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[发明专利]一种双干涉仪的激光稳频系统-CN201610674239.6有效
发明人：汪凌珂;李唐;刘亮 -专利权人：中国科学院上海光学精密机械研究所
申请日： 2016-08-16 - 公布日： 2018-11-20 - 主分类号： H01S3/13 文献下载
摘要：本发明提供了一种双干涉仪的激光稳频系统，包括激光器、耦合器、第一光纤干涉仪、第二光纤干涉仪、第一光电探测器、第二光电探测器、第一混频器、第二混频器、第一滤波器，第二滤波器、移相器、加法器、频率参考源、频率综合器和反馈电路本发明能够利用时延较大的光纤干涉仪保证锁定激光器近频端良好的噪声特性，同时利用时延较小的光纤干涉仪提供较大锁定带宽，改善激光器远端的噪声特性。
一种干涉仪激光系统

[发明专利]一种基于光纤强倏逝场干涉仪的高灵敏测温解调传感系统-CN202011462545.6有效
发明人：胡文彬;程曙;郭东来;程乘;杨明红 -专利权人：武汉理工大学
申请日： 2020-12-14 - 公布日： 2023-01-13 - 主分类号： G01K11/3206 文献下载
摘要：一种基于光纤强倏逝场干涉仪的高灵敏测温解调传感系统，其包括的光纤分路装置的一端与光源、解调仪均连接，光纤分路装置的另一端与干涉仪的一端相连接，干涉仪的另一端与光反射器件相串联，包层的中部外包裹有热光材料，应用时，光源发出的入射光经过干涉仪产生干涉光谱，热光材料同时增敏，干涉光谱经光反射器件后，干涉光谱中的传感峰会被反射回干涉仪，热光材料再次增敏，增敏后的传感峰再经光纤分路装置发至解调仪，然后由解调仪对反射光谱进行寻峰处理
一种基于光纤强倏逝场干涉仪灵敏测温解调传感系统

[发明专利]一种纳米精度多维光学干涉测量系统及其测量方法-CN202111015157.8在审
发明人：王金玉;杜凯;李俊;熊亮;赵文豪;尹韶云;汪岳峰;胡建明 -专利权人：中国科学院重庆绿色智能技术研究院;重庆师范大学
申请日： 2021-08-31 - 公布日： 2021-10-22 - 主分类号： G01B11/24 文献下载
摘要：一种纳米精度多维光学干涉测量系统及其测量方法，包括硅片台，硅片台用于安置硅片，硅片台的侧面有三轴集成干涉仪、四轴集成干涉仪和两轴集成干涉仪，两轴集成干涉仪到硅片台的距离与四轴集成干涉仪到硅片台的距离相等本发明依据同向冗余布置思路，在传统的六轴激光干涉仪的Y方向上增加一个冗余轴，成为七轴方案，根据反向冗余布置思路，在现有的Y和Z方向的测量轴对于XZ平面镜像位置各布置一个冗余轴，得到九轴冗余测量系统，基于此种拓扑设计的位移解算算法封闭
一种纳米精度多维光学干涉测量系统及其测量方法

[发明专利]一种偏振同步相移点衍射干涉仪-CN202111392143.8在审
发明人：冯鹏;李中梁;王向朝;步扬 -专利权人：中国科学院上海光学精密机械研究所
申请日： 2021-11-19 - 公布日： 2022-04-12 - 主分类号： G01B9/02 文献下载
摘要：一种偏振同步相移点衍射干涉仪及其检测方法，干涉仪的组成包括：理想波前发生模块、待测光学系统、像面掩模、偏振相移模块、二维偏振成像光电探测器和数据处理单元。本发明采用单个光电探测器实现3个以上相移量干涉图的同步探测，具有抑制环境干扰、光路灵活、测量精度高、能够标定干涉仪系统误差等优点。
一种偏振同步相移衍射干涉仪

