉底座为一个U形金属板,干涉底座的下端均布有三个尖角,干涉底座的上端均布有三个圆形定位孔,所述激光干涉为一个U型金属框架结构,激光干涉下表面设有三个钢珠且分别与干涉底座上的三个圆形定位孔相接触
  • 一种基于干涉计量残余应力测试装置
  • [发明专利]一种针对光相位解调的校准装置及校准方法-CN201610323555.9有效
  • 张万经;陈小宝;汤钧;刘英明;李洋 - 中国电子科技集团公司第二十三研究所
  • 2016-05-16 - 2018-03-30 - G01D18/00
  • 本发明公开了一种针对光相位解调的校准装置及校准方法,校准装置包括干涉定标系统和光纤干涉系统;所述干涉定标系统包括光源、光电转换器和示波器;所述光纤干涉系统包括干涉和信号发生器;所述干涉的光输入端在定标时用于与光源的光输出口相连接,在校准时用于与待校准的光相位解调的光源端机的输出口相连接;所述干涉的光输出端在定标时与所述光电转换器的光输入口连接,在校准时与待校准的光相位解调的解调端机的输入口连接;所述光电转换器将接收到的光信号转换为电信号后输出至所述示波器本发明达到优于0.2dB的校准不确定度,解决光相位解调的计量问题,使光相位解调作为干涉型光纤传感器的测试仪器得到有效的量值溯源。
  • 一种针对相位解调校准装置方法
  • [发明专利]伸缩传递函数测试系统及其方法-CN201210574746.4无效
  • 周云耀;李正媛;陈志遥;高平;吕永清;吴涛 - 中国地震局地震研究所
  • 2012-12-26 - 2013-04-24 - G01B7/16
  • 本发明公开了一种伸缩传递函数测试系统及其方法,涉及地震观测技术。本系统包括激光干涉干涉镜、反射镜、微位移发生装置、伸缩基线和固定底座;微位移发生装置、固定底座和伸缩基线的支架分别设置在同一水平面的基岩上;反射镜设置在微位移发生装置上;干涉镜和激光干涉分别设置在固定底座上;反射镜与干涉镜设置在同一水平面上;激光干涉的发射光线对准干涉镜的中心。本发明用激光干涉进行测试,精度高,可作为国家长度测量标准;用阶跃响应法测试传递函数,操作方便,测试效率高;适用于各类基线式伸缩
  • 伸缩传递函数测试系统及其方法
  • [实用新型]一种金属薄带厚度的测量装置-CN200420021908.2无效
  • 严惠民;杜艳丽;施柏煊 - 浙江大学
  • 2004-04-12 - 2005-03-09 - G01B11/06
  • 将被测金属薄带放置在两个迈克尔逊干涉之间,被测金属薄带的两个对应表面分别作为每个干涉中的一个反射面;这两个迈克尔逊干涉串联组成差分干涉系统;一个低相干度光源经第一传光系统照射至第一个迈克尔逊干涉,第一个迈克尔逊干涉的输出光经第二传光系统作为光源照射至第二个迈克尔逊干涉,第二个迈克尔逊干涉的输出光经第三传光系统被光电接收器接收,经信号处理器处理得被测薄带的厚度。
  • 一种金属厚度测量装置
  • [发明专利]一种多轴激光干涉光轴空间位置定位系统及定位方法-CN202310044929.3在审
  • 王中强;张峰;管伟;苏瑛;汪志斌 - 西安应用光学研究所
  • 2023-01-30 - 2023-06-27 - G01B9/02055
  • 本发明公开了一种多轴激光干涉光轴空间位置定位系统及定位方法,包括XYZ三轴激光干涉光轴互相垂直装调和XYZ三轴激光干涉光轴空间共交装调;其中光轴互相垂直装调是将转台独立计量框架移入空间坐标系垂直参考镜,依据显示终端显示位移信息和能量信号,依次对转台独立计量框架Z、Y、X轴激光干涉的倾斜调整,直至位移信息为最小时和能量信号为最大;光轴空间共交装调是将标准参考球移到转台独立计量框架上方,依次对转台独立计量框架Z、Y、X轴激光干涉的平移调整,直至位移信息最小和能量信息最大。本发明操作简便、激光干涉空间位姿调整快速,可实现多轴激光干涉光轴在空间位置高精度定位。
  • 一种激光干涉仪光轴空间位置定位系统方法

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