[发明专利]半导体封装及其制造方法在审
申请号: | 202211055697.3 | 申请日: | 2022-08-31 |
公开(公告)号: | CN115732444A | 公开(公告)日: | 2023-03-03 |
发明(设计)人: | 李政昊;李斗焕 | 申请(专利权)人: | 三星电子株式会社 |
主分类号: | H01L23/485 | 分类号: | H01L23/485;H01L21/48 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人: | 纪雯;倪斌 |
地址: | 韩国*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 一种半导体封装包括:再分布部,包括绝缘层、再分布层和再分布通孔;凸块下金属(UBM)层,在再分布部下方,并且UBM层包括在再分布部的下表面上的UBM焊盘和在UBM焊盘上以穿透绝缘层的UBM通孔;半导体芯片,在再分布部的上表面上,并电连接到再分布层;粘合层,在UBM层与绝缘层之间,并且包括导电材料;以及连接凸块,在UBM焊盘下方,并连接到UBM层。UBM焊盘具有第一直径,且UBM通孔具有小于第一直径的第二直径,以及UBM焊盘的上表面位于与绝缘层的下表面相同的高度处、或比绝缘层的下表面低的高度处。 | ||
搜索关键词: | 半导体 封装 及其 制造 方法 | ||
【主权项】:
暂无信息
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