[发明专利]高陡度光学镜凸面计算全息透射检测系统-CN202010064184.3有效
发明人：王超;管海军;张新;曲贺盟 -专利权人：长春长光智欧科技有限公司
申请日： 2020-01-20 - 公布日： 2021-04-02 - 主分类号： G01B11/24 文献下载
摘要：本发明涉及一种高陡度光学镜凸面计算全息透射检测系统，该系统的计算全息基板设置在干涉仪焦点后且位于标准镜与光学镜之间，其面向光学镜的一侧为衍射面；干涉仪发出的参考光经过出光口处的标准镜出射球面波，参考光经过计算全息基板和光学镜，由光学镜凸面反射后返回；返回的光线再经过光学镜和计算全息基板汇聚到干涉仪焦点，最终进入干涉仪，与内部参考光发生干涉；干涉仪根据干涉的相位信息获得光学镜凸面面形信息；计算全息基板的衍射面检测区域周期分布多个波浪形衍射环
陡度光学凸面计算全息透射检测系统

[发明专利]单频偏振激光干涉仪及光程倍增高激光应变仪-CN201210381909.7有效
发明人：杨军;彭峰;吴冰;苑勇贵;苑立波 -专利权人：哈尔滨工程大学
申请日： 2012-10-10 - 公布日： 2013-02-13 - 主分类号： G01B9/02 文献下载
摘要：本发明涉及的是一种单频偏振激光干涉仪及光程倍增高激光应变仪。固定在第1基岩上的第1单频激光干涉仪与第1测量反射镜构成一个完整的单频偏振激光干涉仪；第1测量反射镜通过标定与限位装置与测量基线的首端连接；测量基线的末端安装反射镜限位装置，反射镜限位装置安装第2测量反射镜，第2测量反射镜与固定在第2基岩上的第2单频偏振激光干涉仪构成一个完整的单频偏振激光干涉仪，第2单频偏振激光干涉仪固定在第2基岩上；测量基线的中间安装有悬挂系统；第1、第2单频偏振激光干涉仪和标定与限位装置通过信号连接线与信号记录与处理系统连接
偏振激光干涉仪光程增高应变

[发明专利]带相干反馈的光学系统-CN200680052579.X无效
发明人： A·萨里尔;E·摩西;E·康福蒂;S·莱维特;J·加西亚;Y·赫费茨 -专利权人：伦斯雷特有限公司
申请日： 2006-12-08 - 公布日： 2010-01-20 - 主分类号： G03H1/10 文献下载
摘要：本发明公开一种对光场振幅灵敏的光测量系统。该系统使用干涉仪，同时反馈回路将从干涉仪的至少一个光输出出射的光强度保持在低水平。因此降低了干涉仪的输出处的检测器的散粒噪声，从而能够无需更强的光源而实现高速和高精确度测量。该测量系统可以在光计算中使用。
相干反馈光学系统

[发明专利]一种基于干涉仪的光学镜片质量测试方法及系统-CN202310864675.X有效
发明人：张宝安;曹青 -专利权人：苏州然玓光电科技有限公司
申请日： 2023-07-14 - 公布日： 2023-09-29 - 主分类号： G01M11/02 文献下载
摘要：本发明公开了一种基于干涉仪的光学镜片质量测试方法及系统，涉及光学镜片质量测试领域，其中，所述方法包括：获取第一干涉仪的样本测试数据；得到定位‑控制映射模型；当待测镜片放置于第一干涉仪的升降台，得到实时定位坐标数据；将实时定位坐标数据输入定位‑控制映射模型，输出第一比对结果；当第一比对结果为不通过，以调节定位数据对待测镜片进行调节，直至第一比对结果通过，根据射干涉控制数据对第一干涉仪进行控制，生成质量测试结果。解决了现有技术中在应用干涉仪对光学镜片进行质量测试时，光学镜片的质量测试效率低，且干涉仪控制灵活度低的技术问题。达到了提高光学镜片质量测试效果的技术效果。
一种基于干涉仪光学镜片质量测试方法系统

