专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]一种三维结构的NAND铁电存储单元及其制备方法-CN202011027562.7有效
  • 廖敏;戴思维;郇延伟;杨棋钧;刘兆通;周益春 - 湘潭大学
  • 2020-09-25 - 2022-02-08 - H01L27/1159
  • 一种三维结构的NAND铁电存储单元及其制备方法,其中,铁电存储单元包括:由内至依次设置的氧化物绝缘层、沟道层、沟道缓冲层、铁电层和栅极缓冲层和栅极;沟道层和铁电层之间设置有沟道缓冲层;和/或,铁电层和栅极之间设置有栅极缓冲层本发明的存储单元,缓冲层具有以下作用:1.可诱导铁电薄膜结晶生成铁电相;2.可减小统一退火结晶时沟道层和铁电层不同结晶特性造成的不利影响,提高沉积薄膜的质量和均一性;3.缓冲层可以提高沟道层的界面性能,故,缓冲层可整体提高三维结构中存储单元存储性能和均一性,增大存储单元存储窗口、提高存储单元的疲劳性能并提升多个晶体管存储性能的均一性。
  • 一种三维结构nand存储单元及其制备方法
  • [发明专利]3D存储器件及其数据操作方法-CN202111342761.1在审
  • 刘红涛;黄莹;魏文喆;王明;王启光 - 长江存储科技有限责任公司
  • 2019-03-25 - 2022-03-04 - G11C5/02
  • 本申请公开了一种3D存储器件的数据操作方法,3D存储器件具有沿垂直于衬底的方向排列的多个存储单元串,每个存储单元串包括第一选择晶体管、第一伪存储单元、多个主存储单元、第二伪存储单元和第二选择晶体管,包括:接收擦除指令;根据擦除指令对第一伪存储单元、多个主存储单元以及第二伪存储单元执行擦除操作;在擦除操作结束后验证多个主存储单元是否擦除成功;当多个主存储单元擦除成功时,接收编程指令;根据编程指令对第一伪存储单元和第二伪存储单元执行编程操作本申请通过对伪存储单元存储单元同时擦除,然后再对伪存储单元进行编程,提高边缘存储单元的擦除效率,减少擦除次数,提高存储单元的可靠性。
  • 存储器件及其数据操作方法
  • [发明专利]3D存储器件及其数据操作方法-CN201910229050.X有效
  • 刘红涛;黄莹;魏文喆;王明;王启光 - 长江存储科技有限责任公司
  • 2019-03-25 - 2021-11-16 - G11C5/02
  • 本申请公开了一种3D存储器件的数据操作方法,3D存储器件具有沿垂直于衬底的方向排列的多个存储单元串,每个存储单元串包括第一选择晶体管、第一伪存储单元、多个主存储单元、第二伪存储单元和第二选择晶体管,包括:接收擦除指令;根据擦除指令对第一伪存储单元、多个主存储单元以及第二伪存储单元执行擦除操作;在擦除操作结束后验证多个主存储单元是否擦除成功;当多个主存储单元擦除成功时,接收编程指令;根据编程指令对第一伪存储单元和第二伪存储单元执行编程操作本申请通过对伪存储单元存储单元同时擦除,然后再对伪存储单元进行编程,提高边缘存储单元的擦除效率,减少擦除次数,提高存储单元的可靠性。
  • 存储器件及其数据操作方法
  • [发明专利]电池组和电动车-CN201380042334.9有效
  • 鹿野浩史 - 索尼公司
  • 2013-08-01 - 2017-05-24 - H01M2/10
  • 一种电池组包括多个电池单元(1);电池支撑部,其保持所述多个电池单元;连接部分(6),其连接到所述多个电池单元;和电路基板(8),其用于安装用于所述多个电池单元的电路。所述电池支撑部(2)与存储所述多个电池单元的电池单元存储单元(3)、支撑所述电池单元存储单元的基础单元(4)和冲击减缓肋(21)一体形成,且每个所述冲击减缓肋形成于所述基础单元周和每个所述电池单元存储单元的外表面之间
  • 电池组电动车
  • [发明专利]存储单元检测方法及存储器检测方法-CN201910335924.X在审
