[实用新型]半导体封装装置有效

专利信息
申请号: 202222062556.6 申请日: 2022-08-05
公开(公告)号: CN217881497U 公开(公告)日: 2022-11-22
发明(设计)人: 刘洪波;李文瑞;孙雪萍;郭金明 申请(专利权)人: 苏州旭创科技有限公司
主分类号: H01L23/552 分类号: H01L23/552;H01L23/31
代理公司: 深圳紫藤知识产权代理有限公司 44570 代理人: 黄威
地址: 215127 江*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 半导体 封装 装置
【权利要求书】:

1.一种半导体封装装置,其特征在于,所述半导体封装装置包括:

基板,其上表面设有元件区域和屏蔽区域,所述屏蔽区域设置于所述元件区域的外周;

电子元件,其对应设置于所述元件区域内,且电连接至所述基板;

两个屏蔽件,设置于所述屏蔽区域内,且所述两个屏蔽件相对设置;以及

多条屏蔽线,所述屏蔽线用于连接所述两个屏蔽件,且跨越所述电子元件。

2.根据权利要求1所述的半导体封装装置,其特征在于,还包括:

屏蔽连接件,其设置于所述两个屏蔽件之间的电子元件上;

所述屏蔽线包括第一屏蔽线和第二屏蔽线,所述第一屏蔽线的一端连接至所述两个屏蔽件中的一个,所述第一屏蔽线的另一端连接至所述屏蔽连接件的一侧,所述第二屏蔽线的一端连接至所述两个屏蔽件中的另一个,所述第二屏蔽线的另一端连接至所述屏蔽连接件的另一侧。

3.根据权利要求2所述的半导体封装装置,其特征在于,所述屏蔽件和所述屏蔽连接件均包括:

绝缘层;以及

金属屏蔽膜层,其设置于所述绝缘层上。

4.根据权利要求3所述的半导体封装装置,其特征在于,

所述绝缘层所采用的材质为氮化铝陶瓷、氧化铝陶瓷、氮化硅陶瓷、氧化锆陶瓷、碳化硅陶瓷中的一种。

5.根据权利要求2所述的半导体封装装置,其特征在于,

所述屏蔽件的高度为0.18-0.22mm;

所述屏蔽连接件的高度为0.08-0.12mm;

所述屏蔽件的高度小于或等于所述电子元件的高度。

6.根据权利要求2所述的半导体封装装置,其特征在于,还包括:

封装层,其设置于所述基板上,且包覆所述电子元件、所述屏蔽件以及所述屏蔽连接件。

7.根据权利要求1所述的半导体封装装置,其特征在于,

所述屏蔽线为金线和/或铝线。

8.根据权利要求1所述的半导体封装装置,其特征在于,

所述基板的上表面设有接地端子,所述接地端子电性连接所述屏蔽件。

9.根据权利要求1所述的半导体封装装置,其特征在于,

所述基板内部设有接地端子,所述屏蔽件连接至所述接地端子。

10.根据权利要求9所述的半导体封装装置,其特征在于,

所述基板内部开设有一过孔,所述屏蔽件通过所述过孔连接至所述接地端子。

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