专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]存储器电路以及用于操作三维交叉点存储器阵列的方法-CN201811181229.4有效
  • 何信义;龙翔澜 - 旺宏电子股份有限公司
  • 2018-10-10 - 2021-07-16 - G11C16/08
  • 本发明公开了一种存储器电路以及用于操作三维交叉点存储器阵列的方法,存储器电路包括三维交叉点存储器阵列,此三维交叉点存储器阵列具有设置在N个第一存取线层和P个第二存取线层的交叉点处的M层的存储单元。此存储器电路还包括第一和第二组的第一存取线驱动器。第一组第一存取线驱动器可操作地耦接以将共第一操作电压施加到奇数的第一存取线层中所选择的第一存取线。第二组第一存取线驱动器可操作地耦合以将共第一操作电压施加到偶数的第一存取线层中所选择的第一存取线。多组的第二存取线驱动器可操作地配置来将第二操作电压施加到所选择的第二存取线层中所选择的第二存取线。
  • 存储器电路以及用于操作三维交叉点阵列方法
  • [发明专利]擦除操作期间的缺陷检测-CN202211062935.3在审
  • 徐峻;朴奇太 - 美光科技公司
  • 2022-08-31 - 2023-03-03 - G11C29/44
  • 本公开涉及擦除操作期间的缺陷检测。一种系统包含存储器装置,所述存储器装置包含:存储器阵列;和控制逻辑,其以操作方式与所述存储器阵列耦合,以执行包含致使执行擦除操作操作。所述擦除操作包含子操作。所述操作进一步包含致使在所述子操作中的至少一个子操作期间执行缺陷检测。使用至少一个缺陷检测方法相对于至少一个故障点执行缺陷检测。
  • 擦除操作期间缺陷检测
  • [发明专利]半导体存储器-CN02829597.8有效
  • 筱崎直治;神田达哉;佐藤贵彦;船生明裕 - 富士通株式会社
  • 2002-11-06 - 2005-09-14 - G11C11/401
  • 响应于在预定周期产生的刷新请求输出刷新信号,并且进行刷新操作。当在存取请求和刷新请求之间出现冲突时,刷新操作结束。结果,可以较早地开始与存取请求对应的存取操作,缩短存取时间。通过根据提供存取请求的定时改变刷新操作的结束时间,能够进一步缩短存取时间。由于形成了用于向外部通报刷新操作状态的测试电路,因此能够在短时间内评估刷新操作操作裕度。
  • 半导体存储器
  • [发明专利]确定操作系统性能的方法、任务调度方法、设备-CN202310379850.6有效
  • 李光水;毛文安 - 阿里云计算有限公司
  • 2023-04-06 - 2023-09-26 - G06F11/30
  • 本说明书实施例提供了一种确定操作系统性能的方法、任务调度方法、设备及存储介质。所述方法包括:在操作系统运行过程中,获取操作系统上与数据存取操作有关的处理资源的资源参数,所述资源参数中的至少部分通过内核动态追踪技术获取得到;基于所述资源参数确定所述操作系统当前的存取性能参数,所述存取性能参数用于表征所述操作系统往存储设备存取数据的能力通过这种方式,可以更加准确地评估操作系统当前的存取数据的性能,并基于其当前的性能确定最优的数据存取策略,提高操作系统的数据存取效率,同时,也可以保证操作系统稳定运行。
  • 确定操作系统性能方法任务调度设备

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