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[发明专利]一种厚度异常钞票的识别方法及系统-CN201310684625.X有效
发明人：梁添才;王晓亮;陈光;刘思伟 -专利权人：广州广电运通金融电子股份有限公司
申请日： 2013-12-12 - 公布日： 2014-03-05 - 主分类号： G07D7/02 文献下载
摘要：本发明提供了一种厚度异常钞票的识别方法及系统，通过检测厚度信号突变点的方式，能够以更小的计算量，有效地解决因谐波信号幅值波动较大导致的正常钞票误判和因信号欠采样导致的残损钞、变造币漏检等问题。本发明实施例的方法包括：多路采集钞票的厚度信号，得到多路厚度信号；对多路厚度信号预处理；根据预设规则搜索多路厚度信号内的突变点，构成突变点集合；根据突变点集合确定多路厚度信号的厚度异常可疑区域；根据厚度异常可疑区域确定多路厚度信号的厚度异常区域，并标记厚度信号异常区域的位置与面积；将多路厚度信号的厚度信号异常区域的位置与面积进行融合，得到融合结果；对融合结果进行识别，得到识别结果。
一种厚度异常钞票识别方法系统

[发明专利]一种异物检测方法、装置和计算机可读存储介质-CN201811075239.X有效
发明人：孙燕;曾友伟;贺迪龙;刘晨辉 -专利权人：广州广电运通金融电子股份有限公司
申请日： 2018-09-14 - 公布日： 2021-04-23 - 主分类号： G07D7/164 文献下载
摘要：本发明实施例公开了一种异物检测方法、装置和计算机可读存储介质，采集待检测物品的各路厚度信号；对于自身具有凸起的待检测物品，各路厚度信号中会存在待检测物品自身凸起所在位置对应的厚度信号，为了避免自身凸起对异物检测结果造成干扰，在进行异物分析之前，可以将待检测物品自身凸起所在位置对应的厚度信号删除，即从各路厚度信号中筛选出满足预设条件的待分析厚度信号；依次判断各待分析厚度信号的目标厚度值是否大于厚度阈值；当存在目标厚度值大于厚度阈值的待分析厚度信号时在进行异物检测时通过排除待检测物品自身凸起所在位置对应的厚度信号，有效的提升了检测结果的准确性。
一种异物检测方法装置计算机可读存储介质

[发明专利]一种介质厚度测量方法、装置及ATM机-CN201710115631.1有效
发明人：蒋玉萍 -专利权人：深圳怡化电脑股份有限公司;深圳市怡化时代科技有限公司;深圳市怡化金融智能研究院
申请日： 2017-02-28 - 公布日： 2019-03-12 - 主分类号： G07D7/164 文献下载
摘要：本发明属于测量领域，提供了一种介质厚度测量方法、装置及ATM机，所述方法获取待测量介质的厚度信号值；确定所述待测量介质的厚度信号值所属的预设厚度区间；获取与确定的所述厚度区间对应的标准参数，所述标准参数根据标准介质的厚度信号值与实际厚度值之间的映射关系预先设定；根据所述待测量介质的厚度信号值和所述标准参数计算所述待测量介质的实际厚度值。通过本发明实施例，根据所述待测量介质的厚度信号值和所述标准参数计算所述待测量介质的实际厚度值，所述标准参数根据标准介质的厚度信号值与实际厚度值之间的映射关系预先设定，无需额外的高精度测试治具，省去了繁琐的静态校正环节
一种介质厚度测量方法装置 atm

[发明专利]膜厚度测量方法及膜厚度测量装置-CN201810751730.3有效
发明人：近藤孝司;冈田奈雄登;荒牧裕胜;岩本胜哉 -专利权人：丰田自动车株式会社
申请日： 2018-07-10 - 公布日： 2020-07-14 - 主分类号： G01B11/06 文献下载
摘要：公开了一种膜厚度测量方法及膜厚度测量装置。使估计信号的信号波形与反射光强度信号的信号波形彼此协调，使得估计信号的信号波形中的当膜厚度等于零时的时间点与反射光强度信号的信号波形中的基点彼此一致。将与反射光的信号强度的估计值对应的膜厚度设置为薄膜在期望时间点处的膜厚度，所述反射光的信号强度与估计信号的信号波形中的对应于时间范围的膜厚度范围对应并且与反射光在期望时间点处的信号强度一致。
厚度测量方法测量装置

