[发明专利]一种基于氧化物半导体的高性能静态随机读取存储器及其制备方法在审
申请号: | 201811167145.5 | 申请日: | 2018-10-08 |
公开(公告)号: | CN109524401A | 公开(公告)日: | 2019-03-26 |
发明(设计)人: | 辛倩;杨进;宋爱民 | 申请(专利权)人: | 山东大学 |
主分类号: | H01L27/11 | 分类号: | H01L27/11;H01L29/24;H01L29/786;H01L21/34 |
代理公司: | 济南金迪知识产权代理有限公司 37219 | 代理人: | 杨树云 |
地址: | 250199 山*** | 国省代码: | 山东;37 |
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摘要: | 本发明涉及一种基于氧化物半导体的高性能静态随机读取存储器及其制备方法,由6个N型薄膜晶体管,或2个P型和4个N型薄膜晶体管组成;衬底为柔性衬底,N、P型薄膜晶体管的半导体层分别采用N型、P型金属氧化物材料。本发明的存储器的制作方法,包括:a).制备栅极;b).制备栅介质层;c).刻蚀互连线通孔;d).制备SnO半导体层;e).退火处理;f).制备IGZO半导体层;g).制备源、漏电极;h).退火处理。本发明通过N、P型场效应管来形成互补的存储器,具有很高且均衡的读写噪声容限和非常快的读写速度,可被广泛地用于诸如可穿戴设备的大规模柔性电路中,突破了现有SRAM性能低的限制。 | ||
搜索关键词: | 制备 半导体层 随机读取存储器 氧化物半导体 退火处理 存储器 衬底 读写 可穿戴设备 氧化物材料 柔性电路 噪声容限 栅介质层 互连线 漏电极 刻蚀 通孔 均衡 制作 | ||
【主权项】:
1.一种基于氧化物半导体的高性能静态随机读取存储器,其特征在于,包括6个薄膜晶体管,6个薄膜晶体管为6个N型薄膜晶体管,或者6个薄膜晶体管包括2个P型薄膜晶体管和4个N型薄膜晶体管,所述N型薄膜晶体管的有源层的材质为N型氧化物半导体,所述P型薄膜晶体管的有源层的材质为P型氧化物半导体。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的
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