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农业化学；冶金建筑机械工程区域搜索

主分类

B 作业；运输

C 化学；冶金

D 纺织；造纸

E 固定建筑物

F 机械工程、照明、加热

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公布日期

2023-10-24 公布专利

2023-10-20 公布专利

2023-10-17 公布专利

2023-10-13 公布专利

2023-10-10 公布专利

2023-10-03 公布专利

2023-09-29 公布专利

2023-09-26 公布专利

2023-09-22 公布专利

2023-09-19 公布专利

专利权人

国家电网公司

华为技术有限公司

中兴通讯股份有限公司

三星电子株式会社

中国石油化工股份有限公司

鸿海精密工业股份有限公司

松下电器产业株式会社

上海交通大学

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[发明专利]透射电子显微镜样品台转接头和所用基片及基片的制造方法-CN200710179537.9有效
发明人：刘开辉;白雪冬;王恩哥 -专利权人：中国科学院物理研究所
申请日： 2007-12-14 - 公布日： 2008-07-16 - 主分类号： H01J37/20 文献下载
摘要：本发明的优势在于，通过精密的机械加工和完整半导体工艺流程制作了一个通用的TEM样品台转接头，把TEM对材料微观结构的表征能力和基片作为载体对材料性质的测量能力很好地结合了起来。基片上样品完成在TEM中微观结构表征以后，把基片取出放入其它任何可以兼容基片的性质测量设备，可以测量材料的力学、电学、光学、热学等性质。同时，利用狭缝自有的边角作为标记，可以保证TEM结构表征和性质测量的为同一微小区域，从而可以把材料微观结构和性质真正地直接联系起来。另外，也可以先进行性质测量，再进行TEM结构表征。
透射电子显微镜样品转接所用制造方法

[发明专利]一种集成TEM荧光屏和STEM探测器的一体化结构-CN201610187670.8有效
发明人：王义林;张大梁;周向志 -专利权人：镇江乐华电子科技有限公司
申请日： 2014-07-18 - 公布日： 2017-10-13 - 主分类号： H01J37/26 文献下载
摘要：本发明公开了一种集成TEM荧光屏和STEM探测器的一体化结构，属于透射电子显微镜的附件结构设计领域，该集成TEM荧光屏和STEM探测器的一体化结构通过在镜筒的侧部接口上安装调整部件，并在位于镜筒内部的调整部件上集成安装TEM荧光屏和STEM探测器，使得只需要改变调整部件在透射电子显微镜镜筒中的位置，便能够实现TEM荧光屏或者STEM探测器来接收电子束，从而满足镜筒的一个侧部接口同时安装CCD相机用荧光屏(TEM荧光屏
一种集成 tem 荧光屏 stem 探测器一体化结构

[发明专利]具有热机电芯片的半导体封装件及其形成方法-CN201710587367.1有效
发明人：余振华;叶德强;陈宪伟;黄立贤;林岳霆;陈威宇;苏安治 -专利权人：台湾积体电路制造股份有限公司
申请日： 2017-07-18 - 公布日： 2021-04-27 - 主分类号： H01L25/065 文献下载
摘要：在一些实施例中，器件包括热机电(TEM)芯片，具有功能电路；第一管芯，附接至所述TEM芯片的第一侧面；第一通孔，位于所述TEM芯片的第一侧面上并且邻近所述第一管芯，所述第一通孔电连接至所述TEM芯片。所述器件还包括第一模制层，围绕所述TEM芯片、所述第一管芯和所述第一通孔，其中，所述第一管芯的上表面和所述第一通孔的上表面与所述第一模制层的上表面平齐。
具有机电芯片半导体封装及其形成方法

[发明专利]一种同心锥TEM室场均匀性校准方法-CN201911214486.8有效
发明人：彭博;黄承祖;刘星汛;齐万泉 -专利权人：北京无线电计量测试研究所
申请日： 2019-12-02 - 公布日： 2021-11-26 - 主分类号： G01R29/08 文献下载
摘要：本申请公开了一种同心锥TEM室场均匀性校准方法，包括：将场强探头放入同心锥TEM室场均匀区中心，记为初始位置；调节TEM室输入频率至下限试验频率，馈入能产生标准场强的恒定前向功率，记录所述初始位置的场强读数和前向功率，沿不同方向确定第一位置、第二位置、第三位置和第四位置，四个位置形成的区域大小，能够将场强探头包围，且与初始位置场强相差绝对值均不大于设定范围；步进调节输入频率至试验频率上限，重复上述步骤，得到同心锥TEM本申请填补了同心锥TEM室场均匀性校准方法空白，能够快速、准确地进行场均匀性校准。
一种同心 tem 均匀校准方法