[发明专利]一种PCB中信号层厚度的确定方法、装置、设备及介质-CN202011052201.8在审
发明人：孙广元;荣世立 -专利权人：浪潮电子信息产业股份有限公司
申请日： 2020-09-29 - 公布日： 2020-12-25 - 主分类号： G06F30/392 文献下载
摘要：本申请公开了一种PCB中信号层厚度的确定方法，包括：预估目标PCB中信号层的目标厚度范围，并获取信号层在目标厚度范围内的目标S参数；基于信号链路完整性原则，从目标S参数中选取最佳S参数；根据最佳S参数确定信号层的最佳厚度显然，相较于现有技术而言，因为本申请所提供的信号层厚度确定方法，是通过信号层在目标厚度范围内所对应的信号链路完整性来选取信号层的最佳S参数，并利用信号层的最佳S参数来推算信号层的最佳厚度，因此，通过该方法就可以显著提高目标PCB中信号链路的完整性。相应的，本申请所提供的一种PCB中信号层厚度的确定装置、设备及介质，同样具有上述有益效果。
一种 pcb 信号厚度确定方法装置设备介质

[发明专利]厚度或表面形貌检测方法-CN200980124818.1有效
发明人：朴喜载;安祐正;金星龙;李焌赫 -专利权人：株式会社SNU精密
申请日： 2009-01-16 - 公布日： 2011-05-25 - 主分类号： G01B11/25 文献下载
摘要：本发明涉及厚度或表面形貌检测方法，根据本发明的厚度或表面形貌检测方法，利用白色光干涉计检测层叠在基底层上的薄膜层的厚度或表面形貌，其包括以下步骤：设置多个具有不同厚度的假想的薄膜层样品，并对各个薄膜层样品模拟出干涉信号，以形成与每一个厚度对应的模拟干涉信号的步骤；向所述薄膜层照射白色光，获得相对于入射到所述薄膜层的光轴方向的实际干涉信号的步骤；根据所述实际干涉信号，形成可能成为所述薄膜层厚度的多个厚度估算值的步骤；对具有与所述厚度估算值对应的厚度的模拟干涉信号与所述实际干涉信号进行比较并判断是否基本一致的步骤；以及将与所述实际干涉信号基本一致的模拟干涉信号的厚度确定为所述薄膜层的厚度的步骤。
厚度表面形貌检测方法

[发明专利]厚度测量方法及设备-CN201811261601.2有效
发明人：俞跃;蒋强 -专利权人：中国特种设备检测研究院
申请日： 2018-10-26 - 公布日： 2021-04-06 - 主分类号： G01B11/06 文献下载
摘要：本发明实施例提供一种厚度测量方法及设备，该方法包括：通过对参考信号以及主脉冲信号和回波信号叠加获得的厚度测量信号进行自相关处理，获得各自的自相关结果，并根据所述厚度测量信号和所述参考信号各自的自相关结果，确定所述待测对象的厚度，可以准确的选取主脉冲信号的峰值点和回波信号的峰值点，避免了由于主脉冲信号的峰值点和回波信号的峰值点选取不准确，导致根据主脉冲信号的峰值点和回波信号的峰值点得到的待测对象的厚度不准确的问题，提高了所确定的待测对象厚度的准确度。
厚度测量方法设备

[发明专利]一种冷轧厚度自动控制方法-CN201410514134.5在审
发明人：徐江华;李山青;黄佩杰;叶学卫;姜正连;李红梅 -专利权人：宝山钢铁股份有限公司
申请日： 2014-09-29 - 公布日： 2016-04-27 - 主分类号： B21B37/18 文献下载
摘要：一种冷轧厚度自动控制方法，其包括如下步骤：1)获取带钢的厚度偏差信号，对实测的厚度数据进行滑动平均处理，得到平滑的实测厚度信号，该实测厚度信号为带钢中心位置的厚度值；用实测厚度信号减去目标厚度，得到厚度偏差信号，单位，mm；2)计算厚度控制的增益系数；3)厚控的稳定性指标计算：4)计算压下机构的调整量，通过以上厚度自动控制方法得到执行机构的调整量，修正执行机构的设定值，从而达到调节带钢实际厚度的目的。本发明可确保整个钢卷长度方向上成品带钢厚度的一致性，对提高带钢成材率以及保证轧制过程的稳定性和可靠性具有积极意义。
一种冷轧厚度自动控制方法

