专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [实用新型]一种激光准直收发一体式直线度测量的标定系统-CN201921423004.5有效
  • 段发阶;张聪;傅骁;刘文正;苏宇浩;鲍瑞伽 - 天津大学
  • 2019-08-29 - 2020-04-17 - G01B11/27
  • 本实用新型公开一种激光准直收发一体式直线度测量的标定系统;包括直线度测量机构、激光干涉激光头、激光干涉干涉镜、激光干涉角锥棱镜和位移台,直线度测量机构由激光器、二维位置探测器、固定端基座和角锥棱镜组成,激光器和二维位置探测器均固定在固定端基座上,激光器的出射激光照射到角锥棱镜,经过角锥棱镜后的回射激光照射到二维位置探测器上,所述角锥棱镜放置于位移台上;激光干涉角锥棱镜放置于位移台上,位移台能够沿x方向水平移动,激光干涉干涉镜放置在激光干涉激光头与激光干涉角锥棱镜之间,使激光干涉激光头内激光干涉从而实现位移台的位移测量。
  • 一种激光收发体式直线测量标定系统
  • [发明专利]基于双F-P干涉的多纵模多普勒激光雷达校准方法-CN202210882169.9在审
  • 沈法华;徐菁苑;庄鹏;范安冬 - 盐城师范学院
  • 2022-07-17 - 2022-11-01 - G01S7/497
  • 本发明公开了一种基于双F‑P干涉的多纵模多普勒激光雷达校准方法。双F‑P干涉的腔长在较大范围内可调节,且有粗调和细调两种调谐模式,由F‑P干涉控制器控制;校准光源为发射激光脉冲入射至长裸光纤后的多纵模、准连续后向散射光。校准时采用F‑P干涉腔长粗扫和细扫交替扫描的方法。本发明在不改变激光雷达光路结构的前提下,能够准确、便捷的实现对基于双F‑P干涉的多纵模多普勒激光雷达系统校准,包括激光纵模间隔Λ与F‑P干涉的自由谱间距νFSR的匹配校准以及双F‑P干涉透过率曲线校准,在Λ与νFSR匹配的前提下,获得最优的双F‑P干涉透过率校准曲线,使多纵模多普勒激光雷达系统的探测性能达最佳。
  • 基于干涉仪多纵模多普勒激光雷达校准方法
  • [发明专利]利用光纤光栅的光纤干涉型在线微位移测量系统-CN200710063770.0无效
  • 谢芳;芦毅 - 北京交通大学
  • 2007-02-09 - 2007-08-08 - G01B11/02
  • 本发明公开了一种微位移测量系统,特别是一种适用于在线测量的微位移测量系统。利用光纤光栅特性和波分复用技术构成光纤复合迈克尔逊干涉,该干涉包含二个反射镜独立但光路几乎重合的光纤迈克尔逊干涉。一个干涉用于测量,另一干涉经反馈控制以补偿由于环境干扰给测量带来的影响,从而使系统适用于在线测量。本发明只用一只谱宽为1.5nm中心波长为1550nm的半导体激光器发出的光同时作用于两个干涉中,这不仅使系统成本低,方便实现自动测量,而且反馈控制电路对压电陶瓷的放电不对测量产生影响,使测量能连续进行
  • 利用光纤光栅干涉在线位移测量系统
  • [实用新型]一种干涉测向天线阵列的评估验证系统-CN202021587562.8有效
  • 王宇;王天阳;王祥;魏一平 - 无锡国芯微电子系统有限公司
  • 2020-08-03 - 2021-04-06 - G01R29/10
  • 本实用新型公开了一种干涉测向天线阵列的评估验证系统,涉及微波探测技术领域,该系统包括安装在转台上并连接水平和俯仰两个轴的干涉测向天线阵列,干涉测向天线阵列包括若干个沿着水平向设置以及俯仰向设置的天线单元,干涉测向天线阵列上的各个天线单元通过矩阵开关串联第二放大器接入矢量网络分析,矢量网络分析还通过第一放大器连接发射天线,发射天线与干涉测向天线阵列相对设置;矢量网络分析连接主控设备,主控设备连接并控制矩阵开关以及转台;该系统可以评估干涉测向天线阵列的测角正确性,有效的帮助前期天线方案的验证和后期系统问题的排查。
  • 一种干涉仪测向天线阵列评估验证系统
  • [发明专利]一种干涉调制器、测量系统及测量方法-CN202011328905.3在审
  • 陈鲁;白园园;马砚忠;张嵩 - 深圳中科飞测科技股份有限公司
  • 2020-11-24 - 2022-05-27 - G01B11/06
  • 本申请公开了一种干涉调制器、测量系统及测量方法。系统包括发光组件、干涉调制器、时间延迟器和探测器。发光组件产生泵浦光和探测光。干涉调制器设置在泵浦光的传输光路上,对泵浦光进行幅度调制;干涉调制器包括干涉组件和相位差调节组件。时间延迟器接收泵浦光或探测光,使泵浦光脉冲和探测光脉冲之间的延迟时间可调。由于干涉调制器的成本远低于声光调制器和电光调制器,因此应用干涉调制器在测量系统中对泵浦光进行幅度调制能够节约成本。同时,相比于声光调制器和电光调制器,干涉调制器具有较强的稳定性,并保证了较高的光利用率。
  • 一种干涉仪调制器测量系统测量方法

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