[发明专利]动态随机存取存储器的位线栅极结构及形成方法在审

专利信息
申请号: 201611246141.7 申请日: 2016-12-29
公开(公告)号: CN108257958A 公开(公告)日: 2018-07-06
发明(设计)人: 吴姿锦;刘玮鑫;陈意维;陈美玲;张家隆;张景翔;李瑞珉;郑存闵;卢琳蓁;邹世芳;张凯钧;蔡志杰;陈姿洁;吴佳臻 申请(专利权)人: 联华电子股份有限公司;福建省晋华集成电路有限公司
主分类号: H01L27/108 分类号: H01L27/108
代理公司: 北京市柳沈律师事务所 11105 代理人: 陈小雯
地址: 中国台湾*** 国省代码: 中国台湾;71
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 堆叠结构 动态随机存取存储器 栅极结构 位线 金属 化学气相沉积 氮化钨层 硬掩模层 制作工艺 硬掩模 氨气 氮气 一氮化钛层 多晶硅层 钨层 钛层
【说明书】:

发明公开一种形成动态随机存取存储器的位线栅极结构及形成方法,该形成方法包含有形成一硬掩模层于一金属堆叠结构上,其中硬掩模层是以一化学气相沉积制作工艺形成,且化学气相沉积制作工艺先通入氮气再通入氨气。另外,本发明更提供一种以此方法形成的动态随机存取存储器的位线栅极结构,包含有一金属堆叠结构以及一硬掩模。金属堆叠结构由下至上包含一多晶硅层、一钛层、一氮化钛层、一第一氮化钨层、一钨层以及一第二氮化钨层。硬掩模设置于金属堆叠结构上。

技术领域

本发明涉及一种动态随机存取存储器的位线栅极结构及形成方法,且特别是涉及一种依序通入氮气及氨气形成硬掩模层的动态随机存取存储器的位线栅极结构及形成方法。

背景技术

随机存取存储器(RAM:Random Access Memory)使用时可以读取数据也可以写入数据,当电源关闭以后数据立刻消失。由于随机存取存储器的数据更改容易,所以一般应用在个人电脑做为暂时存储数据的存储器。随机存取存储器又可以细分为「动态(Dynamic)」与「静态(Static)」两种。

「静态随机存取存储器(SRAM:Static RAM)」是以6个晶体管来存储1个位(1bit)的数据,而且使用时不需要周期性地补充电源来保持存储的内容,故称为「静态(Static)」。静态随机存取存储器的构造较复杂(6个晶体管存储1个位的数据)使得存取速度较快,但是成本也较高,因此一般都制作成对容量要求较低但是对速度要求较高的存储器,例如:个人电脑的中央处理器(CPU)内建256KB或512KB的快取存储器(Cache Memory)。

「动态随机存取存储器(DRAM:Dynamic RAM)」是以1个晶体管加上1个电容来存储1个位(1bit)的数据,而且使用时必须要周期性地补充电源来保持存储的内容,故称为「动态(Dynamic)」。动态随机存取存储器构造较简单(1个晶体管加上1个电容来存储1个位的数据)使得存取速度较慢(电容充电放电需要较长的时间),但是成本也较低,因此一般都制作成对容量要求较高但是对速度要求较低的存储器,例如:个人电脑主机板上通常使用的主存储器(main memory)。

承上,快取存储器是用来存储一些经常使用到的信息,把这些经常用到的信息放在速度较快的快取存储器中可以使中央处理器很快的取得这些信息,而不需要再到速度较慢的主存储器中去寻找,如此一来可使中央处理器处理的速度加快。因此,中央处理器的速度决定了电脑运算数据及处理信息的快慢,而主存储器的容量则决定了电脑可以存储信息的多寡。

发明内容

本发明提出一种动态随机存取存储器的位线栅极结构及形成方法,其以先通入氮气再通入氨气的化学气相沉积制作工艺形成硬掩模层,故可减少氮化硬掩模层下方的金属层,进而减少金属层与硬掩模层之间的电阻。

本发明提供一种形成动态随机存取存储器的位线栅极结构的方法,包含有形成一硬掩模层于一金属堆叠结构上,其中硬掩模层是以一化学气相沉积制作工艺形成,且化学气相沉积制作工艺先通入氮气(N2)再通入氨气(NH3)。

本发明提供一种动态随机存取存储器的位线栅极结构,包含有一金属堆叠结构以及一硬掩模。金属堆叠结构由下至上包含一多晶硅层、一钛层、一氮化钛层、一第一氮化钨层、一钨层以及一第二氮化钨层。硬掩模设置于金属堆叠结构上。

基于上述,本发明提出一种动态随机存取存储器的位线栅极结构及形成方法,其以先通入氮气(N2)再通入氨气(NH3)的一化学气相沉积制作工艺形成一硬掩模层,故可减少氮化硬掩模层下方的一金属层,因而减少由氮化金属层而形成的第二氮化钨层的厚度以及具有的氮比例,进而降低金属层与硬掩模层之间的电阻。

附图说明

图1-图4为本发明较佳实施例形成动态随机存取存储器的位线栅极结构的方法示意图;

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于联华电子股份有限公司;福建省晋华集成电路有限公司,未经联华电子股份有限公司;福建省晋华集成电路有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201611246141.7/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top