专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]基于序列模式的DRAM故障关联分析方法-CN201910832284.3在审
  • 刘睿涛;宋长明;刘沙;钱宇;李伟东;张宏宇;龚道永;吴文斌 - 无锡江南计算技术研究所
  • 2019-09-04 - 2021-03-05 - G06F11/07
  • 本发明公开一种基于序列模式的DRAM故障关联分析方法,包括以下步骤:对故障数据库中的非DRAM故障进行过滤,获得所需的DRAM故障数据;获得DRAM故障序列数据库;建立序列DRAM故障序列数据库;采用GSP算法,设定支持度,扫描序列DRAM故障序列数据库,获取所有满足支持度要求的DRAM故障序列的支持度;筛选出DRAM严重故障与DRAM严重故障、DRAM非严重故障与DRAM严重故障的序列规则,并计算其置信度;筛选出置信度大于60%的序列规则;如果出现反映DRAM严重故障与DRAM严重故障的序列规则,则表明DRAM严重故障与DRAM严重故障存在关联性;如果未出现反映DRAM非严重故障与DRAM严重故障关联的序列规则,则表明DRAM非严重故障不会导致DRAM严重故障。
  • 基于序列模式dram故障关联分析方法
  • [发明专利]DRAM组合控制方法-CN201410428860.5有效
  • 王大志;叶绍镇;陈派林 - 珠海全志科技股份有限公司
  • 2014-08-27 - 2018-12-21 - G06F13/16
  • 本发明公开了一种DRAM组合控制方法,包括如下步骤:根据PCB所需DRAM,按照DRAM控制器外围的高低DQ组交换连接电路对一片DRAM进行设置,或对多片DRAM进行组合;根据一片或多片DRAM的规格,以及一片DRAM的设置方式或多片DRAM的组合方式,对DRAM控制器的第一控制端进行信号源配置。其通过PCB所需DRAM的规格,按照高低DQ组交换连接方式对一片DRAM进行设置,或对多片DRAM进行组合后,根据选择的一片DRAM的规格和设置方式,或多片DRAM的规格和组合方式,对DRAM控制器的第一控制端进行信号源配置,使得组合后的DRAM满足所需的DRAM的规格。最终实现了在同一块PCB上可以兼容多种不同规格的DRAM的目的。有效地解决了现有技术限制DRAM的兼容性,不利于降低电子系统的开发成本的问题。
  • dram组合控制方法
  • [发明专利]一种Dram休眠及唤醒方法、装置和存储介质-CN201911335578.1在审
  • 樊卿华;刘客 - 珠海全志科技股份有限公司
  • 2019-12-23 - 2021-07-09 - G06F9/4401
  • 本发明提出了一种Dram休眠及唤醒方法、装置和存储介质,用以减少Dram休眠时的功耗,降低智能终端的硬件成本。Dram休眠方法包括:在Dram需要进入休眠状态时,获取Dram中指定空间存储的数据并复制到备份空间中,备份空间为在Dram初始化阶段时预留的;控制Dram进入自刷新低功耗模式;中断Dram控制器供电。Dram唤醒方法包括:在智能终端操作系统进入唤醒阶段,恢复Dram控制器供电;利用操作系统可用内存空间中的指定空间进行训练得到Dram唤醒所需的配置参数;使用该配置参数配置Dram控制器;控制Dram退出自刷新低功耗模式
  • 一种dram休眠唤醒方法装置存储介质
  • [发明专利]一种更新DRAM配置的自适应装置和方法-CN201610055932.5有效
  • 李宏楷;刘客;朱玮;叶绍镇 - 珠海全志科技股份有限公司
  • 2016-01-27 - 2019-05-28 - G06F3/06
