[发明专利]一种低空洞率高可靠性的厚膜基板及其制造方法有效
| 申请号: | 201710262535.X | 申请日: | 2017-04-20 |
| 公开(公告)号: | CN107039358B | 公开(公告)日: | 2019-11-08 |
| 发明(设计)人: | 李华伟;张颖;殷剑东;胡立雪 | 申请(专利权)人: | 中国电子科技集团公司第二十四研究所 |
| 主分类号: | H01L23/15 | 分类号: | H01L23/15;H01L23/367;H01L23/492;H01L21/48;B41M1/12 |
| 代理公司: | 北京同恒源知识产权代理有限公司 11275 | 代理人: | 赵荣之 |
| 地址: | 400060 *** | 国省代码: | 重庆;50 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 空洞 可靠性 厚膜基板 及其 制造 方法 | ||
本发明涉及一种低空洞率高可靠性的厚膜基板及其制造方法,该厚膜基板包括陶瓷基板、设置在陶瓷基板上的第一网格层、设置在第一网格层上的第二网格层和设置在第二网格层上凸点层,所述凸点层中各凸点位于所述第二网格层中各网格中心。凸点层的设置可以有效降低电路的空洞率,提高了基板的散热性,同时该结构可采用高钯的银钯浆料制备,在保障低空洞率的同时保障基板与管壳之间的结合力,确保了基板的机械可靠性。采用该方法制备厚膜基板,其实现方式简单有效,在工艺制备环节无特殊的控制要求,三次印烧即可实现,可进行大规模生产。
技术领域
本发明属于混合集成电路技术领域,具体涉及一种低空洞率高可靠性的厚膜基板及其制造方法。
背景技术
厚膜基板是混合集成电路的载体部件,一方面为上层的各个元器件提供物理支撑和电连接,一方面还需与下层的管壳紧密结合,保证散热性和机械可靠性。在厚膜基板材料确定的前提下,电路散热性主要由基板空洞率决定,机械可靠性主要由基板背面选用的浆料决定。
目前银钯浆料是厚膜基板最常用的背面布线浆料,其中银与钯的不同配比可决定基板的特性。银含量越高,基板的可焊性越好,基板与管壳烧焊后的空洞率就越低,电路的散热性就越好,但基板与管壳的结合力会降低,机械可靠性差;钯含量越高,基板的可焊性会变差,基板与管壳烧焊后的空洞率会升高,电路的散热性变差,但基板与管壳的结合力会上升,机械可靠性变强。这两个矛盾项使得在制备厚膜基板时,为了保证机械可靠性必须要牺牲一定的可焊性,使得电路的空洞控制难度加大。
目前,常用的基板背面结构有两种,一种为背面整体布线,一种为背面网格状布线。背面整体布线,整个布线区域面积大,浆料自身的猫耳效应对布线区的平整度影响小,因此整个布线区较为平整,更利于和焊料结合,但由于没有沟槽,因此焊料中的助焊剂无法有效排出,会在基板与焊料没有结合的区域形成随机空洞。背面网格状布线,为焊料中的助焊剂提供了排出沟槽,有利于助焊剂的排出,但单个网格的面积过小,浆料自身的猫耳效应对网格单元的平整度影响大,使得网格单元呈现中间低四周高的凹形结构,在入壳烧焊时,网格单元的中心区域不易于焊料结合,而由于可焊性的限制,焊料难以沿网格单元四周区域爬附至中心区域,因此会出现一个网格单元就是一个空洞的情况。
综上所述,目前的常用的基板背面结构,无法在保证机械可靠性的基础上解决空洞率的问题。
发明内容
有鉴于此,本发明在常规厚膜基板背面网格状布线制作工艺的基础上,通过改进基板背面布线方式,解决网格状布线固有的问题,在保证基板可靠性的基础上,以降低厚膜混合电路入壳后的空洞率,因此,提供一种低空洞率高可靠性的厚膜基板及其制造方法。
为达到上述目的,本发明提供如下技术方案:
1、一种低空洞率高可靠性的厚膜基板,所述厚膜基板包括陶瓷基板、第一网格层、第二网格层和凸点层,所述第一网格层设置在所述陶瓷基板上,所述第二网格层设置在所述第一网格层上,所述凸点层设置在所述第二网格层上,所述凸点层中各凸点位于所述第二网格层中各网格中心。
2、一种低空洞率高可靠性的厚膜基板的制造方法,包括如下步骤:
(1)在陶瓷基板背面制备第一网格层;
(2)在步骤(1)制备的第一网格层上制备第二网格层;
(3)在步骤(2)制备的第二网格层上制备凸点层,所述凸点层中各凸点位于所述第二网格层中各网格中心,制得低空洞率高可靠性的厚膜基板。
进一步,包括如下步骤:
(1)制备网格层所需的印刷网框;
(2)制备凸点层所需的印刷网框;
(3)将陶瓷基板进行退火、清洗、烘干处理;
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