[发明专利]半导体封装及其制造方法有效
申请号: | 201010265441.6 | 申请日: | 2010-08-26 |
公开(公告)号: | CN102208374A | 公开(公告)日: | 2011-10-05 |
发明(设计)人: | 林志荣;卢明 | 申请(专利权)人: | 香港应用科技研究院有限公司 |
主分类号: | H01L23/367 | 分类号: | H01L23/367;H01L21/50;H01L33/64 |
代理公司: | 北京律盟知识产权代理有限责任公司 11287 | 代理人: | 孟锐 |
地址: | 中国香港新界沙田香港科*** | 国省代码: | 中国香港;81 |
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摘要: | 本发明涉及一种半导体封装及其制造方法。本发明的半导体封装包含:衬底,其具有穿透其的透孔;半导体芯片,其定位于所述衬底上,覆盖所述透孔;以及热传导装置,其填充所述透孔且接触所述半导体芯片。根据本发明,显著减少了所述半导体封装的结构中的热阻,且因此实现热量扩散或耗散的合意性能。另外,还减小了所述半导体封装的生产成本和大小。 | ||
搜索关键词: | 半导体 封装 及其 制造 方法 | ||
【主权项】:
一种半导体封装,其包含:衬底,其具有穿透其的透孔;半导体芯片,其定位于所述衬底上,覆盖所述透孔;以及热传导装置,其填充所述透孔且接触所述半导体芯片。
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