  • 本发明的技术方案包括一种更新DRAM配置的自适应装置,该装置包括:初始化模块,用于对接口和检测信息的初始化;DRAM分析模块,对DRAM执行分析处理;DRAM判断模块,检测DRAM类型的结果并进行记录和发送;配置模块,加载对应的DRAM类型驱动。本发明的技术方案包括一种更新DRAM配置的自适应方法,该方法包括:对DRAM进行逐个比对,确认异同点,根据异同点得到被检测DRAM类型并进行加载更新配置。本发明的有益效果为:能够识别不同类型DRAM颗粒,且将这套自适应方法运用到固件驱动中,自动检测PCB上贴的DRAM颗粒类型,加载对应的DRAM驱动,做到对不同DRAM类型颗粒的固件统一,降低客户固件的维护成本
  • 一种更新dram配置自适应装置方法
  • [发明专利]基于镜像存储的DRAM访问系统-CN202210209950.X在审
  • 李旭 - 上海合见工业软件集团有限公司
  • 2022-03-04 - 2022-05-31 - G06F13/16
  • 本发明涉及一种基于镜像存储的DRAM访问系统,包括镜像控制模块和N个DRAM模块,镜像控制模块一端与N个DRAM模块相连接,另一端与访问总线连接;当其中一个DRAM模块处于刷新周期时,其他N‑1个DRAM模块中存在至少一个DRAM模块不处于刷新周期。镜像控制模块用于通过访问总线获取读取信号,从当前不处于刷新周期的DRAM模块中选择一个DRAM模块读取目标数据,发送给访问总线;还用于通过访问总线获取写入信号,将待写入数据并行写入当前不处于刷新周期的DRAM模块,若存在当前处于刷新周期的DRAM模块,则缓存待写入数据,待当前处于刷新周期的DRAM模块完成当前刷新操作后,再将待写入数据写入该DRAM模块。本发明规避了刷新时间对DRAM访问的影响,提高了DRAM的访问效率。
  • 基于存储dram访问系统
  • [发明专利]一种减小DRAM节电模式下静态功耗的电路及方法-CN201610028544.8有效
  • 贾雪绒 - 西安紫光国芯半导体有限公司
  • 2016-01-15 - 2018-08-21 - G11C11/4074
  • 本发明公开一种减小DRAM节电模式下静态功耗的电路及方法,电路包括DRAM内部供电电压产生器和模式控制电路;所述DRAM内部供电电压产生器用于产生DRAM工作的电压;所述模式控制电路用于:在DRAM芯片正常工作时,将DRAM内部供电电压产生器产生的工作电压直接传送给DRAM内部供电电压网络;在DRAM芯片处于节电模式时,将DRAM内部供电电压产生器产生的工作电压降压后传送给DRAM内部供电电压网络。本发明在传统的DRAM产品中内部供电电压模块的设计基础上,额外添加一种模式控制选通电路,使得DRAM芯片在正常操作模式下,仍然使用预定的内部供电电压;而在节电模式下,使用一个降低了的内部供电电压,从而达到减小DRAM节电模式下的静态功耗的目的。
  • 一种减小dram节电模式静态功耗电路方法
  • [发明专利]一种DRAM内存时序配置方法和装置-CN202010873494.X有效
  • 何灿阳 - 瑞芯微电子股份有限公司
  • 2020-08-26 - 2022-05-13 - G06F3/06
  • 本发明公开一种DRAM内存时序配置方法和装置,其中方法包括如下步骤:在DRAM内存的预设位置写入第一数据;开启DRAM内存的TDQS功能;在DRAM内存的所述预设位置的部分位写入第二数据,第二数据的位数据与第一数据的位数据不同;关闭DRAM内存的TDQS功能;从DRAM内存的所述预设位置读出数据,判断读出数据是否等于第二数据;如果等于第二数据,则DRAM内存的识别结果为第一DRAM;如果不等于第二数据,则DRAM内存的识别结果为第二DRAM;根据识别结果以及预存的时序表获取对应的时序,所述时序表存储有第一DRAM对应的时序和第二DRAM对应的时序;配置所述对应的时序到DRAM内存。
  • 一种dram内存时序配置方法装置
  • [实用新型]一种减小DRAM节电模式下静态功耗的电路-CN201620040023.X有效
  • 贾雪绒 - 西安紫光国芯半导体有限公司