[实用新型]一种TEM样品承载装置-CN201621492933.8有效
发明人：王妍;赖李龙 -专利权人：中芯国际集成电路制造（北京）有限公司;中芯国际集成电路制造（上海）有限公司
申请日： 2016-12-30 - 公布日： 2017-07-14 - 主分类号： H01J37/20 文献下载
摘要：本实用新型提供一种TEM样品承载装置，至少包括栅格结构、样品载网以及碳膜；所述栅格结构包括基底及位于所述基底一侧向外延伸的至少一个附连元件，所述附连元件适于附连样品；所述样品载网为金属网格结构，所述样品载网对称设于所述基底的两端并与所述附连元件位于同一侧本实用新型的TEM样品承载装置很容易装载到TEM样品杆上，节约装载时间；避免样品在装载过程中丢失；防止承载装置从TEM样品杆的孔中掉落而损伤样品；实现高分辨率TEM/STEM的图片；该承载装置还可以重复利用
一种 tem 样品承载装置

[实用新型]一种TEM地表天线结构-CN201720335319.9有效
发明人：邓军;高萌 -专利权人：成都伟洪电子科技有限公司
申请日： 2017-03-31 - 公布日： 2017-12-15 - 主分类号： H01Q13/02 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种TEM地表天线结构，包括环氧树脂底座、环氧树脂顶盖、金属化腔体和一对N型接头，环氧树脂底座与环氧树脂顶盖固定连接，金属化腔体设置在环氧树脂底座与环氧树脂顶盖形成的腔体内，金属化腔体上部设置有TEM喇叭天线，TEM喇叭天线包括一对喇叭天线本体；喇叭天线本体呈V字型，喇叭天线本体包括上振子、下振子以及夹设在上振子与下振子之间的填充介质层。本实用新型公开的TEM地表天线及其组建的基站，主要应用于增强高层楼宇的小区覆盖、助推无线智慧城市建设的道路站点布局，本TEM地表天线及其组建的基站系统，具有选址方便，部署快捷，体积小、重量轻，适用于隐形小基站的建设
一种 tem 地表天线结构

[发明专利]超细微粒铜粉浆料及超细微粒铜粉浆料的制造方法-CN200580041800.7有效
发明人：青木晃;中村芳信;坂上贵彦;吉丸克彦 -专利权人：三井金属矿业株式会社
申请日： 2005-12-16 - 公布日： 2007-11-14 - 主分类号： B22F1/00 文献下载
摘要：为达成该目的，提供了一种把具有D_TEM(μm)值为0.01～0.1、D₅₀/D_TEM值为1～1.5、以及结晶粒径/D_TEM值为0.2～1的粉体特性的超细微粒铜粉悬浮在溶剂中而制成的超细微粒铜粉浆料(D_TEM是指从TEM观察图像的照片，直接测定该粉末粒子直径，用观察倍率进行换算得到的平均一次粒径
细微粒铜粉浆料制造方法

[发明专利]TEM样品的制备方法-CN202210154880.2在审
发明人：陈强;陈柳;高金德 -专利权人：上海华力集成电路制造有限公司
申请日： 2022-02-21 - 公布日： 2023-08-29 - 主分类号： G01N23/2202 文献下载
摘要：本发明公开了一种TEM样品的制备方法，包括：步骤一、提供在第一表面上形成有金属保护层的芯片样品。步骤二、将芯片样品固定在FIB系统的样品台上。步骤三、沿第一方向对金属保护层进行第一次FIB切割形成一个凹槽；第一方向为TEM样品的宽度方向，第二方向和第一方向垂直的方向；凹槽沿第一方向延伸。步骤四、沿第三方向进行第二次FIB切割对芯片样品进行减薄并形成TEM样品，第三方向由金属保护层指向芯片样品，利用金属保护层的厚度调节切割速率并从而使TEM样品的宽度逐渐变化并获取最佳观测区。本发明能实现对TEM样品的厚度精确控制，从而提高TEM分析质量。
tem 样品制备方法

[发明专利]一种收发一体VICTS相控阵天线-CN202111176634.9在审
发明人：尤阳;陆云龙;韩高飞;尤清春;黄季甫 -专利权人：宁波大学
申请日： 2021-10-09 - 公布日： 2022-02-25 - 主分类号： H01Q21/00 文献下载
摘要：本发明公开了一种收发一体VICTS相控阵天线，包括按照由上到下顺序设置的辐射层、平板波导层和馈电层；馈电层用于将输入其内的TE10模进行传输并转化成准TEM模耦合至平板波导层，平板波导层用于传输准TEM模并将该准TEM模耦合至辐射层，辐射层用于将准TEM模辐射至自由空间；优点是能够同时实现发射和接收功能，当用于移动卫星通信系统中时，可以减小移动卫星通信系统的体积、成本和功耗，且能够实现发射频段和接收频段波束指向一致
一种收发一体 victs 相控阵天线

