[发明专利]X射线探测方法以及装置以及系统有效

专利信息
申请号: 201610119861.0 申请日: 2016-03-03
公开(公告)号: CN105572154B 公开(公告)日: 2018-07-31
发明(设计)人: 王红宝;徐玉辉;郭毅 申请(专利权)人: 北京凌志阳光安全技术有限公司
主分类号: G01N23/04 分类号: G01N23/04;G01B15/00
代理公司: 北京超凡志成知识产权代理事务所(普通合伙) 11371 代理人: 王术兰
地址: 100080 北京市海淀区*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明涉及探测技术领域,具体而言,涉及一种X射线探测方法、装置以及系统。该方法,包括:获取被探测物体的多张X射线图像,多张所述X射线图像的拍摄角度不同;分别获取目标在不同的X射线图像中的平面坐标,其中,所述目标包括点目标和/或线目标;根据所述平面坐标,X射线图像拍摄时X射线源与成像面的相对位置,计算目标的三维坐标。本发明所提供的方法通过获取同一个被探测物体拍摄角度不同的X射线照片,分别获取目标在不同的X射线图像中的平面坐标,结合X射线图像在拍摄时X射线源与成像面的相对位置,将目标的空间三维坐标计算出来,从而探测人员可以得知被探测物体中特定目标的大致形状以及位置。
搜索关键词: 射线 探测 方法 以及 装置 系统
【主权项】:
1.一种X射线探测方法,其特征在于,包括:获取被探测物体的多张X射线图像,多张所述X射线图像的拍摄角度不同;分别获取目标在不同的X射线图像中的平面坐标,其中,所述目标包括点目标和/或线目标;根据所述平面坐标,X射线图像拍摄时X射线源与成像面的相对位置,计算目标的三维坐标;所述获取目标在不同的X射线图像中的平面坐标,具体包括:通过鼠标,沿着特定目标探测到的物体的轮廓或者阴影,画点或者画线,以确定所述目标;或者在目标圈定范围内,根据目标的视觉特征信息进行相似性运算,并根据目标在不同X射线图像中相似度大小,确定所述目标;在所述X射线图像中建立平面坐标系,确定所述目标在所述平面坐标系中的平面坐标。
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