[发明专利]半导体封装结构有效

专利信息
申请号: 200710085044.9 申请日: 2007-02-28
公开(公告)号: CN101118889A 公开(公告)日: 2008-02-06
发明(设计)人: 牛保刚;曹佩华;蔡豪益;萧永宽;王忠裕;侯上勇;林裕庭 申请(专利权)人: 台湾积体电路制造股份有限公司
主分类号: H01L23/488 分类号: H01L23/488;H01L23/498
代理公司: 隆天国际知识产权代理有限公司 代理人: 陈晨
地址: 中国台*** 国省代码: 中国台湾;71
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明提供一种半导体封装结构,包括:一封装基板,其具有一表面,用以接受一半导体芯片,该半导体芯片面对面连接至该封装基板,该表面上具有以多个接触垫构成的一图案,其中,各接触垫用以接受该半导体芯片的一焊接凸块,该图案包括一中央区、一外部区以及一过渡区,其中,该外部区围绕该中央区,该过渡区在该中央区及该外部区之间,且该过渡区的图案密度小于该中央区及该外部区的图案密度。本发明的半导体封装结构可使助焊剂的清洁处理更有效率且更完全,且可避免焊接凸块周围的底部填胶材料剥离,进而增加芯片倒装焊封装处理的可靠度。
搜索关键词: 半导体 封装 结构
【主权项】:
1.一种半导体封装结构,其包括:一封装基板,其具有一表面,用以接受一半导体芯片,该半导体芯片面对面连接至该封装基板,该表面上具有以多个接触垫构成的一图案,其中,各接触垫用以接受该半导体芯片的一焊接凸块,该图案包括一中央区、一外部区以及一过渡区,其中,该外部区围绕该中央区,该过渡区在该中央区及该外部区之间,且该过渡区中接触垫的图案密度小于该中央区中接触垫的图案密度及该外部区中接触垫的图案密度。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于台湾积体电路制造股份有限公司,未经台湾积体电路制造股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/200710085044.9/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top