[发明专利]动态随机存取存储器的位线栅极结构及形成方法在审

专利信息
申请号: 201611246141.7 申请日: 2016-12-29
公开(公告)号: CN108257958A 公开(公告)日: 2018-07-06
发明(设计)人: 吴姿锦;刘玮鑫;陈意维;陈美玲;张家隆;张景翔;李瑞珉;郑存闵;卢琳蓁;邹世芳;张凯钧;蔡志杰;陈姿洁;吴佳臻 申请(专利权)人: 联华电子股份有限公司;福建省晋华集成电路有限公司
主分类号: H01L27/108 分类号: H01L27/108
代理公司: 北京市柳沈律师事务所 11105 代理人: 陈小雯
地址: 中国台湾*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要: 发明公开一种形成动态随机存取存储器的位线栅极结构及形成方法,该形成方法包含有形成一硬掩模层于一金属堆叠结构上,其中硬掩模层是以一化学气相沉积制作工艺形成,且化学气相沉积制作工艺先通入氮气再通入氨气。另外,本发明更提供一种以此方法形成的动态随机存取存储器的位线栅极结构,包含有一金属堆叠结构以及一硬掩模。金属堆叠结构由下至上包含一多晶硅层、一钛层、一氮化钛层、一第一氮化钨层、一钨层以及一第二氮化钨层。硬掩模设置于金属堆叠结构上。
搜索关键词: 堆叠结构 动态随机存取存储器 栅极结构 位线 金属 化学气相沉积 氮化钨层 硬掩模层 制作工艺 硬掩模 氨气 氮气 一氮化钛层 多晶硅层 钨层 钛层
【主权项】:
1.一种形成动态随机存取存储器的位线栅极结构的方法,包含有:形成一硬掩模层于一金属堆叠结构上,其中该硬掩模层是以一化学气相沉积制作工艺形成,且该化学气相沉积制作工艺先通入氮气再通入氨气。
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