[发明专利]用于量子通信系统的相位补偿方法、装置、介质和设备-CN202211401710.6有效
发明人：王林松;王其兵;陈柳平 -专利权人：国开启科量子技术（北京）有限公司
申请日： 2022-11-10 - 公布日： 2023-03-24 - 主分类号： H04B10/556 文献下载
摘要：本发明提供用于量子通信系统的相位补偿方法、装置、介质和设备，其中，所述方法包括：获取量子通信系统的当前成码错误率；响应于量子通信系统的当前成码错误率高于目标成码错误率，基于当前成码错误率和目标成码错误率确定量子通信系统中的不等臂干涉仪的相位差的变化量；根据相位差的变化量以及设置在量子通信系统中的不等臂干涉仪的长臂上的相位调制单元的半波电压值，确定通过相位调制单元向不等臂干涉仪的长臂施加的相位调制电压的变化量，以补偿不等臂干涉仪的相位差的变化量。本发明可根据系统的成码错误率实时地对量子通信系统中的不等臂干涉仪的相位进行高精度补偿，以确保系统成码率的稳定性和可靠性。
用于量子通信系统相位补偿方法装置介质设备

[发明专利]基于干涉仪模块的半导体激光六自由度误差测量系统-CN202010177627.X有效
发明人：蔡引娣;桑琦;谢波;文志祥;凌四营;范光照 -专利权人：大连理工大学
申请日： 2020-03-13 - 公布日： 2021-05-07 - 主分类号： G01B11/00 文献下载
摘要：本发明属于定位平台运动误差测量领域，提出了基于干涉仪模块的半导体激光六自由度误差测量系统，包括干涉仪模块和五自由度误差测量模块。使用半导体激光器作为其光源。基于干涉仪测距原理的干涉仪模块用于测量线性定位平台和旋转定位平台的定位误差和轴向运动误差。干涉仪模块采用集成化设计，减小了各光学元件之间鬼影现象出现。同时，缩小了干涉仪模块的体积。通过不同安装方式，该测量系统可实现线性定位平台和旋转定位平台的运动误差在线、全参数和高精度测量。
基于干涉仪模块半导体激光自由度误差测量系统

[发明专利]双F-P腔与Mach-Zehnder组合干涉仪-CN201010186908.8有效
发明人：苑立波;关春颖;杨军 -专利权人：哈尔滨工程大学
申请日： 2010-05-31 - 公布日： 2010-09-29 - 主分类号： G01B9/02 文献下载
摘要：本发明提供的是一种双F-P腔与Mach-Zehnder组合干涉仪。由两个光纤F-P干涉仪和光纤Mach-Zehnder干涉仪组合而成；Mach-Zehnder干涉仪由单芯保偏光纤和熔嵌式双芯保偏光纤的两端分别进行熔接耦合而构成；两个光纤F-P干涉仪是在熔嵌式双芯保偏光纤的两个纤芯上分别刻写双Bragg光纤光栅对构成的双F-P腔；每个F-P腔分别嵌于Mach-Zehnder干涉仪的两臂。本发明的优势在于：与传统的集成式Mach-Zehnder干涉仪相比，其测量灵敏度得到提高；利用保偏光纤构成干涉仪，解决了传统干涉仪因偏振态随机变化引起的稳定性问题Mach-Zehnder干涉仪两臂处于同一根光纤中，提高了干涉仪的温度稳定性。
mach zehnder 组合干涉仪

