专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]闪存的电荷泵补偿电路-CN202310949005.8在审
  • 杨光军 - 上海华虹宏力半导体制造有限公司
  • 2023-07-31 - 2023-10-13 - G11C16/12
  • 本发明公开了一种闪存的电荷泵补偿电路,包括:第一电荷泵,输出端输出源编程电压输出到闪存的阵列结构中的选定位线。第二电荷泵,输出端通过第一开关连接到第一电荷泵的输出端。第一开关的控制端连接第一使能信号,第一使能信号为有效电平的时间可控。源编程电压会对选定位线的寄生电容进行充电使选定位线的电位达到源编程电压;第一使能信号的有效电平时段位于初始阶段中,使得第二电荷泵的第二输出电压在初始阶段也对选定位线的寄生电容进行补偿充电,以提高初始阶段中选定位线的电压,改善编程深度。本发明能对寄生电容使选定位线的初始电压偏低进行电荷补偿并最后能改善编程深度,还能减少不同地址的存储位的编程深度的差异。
  • 闪存电荷补偿电路
  • [发明专利]存储装置及该存储装置的操作方法-CN201910354066.3有效
  • 许民虎;金东眩;金承日;郑然镐 - 爱思开海力士有限公司
  • 2019-04-29 - 2023-10-03 - G11C16/12
  • 本发明提供一种可靠性提高的存储器装置,该存储器装置包括:存储器单元阵列,包括存储器单元;编程操作控制器,对存储器单元执行编程操作以使存储器单元具有第一至第n状态之中的任意一个状态;电压发生器,在编程操作中生成分别对应于第一至第n状态的操作电压;验证操作控制器,验证是否已经完成对选择的存储器单元执行以使选择的存储器单元具有第k状态的编程操作,并且对选择的存储器单元之中、具有比对应于第k状态的阈值电压大的阈值电压的过度编程的存储器单元的数量进行计数;以及过度编程管理器,根据过度编程的存储器单元的数量,增加对应于第k+1至第n状态的操作电压,以使对应于第k+1至第n状态的操作电压大于默认值。
  • 存储装置操作方法
  • [发明专利]存储装置以及操作存储装置的方法-CN201910781956.2有效
  • 许民虎;金东眩;金承日;郑然镐 - 爱思开海力士有限公司
  • 2019-08-23 - 2023-09-15 - G11C16/12
  • 本公开提供一种存储器系统。该存储器系统包括:存储器装置,包括较高密度存储的第一存储器区域和较低密度存储的第二存储器区域;以及控制器,被配置为针对数据组块中的每一个,控制存储器装置对第二存储器区域顺序地执行备份编程操作并且对第一存储器区域执行粗略编程和精细编程操作,其中针对数据组块之中的至少两个,控制器控制存储器装置首先执行粗略编程并且然后执行精细编程操作,并且其中控制器控制存储器装置执行不具有编程验证进程的备份编程操作。
  • 存储装置以及操作方法
  • [发明专利]存储器件以及使用其的编程方法-CN202210116399.4在审
  • 柳弼相 - 华邦电子股份有限公司
  • 2022-02-07 - 2023-08-15 - G11C16/12
  • 一种包括多个存储区块及多个源极开关的存储器件以及使用其的编程方法。源极开关中的每一者对应于存储区块中的一者,且源极开关中的每一者耦合到存储区块中的对应一者的共用源极线。与存储区块之中针对编程操作的被选择存储区块对应的被选择源极开关被配置成在编程操作的编程周期期间将被选择存储区块的共用源极线偏置到参考电压。与存储区块之中针对编程操作的未被选择存储区块对应的未被选择源极开关被配置成在编程操作的编程周期期间使未被选择存储区块的共用源极线浮动。
  • 存储器件以及使用编程方法
  • [发明专利]闪存的操作方法-CN202310478451.5在审
  • 杨光军 - 上海华虹宏力半导体制造有限公司
  • 2023-04-28 - 2023-08-08 - G11C16/12
  • 本发明公开了一种闪存的操作方法中,闪存的存储单元都采用分离栅浮栅器件,包括:对称设置的第一和第二源漏区,位于第一和第二源漏区之间的多个分离的具有浮栅的第一栅极结构,位于第一栅极结构之间的第二栅极结构;编程时第二栅极结构连接到字线编程电压,通过如下步骤设置字线编程电压:步骤一、设定测试字线编程电压的初始值。步骤二、根据设定的测试字线编程电压进行快编程测试。步骤三、判断良率是否达标,如果良率达标则进行步骤四;如果良率不达标,则将测试字线编程电压增加,之后返回到步骤二。步骤四、将测试字线编程电压加上误差电压作为所测试的各存储单元的字线编程电压。本发明能提高编程效率。
  • 闪存操作方法
  • [发明专利]闪存的操作电压修调电路和方法-CN202310485625.0在审
  • 杨光军 - 上海华虹宏力半导体制造有限公司
  • 2023-04-28 - 2023-08-08 - G11C16/12
  • 本发明公开了一种闪存的操作电压修调电路中,存储单元都采用双分离栅浮栅器件,两个浮栅分别形成一个存储位;对选定存储位进行编程时,对应的控制栅线连接控制栅编程电压,靠近存储位的位线连接源编程电压。操作电压修调电路包括:第一电荷泵,控制端连接多位第一数字信号,输出端输出大小由第一数字信号控制的源编程电压。第二电荷泵,控制端连接多位第二数字信号,输出端输出大小由第二数字信号控制控制栅编程电压。两个存储位编程时的第一和第二数字信号分别通过对多个存储单元的对应的存储位进行快编程测试得到,使两个存储位编程时的源编程电压和控制栅编程电压独立设置。本发明还提供一种闪存的操作电压修调方法。本发明能提高编程效率。
  • 闪存操作电压电路方法
  • [发明专利]自关断电路及半导体存储结构-CN202010102523.2有效
  • 沈灵;严慧婕;蒋宇;董林妹;温建新 - 上海集成电路研发中心有限公司
  • 2020-02-19 - 2023-06-09 - G11C16/12
  • 本发明提供了一种自关断电路,与编程电路连接,包括参考电路、比较电路及信号传输控制电路,所述编程电路向所述比较电路输入编程电压,所述参考电路向所述比较电路输入参考电压,所述比较电路可以输出用于指示所述编程电路的编程状态的比较信号,所述信号传输控制电路在一编程信号及所述比较信号的控制下,当所述编程信号指示所述编程电路开始编程时开启所述编程电路、参考电路及比较电路;当所述比较信号指示所述编程电路完成编程时关闭所述编程电路、参考电路及比较电路,从而实现了所述编程电路的自动开启和关断,消除编程完成后的不必要功耗。基于此,本发明还提供了一种半导体存储结构。
  • 断电半导体存储结构

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