[发明专利]一种中厚板厚度检测信号的处理方法及装置-CN201711304634.6有效
发明人：刘东;王云波;陆俊 -专利权人：中冶京诚工程技术有限公司;北京京诚瑞达电气工程技术有限公司
申请日： 2017-12-11 - 公布日： 2022-03-22 - 主分类号： G06K9/00 文献下载
摘要：本发明提供了一种中厚板厚度检测信号的处理方法及装置，涉及厚度检测技术领域。方法包括：获取被测试中厚板的厚度设定值以及厚度测量值；根据所述厚度设定值和所述厚度测量值进行滤波器跟踪处理，生成滤波输出值；根据所述厚度测量值进行微分限幅处理，生成微分限幅输出值；根据所述滤波输出值和所述微分限幅输出值进行信号融合本发明通过滤波器跟踪、微分限幅以及信号融合，可以共同对厚度测量值进行快速处理，从而可以消除外部干扰信号的影响，且不会产生信号滞后等不利现象。本发明可以解决目前中厚板厚度检测信号被钢板表面水膜、水雾、漫反射等因素引起的外部干扰信号的影响。
一种厚板厚度检测信号处理方法装置

[发明专利]制冰装置用冰厚度检测电路及检测方法-CN201610829794.1有效
发明人：柳玉翠;于正泽 -专利权人：柳玉翠
申请日： 2016-09-19 - 公布日： 2019-08-09 - 主分类号： G01B7/06 文献下载
摘要：本发明公开了一种制冰装置用冰厚度检测电路及检测方法，所述检测电路包括：至少两个探针，每个所述探针被配置为按照与冰层厚度相对应的位置固定；交流脉冲信号输出电路，与所述探针中作为信号输入探针的探针通过引线连接；反馈信号接收电路，与所述探针中作为信号输出探针的探针通过引线连接，接收所述交流脉冲信号经所述作为信号输入探针的探针和所述作为信号输出探针的探针之后输出的反馈信号；冰厚度判定电路，用于至少根据所述交流脉冲信号的幅度、所述反馈信号的幅度及探针与冰层厚度的对应关系判定冰厚度。应用本发明，实现对冰厚度的直接检测，提高对冰厚度检测的准确性和可靠性。
探针交流脉冲信号反馈信号厚度检测信号输出探针信号输入探针引线连接制冰装置冰层电路关系判定检测电路接收电路判定电路输出电路直接检测检测输出配置应用

[实用新型]制冰装置用冰厚度检测电路-CN201621061518.7有效
发明人：柳玉翠;于正泽 -专利权人：柳玉翠
申请日： 2016-09-19 - 公布日： 2017-03-22 - 主分类号： G01B7/06 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种制冰装置用冰厚度检测电路，所述检测电路包括至少两个探针，每个所述探针被配置为按照与冰层厚度相对应的位置固定；交流脉冲信号输出电路，与所述探针中作为信号输入探针的探针通过引线连接；反馈信号接收电路，与所述探针中作为信号输出探针的探针通过引线连接，接收所述交流脉冲信号经所述作为信号输入探针的探针和所述作为信号输出探针的探针之后输出的反馈信号；冰厚度判定电路，用于至少根据所述交流脉冲信号的幅度、所述反馈信号的幅度及探针与冰层厚度的对应关系判定冰厚度应用本实用新型，实现对冰厚度的直接检测，提高对冰厚度检测的准确性和可靠性。
装置厚度检测电路

