[发明专利]电容器及其制作方法在审
申请号: | 201980001973.8 | 申请日: | 2019-09-17 |
公开(公告)号: | CN110785840A | 公开(公告)日: | 2020-02-11 |
发明(设计)人: | 陆斌;沈健 | 申请(专利权)人: | 深圳市汇顶科技股份有限公司 |
主分类号: | H01L23/64 | 分类号: | H01L23/64;H01L49/00;H01L21/82 |
代理公司: | 11329 北京龙双利达知识产权代理有限公司 | 代理人: | 徐勇勇;毛威 |
地址: | 518045 广东省深*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 本申请实施例提供一种电容器及其制作方法,电容器包括:非半导体衬底;第一半导体层,设置于非半导体衬底的上方,第一半导体层形成有至少一个第一沟槽阵列;至少一个第一叠层结构,设置于第一半导体层上方且填满至少一个第一沟槽阵列,第一叠层结构包括N层导电层和M层电介质层,N层导电层和M层电介质层形成导电层与电介质层彼此相邻的结构,N、M为正整数;至少一个第一外接电极电连接至N层导电层中的所有奇数层导电层;至少一个第二外接电极电连接至N层导电层中的所有偶数层导电层。 | ||
搜索关键词: | 导电层 半导体层 电介质层 电容器 导电层中 叠层结构 非半导体 沟槽阵列 外接电极 电连接 衬底 偶数层 奇数层 正整数 填满 申请 制作 | ||
【主权项】:
1.一种电容器,其特征在于,包括:/n非半导体衬底;/n第一半导体层,设置于所述非半导体衬底的上方,所述第一半导体层形成有至少一个第一沟槽阵列;/n至少一个第一叠层结构,设置于所述第一半导体层上方且填满所述至少一个第一沟槽阵列,所述第一叠层结构包括N层导电层和M层电介质层,所述N层导电层和所述M层电介质层形成导电层与电介质层彼此相邻的结构,N、M为正整数;/n至少一个第一外接电极,所述第一外接电极电连接至所述N层导电层中的所有奇数层导电层;/n至少一个第二外接电极,所述第二外接电极电连接至所述N层导电层中的所有偶数层导电层。/n
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