[发明专利]一种半导体结构及其制备方法、三维器件在审

专利信息
申请号: 202111458701.6 申请日: 2021-12-02
公开(公告)号: CN114388464A 公开(公告)日: 2022-04-22
发明(设计)人: 焦斌斌;贾士奇;刘瑞文;孔延梅;云世昌 申请(专利权)人: 中国科学院微电子研究所
主分类号: H01L23/48 分类号: H01L23/48;H01L21/768
代理公司: 北京知迪知识产权代理有限公司 11628 代理人: 王胜利
地址: 100029 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明公开半导体结构及其制备方法、三维器件,涉及三维器件技术领域,用于提供一种具有低残余应力的通孔结构的技术方案。所述半导体结构包括:半导体基底;所述半导体基底中形成有纺锤状通孔结构,所述纺锤状通孔结构包括多个纺锤状通孔;形成在每个所述纺锤状通孔的侧壁上的叠层结构;以及填充在每个所述纺锤状通孔内的金属互连结构,其中,所述金属互连结构与所述叠层结构相接触,所述金属互连结构的顶部与底部具有实心结构,所述金属互连结构的中间部分具有真空空心结构。
搜索关键词: 一种 半导体 结构 及其 制备 方法 三维 器件
【主权项】:
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