  • 杨正杰;蓝国维;孙力 - 长鑫存储技术有限公司
  • 2019-04-24 - 2020-10-30 - G11C29/12
  • 本发明涉及存储单元检测技术领域,提出一种存储单元检测方法及存储器检测方法,所述存储单元包括用于存储数据信号的存储单元存储单元检测方法包括:对所述存储单元进行功能检测;以及当所述存储单元存储功能合格时,再对所述存储单元进行至少一次所述功能检测。其中,所述功能检测包括:向所述存储单元写入高电平信号;在预设时长间隔后检查所述存储单元的电平状态;以及根据所述存储单元的电平状态判断所述存储单元存储功能状态。本公开可以精确地检测出存储单元的储存功能状态。
  • 存储单元检测方法存储器
  • [发明专利]非易失性半导体存储装置-CN201410490067.8有效
  • 细野浩司 - 东芝存储器株式会社
  • 2014-09-23 - 2019-02-01 - G11C16/24
  • 本发明提供一种使动作可靠性提高的非易失性半导体存储装置。实施方式的该装置包括:存储单元阵列、电压产生电路以及控制电路;其中若至少第1数量个存储单元在选择存储单元和半导体基板之间,电压产生电路供应写入电压到选择存储单元,供应低于写入电压的第1电压到与选择存储单元相邻的非选择存储单元,且供应低于第1电压的第2电压到与选择存储单元隔开一个非选择存储单元的非选择存储单元;若少于第2数量个存储单元在选择存储单元和半导体基板之间,电压产生电路供应写入电压到选择存储单元且供应第1电压到与选择存储单元相邻的非选择存储单元,但不供应第2电压到与选择存储单元隔开一个非选择存储单元的非选择存储单元
  • 非易失性半导体存储装置
  • [发明专利]一种适用于声纳系统的自解释的数据储存结构-CN201010140618.X无效
  • 刘维;刘纪元;黄海宁;张春华 - 中国科学院声学研究所
  • 2010-03-29 - 2010-08-04 - G01S7/52
  • 本发明涉及一种适用于声纳系统的自解释的数据储存结构,所述的数据储存结构包括:结构体数据块存储结构或声纳数据块存储结构;两种存储结构还包含数据描述存储单元和数据存储单元:所述的数据描述存储单元包含:数据头起始标志子存储单元、类型子存储单元、字节数子存储单元、数据说明子存储单元和数据头结束标志子存储单元;所述的声纳数据块存储结构的数据存储单元包含:维数子存储单元、各维大小子存储单元、数据子存储单元;所述的结构体数据块存储结构的数据存储单元包含:结构体域个数子存储单元、域名数组子存储单元、n个连续数据子存储单元。本发明提出的方法可提高各种声纳数据的交互性,降低声纳数据存储和读取的复杂性。
  • 一种适用于声纳系统解释数据储存结构
  • [发明专利]纳机电非挥发随机存取存储-CN200510068117.4有效
  • 夏令;吴文刚;甘学温;郝一龙;王阳元 - 北京大学
  • 2005-04-26 - 2006-11-01 - H01L27/10
  • 本发明涉及一种纳机电非挥发随机存取存储器,其特征在于:它主要包括设置在芯片衬底上的海量纳米级存储单元和键合在衬底上方的玻璃;每个存储单元包括一通过转子轴支撑在存储单元中心的驻极体转子,该转子两端的衬底上设有一对电极;在衬底的驻极体转子两侧设置一对受控制部件MOSFET,其中两个源/漏极作为单元的驱动/检测电极,分别与转子两端的电极相接,另两个漏/源极作为存储单元的位线,与控电路的读出/写入信号相接,栅极与控电路的存储单元字线选择信号相接本发明提供了以两个机械稳态分别表示“0”和“1”的全新概念的存储单元,用本发明的存储单元制作的存储器具有非挥发性、低功耗和高速的特点。
  • 机电挥发随机存取存储器

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