专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]一种制备可延展柔性无机电子器件的装置及方法-CN201610826153.0有效
  • 潘开林;秦晴;杨帆;李婷婷;曹威武;王琳 - 桂林电子科技大学
  • 2016-09-18 - 2023-04-14 - H01L21/67
  • 本发明公开一种制备可延展柔性无机电子器件的装置,包括圆筒支架、至少2条拉伸导槽、至少2个固定夹持件和至少2个拉伸夹持件;每条拉伸导槽沿圆筒支架的圆周方向延伸,且所有拉伸导槽相互平行地环设在圆筒支架上;每个固定夹持件固定在圆筒支架上,且所有固定夹持件均处于圆筒支架的同一条母线上;每个拉伸夹持件均嵌设在1条拉伸导槽内,所有拉伸夹持件在其所处拉伸导槽内沿圆筒支架的圆周方向移动。本发明不仅能够增加黏附的可靠性,而且一定程度上提高了可延展电子在受到变形作用时延展率;具有操作简单、方便,制造成本低,可靠性高,可实现小规模、大规模制造的特点;特别适用于可延展无机电子器件的制备。
  • 一种制备延展柔性无机电子器件装置方法
  • [发明专利]一种基于IMC厚度控制的再流焊工艺参数可靠性的设计方法-CN202011017534.7有效
  • 潘开林;李艺璇;龚雨兵;黄伟;李通;滕天杰 - 桂林电子科技大学
  • 2020-09-24 - 2023-01-03 - G06F30/39
  • 本发明公开了基于IMC厚度控制的再流焊工艺参数可靠性的设计方法,包括:确定回流焊的工艺参数,包括:第一工艺参数和第二工艺参数;基于所述回流焊的第一工艺参数完成正交实验,得到正交实验结果;基于所述第一工艺参数对样品对进行焊接,得到镶样样品;确定镶样样品的IMC的实际厚度;基于所述正交实验结果得到所述工艺参数与IMC的厚度的关系式;基于所述第二工艺参数以及所述第一工艺参数与IMC的厚度的关系式,得到IMC的理论厚度;通过所述IMC的实际厚度与所述IMC的理论厚度对所述第二工艺参数进行优化,输出优化的工艺参数。本发明提供了一种将IMC厚度和工艺参数连接起来的方法,建立工艺参数与IMC厚度的关系式。根据关系式可以得到较为准确的工艺参数设置条件。
  • 一种基于imc厚度控制焊工参数可靠性设计方法
  • [实用新型]一种用于芯片封装的缓冲装置-CN202220528517.8有效
  • 黄兆岭;李思远;卢淼兰;陆家淇;潘开林;李春泉;杨道国 - 桂林电子科技大学
  • 2022-03-11 - 2022-08-09 - B29C45/14
  • 本实用新型公开了一种用于芯片封装的缓冲装置,包括缸体、滑套和活塞杆,所述缸体呈内部中空的长方体结构,缸体尾端开设螺纹孔,缸体中部设有隔板,隔板与缸体头端之间注入粘滞介质,所述滑套位于缸体头端且套设于缸体外,活塞杆尾端依次贯穿滑套、缸体头端和隔板位于缸体内,且活塞杆与滑套、缸体和隔板滑动连接,活塞杆靠近头端处设有限位板,所述限位板与滑套之间和滑套与缸体头端之间分别连接有阻尼弹簧,活塞杆尾端固定连接位移传感器;本装置通过粘滞介质的移动以及阻尼弹簧形成缓冲作用,实现对芯片的保护,解决目前热塑封装容易引起引线键合偏移导致芯片失效的问题,并通过位移传感器实时监控,便于找出失效器件。
  • 一种用于芯片封装缓冲装置
  • [实用新型]一种芯片封装装置-CN202220529112.6有效
  • 黄兆岭;李思远;卢淼兰;陆家淇;潘开林;李春泉;杨道国 - 桂林电子科技大学
  • 2022-03-11 - 2022-07-05 - H01L23/04
  • 本实用新型公开了一种芯片封装装置,包括盖板和底座,盖板包括逐层叠加的盖板基底圆片、散热层和吸湿层,盖板基底圆片上均匀间隔预定距离开设若干个微孔洞,散热层对应微孔洞开设若干个微流控通道,微流控通道与微孔洞连通,吸湿层上开设若干个吸水孔,吸水孔与微流控通道连通;底座包括底座基底圆片,芯片安装在底座基底圆片上方中部并通过键合线与底座基底圆片电气连接,所述底座基底圆片的下方进行BGA植球,作为芯片与外界连接的端口;所述盖板与底座卡合后通过平行焊缝连接。本实用新型解决了目前注塑封装存在部分器件吸收水汽出现分层开裂以及注塑时容易导致引线键合,降低芯片质量甚至导致芯片失效的问题。
  • 一种芯片封装装置
