专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [实用新型]一种光程倍增的激光干涉用检定装置-CN202021247831.6有效
  • 刘红光 - 天津市计量监督检测科学研究院
  • 2020-07-01 - 2021-03-16 - G01B9/02
  • 本实用新型属于几何测量装置检定装置技术领域,涉及一种激光干涉检定装置,尤其是一种光程倍增的激光干涉用检定装置,包括一个干涉镜,移动反射镜和标准激光干涉,在移动反射镜的反射侧固定安装有一增程反射镜,增程反射镜接收移动反射镜反射的激光束,并将激光束再次反射至移动反射镜表面,由移动反射镜二次反射的激光束最终经干涉镜反射至激光干涉的接收侧;在所述干涉镜分光一侧的位置固定有待检的激光干涉干涉镜的对侧与待检激光干涉对称的位置安装有固定反射镜,其中标准激光干涉,待检激光干涉和固定反射镜与干涉镜的镜面等距设置,由待检的激光干涉出射的激光束与标准激光干涉出射的激光束共光路形成叠加光束。
  • 一种光程倍增激光干涉仪检定装置
  • [发明专利]波分复用器-CN202310056462.4在审
  • 霍昱洁;付鑫;杨林 - 中国科学院半导体研究所
  • 2023-01-19 - 2023-05-09 - H04J14/02
  • 本公开提供一种波分复用器,包括:输入光波导,用于输入待处理的包含多个波长的光信号;马赫曾德尔干涉模块,包括:第一马赫曾德尔干涉,第二马赫曾德尔干涉,输入端口与第一马赫曾德尔干涉的第一输出端口连接;以及第三马赫曾德尔干涉,输入端口与第一马赫曾德尔干涉的第二输出端口连接;输出波导模块,包括多个输出光波导;其中,第一马赫曾德尔干涉、第二马赫曾德尔干涉及第三马赫曾德尔干涉均包括第一多模波导和第二多模波导,第一多模波导的长度大于第二多模波导的长度,马赫曾德尔干涉模块为二级滤波器级联结构以使包含多个波长的光信号发生干涉进而分别从多个输出光波导输出,以实现波分复用。
  • 波分复用器
  • [发明专利]干涉设备及其运行方法-CN200880117054.9有效
  • W·霍尔扎普费尔 - 约翰尼斯海登海恩博士股份有限公司
  • 2008-10-01 - 2010-10-20 - G01B9/02
  • 本发明涉及干涉设备及其运行方法。干涉设备包括具有干涉光源的干涉干涉光源发出的辐射可分配到测量臂和参考臂中,其中测量对象被布置在测量臂中并且干涉提供依赖于测量对象位置的干涉信号。干涉设备还包括检测装置,用于检测测量臂和/或参考臂中的空气的折射率的波动。在此,检测装置包括光谱单元;光谱单元具有至少一个光谱光源以及至少一个光谱探测器单元。由光谱光源发出的射束与干涉光源的射束相叠加,其中光谱光源发出具有如下波长的辐射:该波长处于至少一种确定的空气成分的吸收线范围内。光谱探测器单元用于生成光谱信号,光谱信号表征空气成分在测量臂和/或参考臂中关于光谱光源波长的吸收。
  • 干涉仪设备及其运行方法
  • [发明专利]用于多信道全光信号处理的单片集成芯片及其处理方法-CN202210776703.8在审
  • 黄祝阳;孙维忠 - 厦门市三安集成电路有限公司
  • 2022-07-04 - 2022-11-08 - G02B6/28
  • 本发明公开了一种用于多信道全光信号处理的单片集成芯片及其处理方法,包括通过无源光波导连接的第一半导体光放大器、第一多模干涉、第二半导体光放大器、相位调制器和第二多模干涉;其中,第一多模干涉、第二半导体光放大器、相位调制器和第二多模干涉以及连接的无源光波导形成延时干涉滤波器;用于分波的第一多模干涉和用于合波的第二多模干涉之间的无源光波导形成延时干涉滤波器的上臂,延时干涉滤波器的下臂由相位调制器和第二半导体光放大器组成,相位调制器和第二半导体光放大器串联;延时干涉滤波器上臂和下臂分别与第一多模干涉和第二多模干涉连接。
  • 用于信道信号处理单片集成芯片及其方法
  • [发明专利]集成式形状测量装置-CN201410323081.9在审
  • 尹都永;金兑昱;黄映珉;朴喜载 - SNU精密股份有限公司
  • 2014-07-08 - 2015-03-18 - G01B11/24
  • 其包括:反射干涉单元、透射干涉单元和光探测器。反射干涉单元包括第一光源以及反射干涉。反射干涉将从第一光源发射的光传输到待测物体和参考镜,基于从待测物体反射的光和参考镜的参考光形成干涉条纹。透射干涉单元包括配置为发射单色光的第二光源以及透射干涉。透射干涉将从第二光源发射的光进行分光,使得一部分光能透射通过待测物体而另一部分光不能透射通过待测物体,基于透射通过待测物体的光和未透射通过待测物体的光形成干涉条纹光。探测器被置于待测物体的上方并且探测所述干涉条纹。在该装置中,根据待测物体的透光率而选择性地使用反射干涉单元和透射干涉单元中的一者。
  • 集成形状测量装置
  • [发明专利]一种闭环迭代补偿干涉检测方法、装置和系统-CN202110460304.6在审
  • 薛帅;戴一帆;陈善勇;刘俊峰;翟德德 - 中国人民解放军国防科技大学
  • 2021-04-27 - 2021-07-09 - G01B11/24
  • 一种闭环迭代补偿干涉检测方法、装置和系统,搭建闭环迭代补偿干涉检测装置,设置补偿相位优化子系统其智能优化算法的初始模式像差系数,模式像差系数即智能优化算法的优化变量;根据当前的模式像差系数,控制可变补偿元件产生相应相位,获得像差补偿后对应的干涉图以及干涉图对应的干涉图性能指标,判断相位补偿后的干涉图是否满足可完全被波面干涉解析的要求,若当前像差补偿后对应的干涉图不能满足可完全被波面干涉解析的要求,则更迭更新产生新的优化变量,直到像差补偿后的干涉图能够完全被波面干涉解析,执行检测操作。该方法具备适应光学元件实际加工过程中不同形态超干涉动态范围大面形误差的能力。
  • 一种闭环补偿干涉检测方法装置系统

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