[发明专利]TEM样品的制备方法-CN201410487272.9有效
发明人：何明;王潇;郭炜 -专利权人：中芯国际集成电路制造（上海）有限公司
申请日： 2014-09-22 - 公布日： 2019-11-01 - 主分类号： G01N23/2005 文献下载
摘要：本发明揭示了一种TEM样品的制备方法，包括：提供一半导体芯片，所述半导体芯片包括一待测结构；进行第一次切割，露出所述待测结构的一面；在所述待测结构的一面上制备一电子束透明层；进行第二次切割，露出所述待测结构的另一面，所述待测结构的另一面与一面相对，形成所述TEM样品。采用本发明提供的TEM样品的制备方法制备的TEM样品中，可以避免干扰结构对所述待测结构的影响，提高检测的准确性。
tem 样品制备方法

[发明专利]用于校正粒子光学装置中的畸变的方法-CN200910173281.X无效
发明人： A·F·德琼;U·卢肯;P·C·蒂梅杰;H·N·斯林杰兰 -专利权人： FEI公司
申请日： 2009-09-22 - 公布日： 2010-03-31 - 主分类号： H01J37/26 文献下载
摘要：本发明涉及一种用于校正由TEM的投影系统(106)引起的畸变的方法。本领域技术人员知道，畸变可能限制TEM的分辨率，特别是当利用X射线断层摄影术对特征进行3D重建时。而且，当在TEM中利用应变分析时，畸变会限制应变的检测。为此，本发明公开了一种装配有多极(152)的检测器，该多极以抵消投影系统引起的畸变的方式使TEM的图像歪曲。
用于校正粒子光学装置中的畸变方法

[发明专利]一种一维层状大地中心回线TEM公式中双Bessel函数的处理方法-CN201310002334.8无效
发明人：闫述 -专利权人：江苏大学
申请日： 2013-01-05 - 公布日： 2013-05-01 - 主分类号： G01V3/38 文献下载
摘要：本发明涉及一种一维层状大地中心回线TEM公式中双Bessel函数的处理方法，在审核了中心回线TEM推导全过程、确认了正确的一维正演公式的基础上，利用接收线圈半径较小的特点，将Bessel函数的渐进式引入一维分层大地中心回线TEM公式的双Bessel函数的积分公式中，将双Bessel函数变为单Bessel函数。本发明将一维层状大地中心回线TEM公式的计算，纳入地球物理电磁法滤波系数数值积分的体系，可以减少滤波系数个数，为提高反演运算速度提供了条件。
一种层状大地中心 tem 公式 bessel 函数处理方法

[发明专利]高频模块及模转换结构与方法-CN200310103608.9无效
发明人：福永达也 -专利权人： TDK株式会社
申请日： 2003-10-29 - 公布日： 2004-05-26 - 主分类号： H01P5/107 文献下载
摘要：本发明的高频模块设有，作为传输TEM模电磁波的第一波导的TEM波导10，及与该第一波导耦合并作为传输与TEM模不同的其它模的电磁波的第二波导的多层结构的波导管型波导20。在H面内，使第一波导和第二波导的磁场方向一致，从而进行磁场耦合，因此，在各波导之间，能够良好地进行TEM模与其它模之间的模转换。
高频模块转换结构方法

[发明专利]一种TEM样品的制备方法-CN201510623488.8在审
发明人：陈强;陈胜 -专利权人：上海华力微电子有限公司
申请日： 2015-09-27 - 公布日： 2015-12-09 - 主分类号： G01N1/28 文献下载
摘要：本发明公开了一种TEM样品的制备方法，包括：步骤1：提供待分析芯片，该待分析芯片包括器件层和硅衬底；步骤2：将所述待分析芯片的器件层与承载片固接；步骤3：减薄硅衬底目标区域；步骤4：对上述器件进行切割，完成TEM样品的制备。本发明的TEM样品的制备方法的操作方式简单，成本低廉，可以有效消除窗帘效应。
一种 tem 样品制备方法

[发明专利]一种失效分析中分析晶格缺陷的TEM样品制备新方法-CN201610316827.2在审
发明人：王炯翀;王亮;何永强;刘焱;苏耿贤;陈越 -专利权人：苏州博飞克分析技术服务有限公司
申请日： 2016-05-13 - 公布日： 2016-10-12 - 主分类号： G01N1/28 文献下载
摘要：本发明公开了一种失效分析中分析晶格缺陷的TEM样品制备新方法。该方法使用手动研磨代替聚焦离子束来制备TEM样品，使样品中的晶格缺陷在极小或极浅的情况下均能被发现，而且不受晶格缺陷的方向的影响。极大地促进了晶格缺陷的发现与观测，准确率高，对TEM样品的制备的研究具有重要意义。
一种失效分析晶格缺陷 tem 样品制备新方法

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