[发明专利]覆晶封装结构及其制程有效

专利信息
申请号: 200810092121.8 申请日: 2008-04-03
公开(公告)号: CN101552245A 公开(公告)日: 2009-10-07
发明(设计)人: 刘光华 申请(专利权)人: 南茂科技股份有限公司
主分类号: H01L23/31 分类号: H01L23/31;H01L23/488;H01L21/50;H01L21/56;H01L21/60
代理公司: 上海专利商标事务所有限公司 代理人: 陈 亮
地址: 台湾省新竹科学*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要: 发明揭示一种覆晶封装结构和封装制程。覆晶封装结构包括一芯片承载器、一芯片、多个凸块、一非导电胶体以及一挡墙。芯片承载器具有多个第一接点。芯片具有一有源表面以及多个位于有源表面上的焊垫,其中这些焊垫配置于芯片的有源表面的一中心区域内。凸块配置于焊垫上以使第一接点与焊垫电性连接。非导电胶体配置于芯片与芯片承载器之间以包覆凸块。挡墙配置于芯片与芯片承载器之间,且位于被非导电胶体包覆的凸块周边,而且挡墙与有源表面的部分区域接触。
搜索关键词: 封装 结构 及其
【主权项】:
1.一种覆晶封装结构,包括:一芯片承载器,具有多个第一接点;一芯片,具有一有源表面以及多个位于该有源表面上的焊垫,其中该些焊垫配置于该有源表面的一中心区域内;多个凸块,配置于该些焊垫上,使该些第一接点与该些焊垫电性连接;一非导电胶体,配置于该芯片与该芯片承载器之间以包覆该些凸块;以及一挡墙,配置于该芯片与该芯片承载器之间,且位于被该非导电胶体包覆的该些凸块周边,其中该挡墙与该有源表面的部分区域接触。
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