[发明专利]芯片封装结构以及制作方法、电子设备在审
申请号: | 202110586730.4 | 申请日: | 2021-05-27 |
公开(公告)号: | CN113725170A | 公开(公告)日: | 2021-11-30 |
发明(设计)人: | 郭学平 | 申请(专利权)人: | 荣耀终端有限公司 |
主分类号: | H01L23/31 | 分类号: | H01L23/31;H01L23/498;H01L23/66;H01L21/56;H01L21/60;H01L25/16 |
代理公司: | 北京中博世达专利商标代理有限公司 11274 | 代理人: | 魏敏 |
地址: | 518040 广东省深圳市福田区香蜜湖街道*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 芯片 封装 结构 以及 制作方法 电子设备 | ||
1.一种芯片封装结构,其特征在于,包括:基板、第一芯片、器件模组、第一塑封层和第二塑封层;
所述器件模组耦接于所述基板的第一面,且被所述第一塑封层包覆塑封;
所述第一芯片耦接于所述基板的第二面,且被所述第二塑封层包覆塑封;
所述第二塑封层远离所述基板的一侧设置有RDL布线层,所述RDL布线层用于引出外部焊接管脚;
所述第二塑封层内设置有第一导体柱,且所述第一导体柱的第一端与所述基板耦接,所述第一导体柱的第二端与所述RDL布线层耦接。
2.根据权利要求1所述的芯片封装结构,其特征在于,所述器件模组包括无源器件、WB芯片以及焊接芯片的一种或多种。
3.根据权利要求1或2所述的芯片封装结构,其特征在于,所述芯片封装结构还包括第二芯片;所述第二芯片堆叠于所述第一芯片远离所述基板的一侧,且被所述第二塑封层包覆塑封;
所述第二芯片远离所述第一芯片的一侧具有焊接凸点;所述焊接凸点与所述RDL布线层耦接。
4.根据权利要求3所述的芯片封装结构,其特征在于,所述第二塑封层包括第二内部塑封层和第二外部塑封层;所述第二内部塑封层用于对所述第一芯片包覆塑封;所述第二外部塑封层用于对所述第二芯片包覆塑封;
第一导体柱包括第一内侧导体柱和第一外侧导体柱;所述第一内侧导体柱位于所述第二内部塑封层内;所述第一外侧导体柱位于所述第二外部塑封层内;所述第一内侧导体柱与所述第一外侧导体柱相耦接。
5.根据权利要求3或4所述的芯片封装结构,其特征在于,所述第一芯片和第二芯片之间通过贴片胶贴装。
6.根据权利要求1至5任一项所述的芯片封装结构,其特征在于,所述基板内设置有接地层;所述第一塑封层的外表面设置有屏蔽层,所述屏蔽层与所述接地层耦接。
7.根据权利要求6所述的芯片封装结构,其特征在于,所述屏蔽层的外侧还设置有第三塑封层;所述第三塑封层远离所述屏蔽层的一侧贴装有天线结构;
所述第一塑封层内设置有第二导体柱;所述第三塑封层内设置有第三导体柱;
所述第二导体柱的第一端与所述基板耦接,所述第二导体柱的第二端与所述第三导体柱的第一端耦接,所述第三导体柱的第二端与所述天线结构耦接。
8.根据权利要求7所述的芯片封装结构,其特征在于,所述天线结构与所述第三塑封层之间设置有第一介质层。
9.根据权利要求1至8任一项所述的芯片封装结构,其特征在于,所述第二塑封层与所述RDL布线层之间设置有第二介质层;所述第二介质层靠近所述第一导体柱的位置处设置有第一通孔结构,所述第一导体柱通过所述第一通孔结构与所述RDL布线层连接。
10.一种电子设备,其特征在于,包括外接部件以及与所述外接部件相耦接的至少一个如权利要求1至9任一项所述的芯片封装结构。
11.根据权利要求10所述的电子设备,其特征在于,所述外接部件包括封装基板、转接板,或者,扇出型的至少一层重布线层中的至少一种。
12.一种芯片封装结构的制作方法,其特征在于,包括:
在基板的第一面上设置器件模组,使所述器件模组与所述基板耦接;
在所述基板的第一面上设置第一塑封层,使所述器件模组被所述第一塑封层包覆塑封;
在所述基板的第二面上设置第一芯片和第一导体柱,使所述第一芯片和所述第一导体柱均与所述基板耦接;
在所述基板的第二面上设置第二塑封层,使所述第一芯片和所述第一导体柱被所述第二塑封层包覆塑封;
在所述第二塑封层远离所述基板的一侧制作RDL布线层,且在所述RDL布线层上引出外部焊接管脚。
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