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- [实用新型]一种金属薄带厚度的测量装置-CN200420021908.2无效
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严惠民;杜艳丽;施柏煊
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浙江大学
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2004-04-12
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2005-03-09
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G01B11/06
- 本实用新型公开了一种金属薄带厚度的测量装置。将被测金属薄带放置在两个迈克尔逊干涉仪之间,被测金属薄带的两个对应表面分别作为每个干涉仪中的一个反射面;这两个迈克尔逊干涉仪串联组成差分干涉系统;一个低相干度光源经第一传光系统照射至第一个迈克尔逊干涉仪,第一个迈克尔逊干涉仪的输出光经第二传光系统作为光源照射至第二个迈克尔逊干涉仪,第二个迈克尔逊干涉仪的输出光经第三传光系统被光电接收器接收,经信号处理器处理得被测薄带的厚度。本实用新型这种差分测量方法具有测量灵敏度高,抗振动等优点。适合那些不透明,两面都有较高光学反射率、无基底支撑或透明基底支撑的极薄带材的厚度测量。
- 一种金属厚度测量装置
- [发明专利]一种金属薄带厚度的测量方法及测量装置-CN200410017678.7无效
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严惠民;杜艳丽;施柏煊
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浙江大学
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2004-04-12
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2005-01-12
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G01B11/06
- 本发明公开了一种金属薄带厚度的测量方法及测量装置。将被测金属薄带放置在两个迈克尔逊干涉仪之间,被测金属薄带的两个对应表面分别作为每个干涉仪中的一个反射面;这两个迈克尔逊干涉仪串联组成差分干涉系统;一个低相干度光源经第一传光系统照射至第一个迈克尔逊干涉仪,第一个迈克尔逊干涉仪的输出光经第二传光系统作为光源照射至第二个迈克尔逊干涉仪,第二个迈克尔逊干涉仪的输出光经第三传光系统被光电接收器接收,经信号处理器处理得被测薄带的厚度。本发明这种差分测量方法具有测量灵敏度高,抗振动等优点。适合那些不透明,两面都有较高光学反射率、无基底支撑或透明基底支撑的极薄带材的厚度测量。
- 一种金属厚度测量方法测量装置
- [其他]电度表计测误差监测仪-CN87105792无效
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陈文斌;施柏煊;黄学玻;魏子清
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浙江大学
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1987-08-21
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1989-03-29
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- 电度表计测误差监测仪,含有氦一氖激光器,光束耦合透镜,照明和探测光学纤维,光纤探测光,U形支承杆,光电接收器和信号处理系统。光学纤维传输激光照明电度表并传输电度表的散射光至光电接收器,因而减少了背景光和外界电磁干扰,光纤探测头的体积很小,便于安装多只探测头于同一根U形支承杆上,能同时监测多只电度表。是一种检测精度高,操作方便,能同时检测多只电度表的监测装置。
- 电度表误差监测
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