  • 2016-01-15 - 2016-07-13 - G11C11/4074
  • 本实用新型公开一种减小DRAM节电模式下静态功耗的电路,电路包括DRAM内部供电电压产生器和模式控制电路;所述DRAM内部供电电压产生器用于产生DRAM工作的电压;所述模式控制电路用于:在DRAM芯片正常工作时,将DRAM内部供电电压产生器产生的工作电压直接传送给DRAM内部供电电压网络;在DRAM芯片处于节电模式时,将DRAM内部供电电压产生器产生的工作电压降压后传送给DRAM内部供电电压网络。本实用新型在传统的DRAM产品中内部供电电压模块的设计基础上,额外添加一种模式控制选通电路,使得DRAM芯片在正常操作模式下,仍然使用预定的内部供电电压;而在节电模式下,使用一个降低了的内部供电电压,从而达到减小DRAM节电模式下的静态功耗的目的。
  • 一种减小dram节电模式静态功耗电路
  • [发明专利]DRAM电路的测试方法及系统-CN202210365432.7在审
  • 王可新 - 上海格易电子有限公司
  • 2022-04-07 - 2022-08-16 - G11C29/08
  • 本申请公开了一种DRAM电路的测试方法及系统。其中,该测试方法用于DRAM电路的测试系统,DRAM电路的测试系统包括寄存电路及DRAM电路;该测试方法包括基于读指令产生第一使能信号,并将第一使能信号发送至寄存电路;寄存电路基于第一使能信号经由数据线获取期望数据;获取期望数据后,基于读指令产生延时信号,并将延时信号发送至DRAM电路,DRAM电路基于延时信号读取DRAM中的存储数据,并将基于期望数据及存储数据得到的DRAM电路测试结果经由数据线输出。本申请的DRAM电路的测试方法及系统,能够缩短DRAM电路的测试时间,提高DRAM电路的产测效率。
  • dram电路测试方法系统
  • [发明专利]图像数据在DRAM中的处理方法及系统-CN201410079196.8有效
  • 谢成兴 - 珠海全志科技股份有限公司
  • 2014-03-05 - 2018-11-16 - G06T1/60
  • 本发明提供一种图像数据在DRAM中的处理方法及系统。其中方法包括以下步骤:GBUS发出读写图像数据的请求命令;GDAM接收GBUS发出的请求命令,转换成与DRAM控制器相应的请求信号,发送给DBUS;DBUS接收GDAM发送的请求信号,通过DRAM控制器处理DRAM中的图像数据。该方法完成了图像数据在DRAM中的读写处理,提高了访问DRAM中图像数据的方便性并发挥了DRAM的最高效率;且采用有效措施保证尽量少的DRAM存储空间,尽量少的所需DRAM数据带宽以及尽量高的DRAM的访问效率
  • 图像数据dram中的处理方法系统
  • [发明专利]一种业务恢复方法及装置-CN201410855551.6有效
  • 胡浩涵;刘荣斌;张晋 - 华为技术有限公司
  • 2014-12-31 - 2018-04-10 - G06F9/445
  • 本发明实施例涉及一种业务恢复方法及装置,该方法包括当接收到系统复位重启请求时,保存芯片内部状态、芯片内部配置数据以及DRAM中的部分配置数据,所述DRAM中的部分配置数据为在DRAM初始化过程中需要使用的数据;配置所述DRAM从第一状态切换为第二状态;其中,所述DRAM在所述第一状态下由外部控制器向所述DRAM发送刷新命令以维持所述DRAM中的数据存储状态不变;所述DRAM在所述第二状态下由所述DRAM自身控制所述DRAM执行刷新操作以维持所述DRAM中的数据存储状态不变;对系统进行复位重启操作;配置所述DRAM从所述第二状态切换为所述第一状态;利用保存的所述芯片内部状态、芯片内部配置数据以及所述DRAM中的部分配置数据进行业务恢复
  • 一种业务恢复方法装置

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