[发明专利]半导体封装结构在审
申请号: | 202310339700.2 | 申请日: | 2023-03-31 |
公开(公告)号: | CN116314058A | 公开(公告)日: | 2023-06-23 |
发明(设计)人: | 彭丙国;钱开友;黄盛华 | 申请(专利权)人: | 鼎道智芯(上海)半导体有限公司 |
主分类号: | H01L23/31 | 分类号: | H01L23/31;H01L23/367;H01L23/40 |
代理公司: | 北京派特恩知识产权代理有限公司 11270 | 代理人: | 杜志兰;张颖玲 |
地址: | 201203 上海市浦东新区中国(*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 半导体 封装 结构 | ||
本申请实施例公开了一种半导体封装结构,包括:基板;芯片,贴附于所述基板的顶表面上;加强结构,环绕所述芯片贴附于所述基板的顶表面上;所述加强结构包括加强环、对称设置在所述加强环内侧、且与所述加强环构成封闭图形的至少一个加强筋;其中,所述加强筋与所述加强环位于同一平面内。
技术领域
本申请实施例涉及半导体封装技术领域,涉及但不限于一种半导体封装结构。
背景技术
倒装芯片球栅格阵列(Flip Chip Ball Grid Array,FCBGA)封装工艺中的温度波动可能会产生过多的热应力,从而会导致半导体集成电路封装翘曲。相关技术中,为了避免封装翘曲通常采用在基板上贴金属环和/或在基板上贴散热盖的方式。
然而,一方面,由于金属环的尺寸有限,对封装翘曲的抑制作用有限;另一方面,由于散热盖和基板接触面积小,容易出现掉盖子的问题,也不能很好地抑制封装翘曲。
发明内容
有鉴于此,本申请实施例提供一种半导体封装结构。
本申请实施例的技术方案是这样实现的:
本申请实施例提供一种半导体封装结构,包括:
基板;
芯片,贴附于所述基板的顶表面上;
加强结构,环绕所述芯片贴附于所述基板的顶表面上;所述加强结构包括加强环、对称设置在所述加强环内侧、且与所述加强环构成封闭图形的至少一个加强筋;其中,所述加强筋与所述加强环位于同一平面内。
在一些实施例中,所述加强环的任意相邻两个边构成夹角;
所述加强筋与所述加强环的夹角构成所述封闭图形。
在一些实施例中,还包括:贴附于所述顶表面上、且与所述基板电连接的器件;
所述器件位于所述芯片与所述加强环之间的基板的顶表面上。
在一些实施例中,设置于所述加强环任意相邻两个夹角的所述加强筋的端点不相交;所述加强结构还包括:位于任意两个所述加强筋之间的子加强筋;所述子加强筋与所述加强筋位于同一平面内。
在一些实施例中,任意相邻的两个所述子加强筋的端点相交、且交点位于所述子加强筋上;或者,任意相邻的两个所述子加强筋的端点不相交。
在一些实施例中,还包括:贴附于所述顶表面上、且与所述基板电连接的器件;
所述器件设置于所述子加强筋与所述加强筋、所述加强环构成的区域内。
在一些实施例中,设置于所述加强环任意相邻两个夹角的所述加强筋的端点相交,且交点位于所述加强环上;
所述器件设置于所述加强筋与所述加强环构成的封闭图形内。
在一些实施例中,还包括:散热结构;
其中,所述散热结构至少边缘固定于所述加强环表面。
在一些实施例中,所述散热结构包括散热片,所述加强环的高度与所述加强筋的高度相等,所述散热片固定于所述加强环和所述加强筋的顶部;
或者,
所述散热结构包括散热盖,所述散热盖包括顶盖和侧盖,所述侧盖顶部连接所述顶盖,所述侧盖底部与所述加强环固定连接;所述加强环的高度小于所述加强筋的高度,且所述加强筋的顶部连接所述顶盖。
在一些实施例中,所述芯片底部与所述基板电连接,所述芯片的顶部与所述散热结构相接触;
所述芯片与所述基板之间填充有粘结剂,所述加强筋和/或所述子加强筋设置于所述粘结剂的外侧。
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