[发明专利]低噪声白光PMDI信号检测与复用系统和方法-CN202210641183.X在审
发明人：王付印;姚琼;曹春燕;侯庆凯;熊水东;陈虎;朱敏;朱小谦 -专利权人：中国人民解放军国防科技大学
申请日： 2022-06-08 - 公布日： 2022-09-09 - 主分类号： G01H9/00 文献下载
摘要：本发明公开了一种低噪声白光PMDI信号检测与复用系统和方法，采用成熟的PGC调制解调方法，在保证路径匹配干涉仪具有较好的路径匹配能力的前提下，实现了较高频率的PGC调制解调，光路中引入光纤布拉格光栅获得窄带相干干涉信号以检测出匹配干涉仪的干扰信号，实现对长臂路径匹配干涉仪引入噪声和干扰的抵消，显著降低了传感干涉仪的噪声水平，尤其是低频段的噪声水平，破解路径匹配干涉仪易受外界影响导致解调噪声增加的问题，该方法还同时具备微臂差干涉型传感器的时分复用能力，实现了可复用、易匹配、低噪声的白光路径匹配差分干涉动态信号调制与解调。
噪声白光 pmdi 信号检测系统方法

[发明专利]一种双自由落体的绝对重力测量光学系统和方法-CN201710357374.2有效
发明人：郭有光;洪国强;黄雯迪;薛振海;高铭泽 -专利权人：北京奥地探测仪器有限公司;地质矿产部北京地质仪器厂;郭有光
申请日： 2017-05-19 - 公布日： 2019-03-05 - 主分类号： G01V7/04 文献下载
摘要：本发明公开了一种双自由落体的绝对重力测量光学系统，包括激光光源、落体机构、上真空室、下真空室和设置在上真空室和下真空室之间的干涉仪；所述落体机构包括两个完全相同、相对应的分别设置在上、下两真空室内的上落体棱镜和下落体棱镜；所述干涉仪包括第一干涉系统、第二干涉系统和第三干涉系统；所述激光光源射入干涉仪后，经过第一干涉系统、第二干涉系统和第三干涉系统后，产生三个干涉信号，用于计算绝对重力真值。本发明还提供了和该系统对应的测量方法。
干涉系统绝对重力干涉仪测量光学系统激光光源上真空室下真空室自由落体棱镜干涉信号射入测量室内

[发明专利]用于光学测量机探头的可更换透镜模块系统-CN201780075391.5有效
发明人： D.B.凯 -专利权人：优质视觉技术国际公司
申请日： 2017-11-03 - 公布日： 2021-08-10 - 主分类号： G01B9/02 文献下载
摘要：干涉测量机包括用于光学探头的可更换透镜模块系统。探头包括包含干涉仪的光学设备的透镜本体、和沿干涉仪的物臂包含物镜的透镜模块，该透镜模块可以用其他透镜模块更换以改变探头的测量特性。透镜模块适于容纳具有不同焦距的物镜，同时保持干涉仪的物臂的期望的光学路径长度。
用于光学测量探头更换透镜模块系统

[发明专利]用于补偿由光谱仪系统产生的干涉图的时间周期扰动的光谱仪系统和方法-CN201580070440.7有效
发明人： S·K·安徒生;M·L·安徒生 -专利权人：福斯分析仪器公司
申请日： 2015-02-02 - 公布日： 2021-01-05 - 主分类号： G01J3/45 文献下载
摘要：光谱仪系统和用于补偿由光谱仪系统产生的干涉图的时间周期性扰动的方法。光谱仪系统(2)包括：扫描干涉仪(4)；驱动系统(6)，其机械耦合到扫描干涉仪(4)的可移动反射器元件(14)并且可操作以实现多个，优选地多于两个，例如三个不同的扫描速度下可移动反射器元件(14)的往复运动；检测器装置(8)，被配置为以等距时间间隔对由扫描干涉仪(2)形成的干涉图进行采样以产生采样干涉图；以及数据处理器(10)，适于在所述多个不同扫描速度中的每一个处获取采样的干涉图，并且执行如此获取的多个采样干涉图的内容的相对比较
用于补偿光谱仪系统产生干涉时间周期扰动方法