  • [发明专利]一种芯片封装结构及其制备方法-CN202210238976.7在审
  • 黄兆岭;可帅;李思远;潘开林;李春泉;杨道国 - 桂林电子科技大学
  • 2022-03-11 - 2022-05-06 - H01L23/04
  • 本发明公开了一种芯片封装结构及其封装方法,封装结构包括盖板和底座,盖板包括逐层叠加的盖板基底圆片、散热层和吸湿层,盖板基底圆片上均匀间隔预定距离开设若干个微孔洞,散热层对应微孔洞开设若干个微流控通道,微流控通道与微孔洞连通,吸湿层上开设若干个吸水孔,吸水孔与微流控通道连通;底座包括底座基底圆片,芯片安装在底座基底圆片上方中部并通过键合线与底座基底圆片电气连接,所述底座基底圆片的下方进行BGA植球,作为芯片与外界连接的端口;所述盖板与底座卡合后通过平行焊缝连接。本发明解决了目前注塑封装存在部分器件吸收水汽出现分层开裂以及注塑时容易导致引线键合,降低芯片质量甚至导致芯片失效的问题。
  • 一种芯片封装结构及其制备方法
  • [发明专利]一种热风再流焊工艺稳健优化设计方法-CN202011203258.3有效
  • 龚雨兵;陈蔡;潘开林;郑毅;车飞;沈鸿桥;周红达;黄伟 - 桂林电子科技大学
  • 2020-11-02 - 2022-02-18 - G06F30/20
  • 本发明公开一种热风再流焊工艺的稳健优化设计方法,首先通过建立精确的再流焊工艺温度场仿真模型,再通过确定目标以及约束条件,建立各噪声因素和设计变量对目标以及约束条件的灵敏度分析方法,筛选对加热因子影响较显著的噪声因素以及设计变量。接着通过对新的设计变量、噪声因素抽样重新获得样本点,构建预测目标函数以及约束函数的代理模型;采用基于响应面优化,获取最优方案确定解,验证代理模型构建的响应面的精度,对最优解进行稳健性评估;最后获取最稳健解,对最稳健解带入原仿真模型进行可靠性分析,验证稳健性,进而能够根据稳健性目标值进行工艺参数优化设计以保障工艺结果具有稳健性。
  • 一种热风焊工稳健优化设计方法
  • [发明专利]一种热风再流焊工艺的稳健性与可靠性综合优化设计方法-CN202110964075.1在审
  • 龚雨兵;覃杨;陈蔡;潘开林;黄伟;王雪莹 - 桂林电子科技大学
  • 2021-08-21 - 2021-11-12 - G06F30/23
  • 本发明公开了一种热风再流焊工艺的稳健性与可靠性综合优化设计方法,包括建立热风再流焊工艺仿真模型,得到工艺参数与焊点温度曲线之间的对应关系,并将工艺参数和焊点温度曲线进行参数化;以焊点的热疲劳寿命作为可靠性评价指标,优化热疲劳寿命至最大的同时进行稳健性优化设计,以焊点的峰值温度、超液相线时间、冷却速率、加热因子、升温速率和保温时间工艺性能参数作为稳健性评价指标,将其作为综合优化设计的约束条件;建立响应面代理模型;对代理模型进行确定性优化;最后采用自适应响应面优化方法,对代理模型进行稳健性与可靠性综合优化设计,以6σ为设计准则,迭代计算,最终得到一组最为稳健和可靠的工艺参数。
  • 一种热风焊工稳健可靠性综合优化设计方法
  • [发明专利]一种新型BGA焊点热疲劳仿真分析方法-CN202110743006.8在审
  • 龚雨兵;方俊雄;周红达;潘开林;黄伟;滕天杰;郑毅 - 桂林电子科技大学
  • 2021-07-01 - 2021-09-28 - G06F30/20
  • 本发明公开了一种新型BGA焊点热疲劳仿真分析方法,首先通过建立热风再流焊BGA群焊点形态预测模型,模拟热风再流焊接后中BGA群焊点的形态。其次,在BGA群焊点形态预测模型的基础上建立PCBA的热力耦合仿真模型,仿真BGA焊点在热循环载荷下的应力应变情况。根据应力应变结果,选取BGA群焊点中关键焊点,创建针对关键BGA焊点的包含焊点形态和IMC初始厚度的子模型。经仿真分析,得出关键BGA焊点在热循环载荷下的应力应变情况。最后基于塑性应变范围和Coffin‑Manson公式计算焊点热疲劳寿命,得到在热循环条件下的热疲劳寿命。本发明分析流程简洁、能够综合考虑BGA群焊点的形态和IMC初始厚度,提高了BGA热疲劳寿命预测精度。
  • 一种新型bga焊点热疲劳仿真分析方法

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