[发明专利]一种多层混凝土结构薄层缺陷厚度检测方法、装置及终端-CN202110303424.5有效
发明人：杨勇;赵维刚;田秀淑;杨怀志 -专利权人：石家庄铁道大学;京沪高速铁路股份有限公司
申请日： 2021-03-22 - 公布日： 2023-01-06 - 主分类号： G01S13/89 文献下载
摘要：本发明适用于混凝土结构检测技术领域，提供了一种多层混凝土结构薄层缺陷厚度检测方法，包括：获取回波信号，其中，回波信号为探地雷达对混凝土结构进行探测返回的信号；利用分数阶S变换对回波信号进行预处理，以强化回波信号中对应于薄层缺陷的信号特征；基于预处理后的回波信号生成灰度图像；将灰度图像输入训练好的厚度识别模型，得到混凝土结构中薄层缺陷的厚度信息。本发明中对回波信号进行特征强化处理，可以提高对薄层缺陷厚度信息检测的精确度，通过厚度识别模型获取薄层缺陷的厚度信息，可以确定多个因素导致的薄层缺陷的厚度信息。
一种多层混凝土结构薄层缺陷厚度检测方法装置终端

[发明专利]一种用于复合材料表面涂层厚度的电磁感应测厚系统-CN201810326465.4有效
发明人：程玉华;张睿恒;于海超;白利兵;田露露;韩曙光;王彬彬 -专利权人：电子科技大学
申请日： 2018-04-12 - 公布日： 2019-08-20 - 主分类号： G01B7/06 文献下载
摘要：本发明公开了一种用于复合材料表面涂层厚度的电磁感应测厚系统，包括探头、信号发生模块、信号调理电路和数据处理单元；其中，探头为变磁阻式探头，当信号发生模块对其施加激励信号后，探头内部会形成磁路，而探头的磁阻会受所接触材料的导磁性影响；信号调理电路对阻抗交流信号进行锁相放大处理，获得反映涂层厚度的直流信号，将直流信号输入数据处理单元，经过模数转化后获得表征涂层厚度的数字信号，将多组已知厚度和对应数字信号的数据作为训练数据输入数据处理单元中的线性回归模型得到厚度与数字信号间的拟合曲线，进而实现对厚度的测量。
探头数字信号输入数据处理单元复合材料表面信号调理电路信号发生模块测厚系统电磁感应直流信号数据处理单元线性回归模型激励信号交流信号接触材料模数转化拟合曲线锁相放大训练数据磁阻式导磁性磁路磁阻阻抗测量施加

[实用新型]一种用于复合材料表面涂层厚度的电磁感应测厚系统-CN201820517876.7有效
发明人：程玉华;韩曙光;王彬彬;张睿恒;白利兵;于海超 -专利权人：电子科技大学
申请日： 2018-04-12 - 公布日： 2018-10-12 - 主分类号： G01B7/06 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种用于复合材料表面涂层厚度的电磁感应测厚系统，包括探头、信号发生模块、信号调理电路和数据处理单元；其中，探头为变磁阻式探头，当信号发生模块对其施加激励信号后，探头内部会形成磁路，而探头的磁阻会受所接触材料的导磁性影响；信号调理电路对阻抗交流信号进行锁相放大处理，获得反映涂层厚度的直流信号，将直流信号输入数据处理单元，经过模数转化后获得表征涂层厚度的数字信号，将多组已知厚度和对应数字信号的数据作为训练数据输入数据处理单元中的线性回归模型得到厚度与数字信号间的拟合曲线，进而实现对厚度的测量。
探头数字信号输入数据处理单元复合材料表面信号调理电路信号发生模块测厚系统电磁感应直流信号数据处理单元线性回归模型本实用新型激励信号交流信号接触材料模数转化拟合曲线锁相放大训练数据磁阻式导磁性磁路磁阻阻抗测量施加

[发明专利]用于检测研磨工艺的终点的设备-CN201910917216.7在审
发明人：茅一超;张进传;卢思维 -专利权人：台湾积体电路制造股份有限公司
申请日： 2019-09-26 - 公布日： 2020-06-09 - 主分类号： H01L21/66 文献下载
摘要：连接器件连接到传感器，所述传感器周期性地感测包括至少两种类型的多个管芯的重建晶片的接口以产生厚度信号，所述厚度信号包括从重建晶片的绝缘层的表面到重建晶片的接口的厚度。计时器配置以产生具有带时间间隔的多个脉冲的时钟信号。控制器耦合到传感器和计时器，且配置以根据时钟信号对厚度信号进行滤波以输出在每一时间间隔内的厚度信号中的厚度当中的厚度极值，其中在滤波之后的厚度信号用以确定正对重建晶片执行的研磨工艺的终点。
用于检测研磨工艺终点设备

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