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[发明专利]一种测试光掩膜基板耐辐照性能的系统及方法-CN202210693019.3在审
发明人：欧阳琛;朱继红;顾立新;张欣;刘经纬;黄群亮;李金祥 -专利权人：长飞光纤光缆股份有限公司
申请日： 2022-06-17 - 公布日： 2022-09-02 - 主分类号： G01N17/00 文献下载
摘要：本发明公开了一种测试光掩膜基板耐辐照性能的系统及方法，属于半导体光掩膜基板生产制造技术领域，激光辐照单元，用于对通过样品运送单元运送的待测试光掩膜基板样品进行预设次数的激光辐照；透过率测试单元，用于在激光辐照单元对待测试光掩膜基板样品进行辐照前，对通过样品运送单元运送的待测试光掩膜基板样品进行辐照前透过率测试，并在激光辐照单元对待测试光掩膜基板样品进行预设次数的辐照后，进行辐照后透过率测试，根据辐照前后待测试光掩模基板样品的透过率变化情况衡量待测试光掩膜基板的耐辐照性能通过本发明可以解决光掩膜基板的耐辐照性能测试问题。
一种测试光掩膜基板耐辐照性能系统方法

[发明专利]一种辐射环境下机器人关节模组测控平台-CN202310549458.1在审
发明人：姜潮;丁凯;王中华 -专利权人：湖南大学
申请日： 2023-05-16 - 公布日： 2023-09-08 - 主分类号： B25J19/00 文献下载
摘要：本发明属于特种机器人领域，本发明提供了一种辐射环境下机器人关节模组测控平台，该测控平台包括辐射测试室、人员测试室、带电辐照测试组、非带电辐照测试组、带电非辐照测试组以及测控模块；辐射测试室设有放射源、带电辐照测试组和非带电辐照测试组，各测试组均包括待测关节模组；人员测试室设有带电测试非辐照组和测控模块；测控模块包括参数管理模块、状态监控模块、参数性能分析模块、数据存储模块，用于实现待测关节模组测试参数的远程控制、数据采集、数据处理分析与保存功能本发明中带电测试非辐照组作为原始数据，其它的两组测试参数都与带电测试非辐照组进行对比，带电测试非辐照组在人员测试室内完成测控。
一种辐射环境机器人关节模组测控平台

[发明专利]粒子辐照试样电导率和电阻率的测试方法-CN201610847441.4有效
发明人：李承亮;束国刚;陈骏;刘飞华;段远刚 -专利权人：中广核工程有限公司;中国广核集团有限公司
申请日： 2016-09-23 - 公布日： 2017-11-17 - 主分类号： G01R27/02 文献下载
摘要：本发明公开了一种粒子辐照试样电导率的测试方法，其包括以下步骤1)提供粒子辐照试样，其包括已经受辐照的辐照层和未经辐照的基体层；2)将粒子辐照试样的辐照层固定于绝缘基座中；3)自粒子辐照试样的基体层一侧开始逐层打磨去除基体层，直至仅保留粒子辐照试样的辐照层；以及4)测试辐照层的电导率，获得粒子辐照试样的电导率。相对于现有技术，本发明粒子辐照试样电导率的测试方法1)可直接测试出粒子辐照试样的粒子辐照层的电导率；2)测试精度较高，误差非常小；3)试验方案较简单易行，成本低廉。此外，本发明还公开了一种粒子辐照试样电阻率的测试方法。
粒子辐照试样电导率电阻率测试方法

[实用新型]一种光伏电站环境数据获取设备-CN202021806369.9有效
发明人：徐柯;胡烨 -专利权人：苏州复睿电力科技股份有限公司
申请日： 2020-08-25 - 公布日： 2021-05-25 - 主分类号： G01J1/00 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种光伏电站环境数据获取设备，包括辐照测试架，辐照测试架的内部设有调节口，伸缩杆滑动连接在手持座的内部，螺纹杆螺接在螺纹座的内部，螺纹座螺接在手持座的内壁，通过调节第一电机使辐照测试板发生垂直方向旋转，改变辐照测试板的垂直测试角度，调节电动转盘使辐照测试板发生水平方向的旋转，改变辐照测试板的水平测试角度，向内侧调节气压缸使缓冲软板挤压在辐照测试板表面即可实现对辐照测试板角度的固定，逆时针调节第二电机即可使伸缩杆通过连接板与螺纹杆向手持座外端移动，改变辐照测试板所在的位置，进而满足实际不同的测试需求，结构简单，适合推广。
一种电站环境数据获取设备

[发明专利]一种可在线测量能量的极紫外辐照损伤测试系统-CN201610548432.5有效
发明人：谢婉露;吴晓斌;陈进新;王魁波;张罗莎;罗艳;周翊;王宇;崔惠绒 -专利权人：中国科学院光电研究院
申请日： 2016-07-13 - 公布日： 2019-01-08 - 主分类号： G01N17/00 文献下载
摘要：本发明公开了一种极紫外辐照损伤测试系统，包括光源腔室、收集镜腔室和测量腔室，收集镜腔室与测量腔室之间装有快门，快门可通过开/关状态的切换来改变光束的后续传播；测试腔室容纳有样品调节台、能量校准单元和辐照能量在线测试单元，样品调节台用于装载辐照损伤测试样品，辐照能量在线测试单元设置在快门与样品调节台之间的光路上，用于测试辐照在样品表面的能量，能量校准单元设置于在线测试单元与样品调节台之间的光路上，用于校准辐照能量在线测试单元本发明的系统可在辐照损伤测试过程中实时测试辐照能量，提高辐照损伤测试结果的准确性和可靠性，且结构简单，安装方便，容易操作。
一种在线测量能量紫外辐照损伤测试系统

[发明专利]一种脉宽调制器中子单粒子效应辐照测试系统和测试方法-CN202310530699.1在审
发明人：马林东;李阳;张翔;圣冬冬;汪波 -专利权人：上海精密计量测试研究所
申请日： 2023-05-11 - 公布日： 2023-08-29 - 主分类号： G01M11/00 文献下载
摘要：本发明提供了一种脉宽调制器中子单粒子效应辐照测试系统，包括辐照测试板、直流稳压电源、电子负载、测控模块、显示模块，所述辐照测试系统置于脉冲反应堆中进行在线辐照测试；所述辐照测试板置于辐照室内；直流稳压电源、电子负载、测控模块、显示模块置于测试间；直流稳压电源通过供电线缆为辐照测试板提供直流供电；电子负载连接辐照测试板的输出端；测控模块读取辐照测试板上监测的信号，并通过显示模块进行显示。本发明能够满足脉宽调制器的脉冲反应堆中子在线辐照试验，以及中子单粒子效应测试和表征，获得脉宽调制器的单粒子效应现象及规律，实现对脉宽调制器抗中子单粒子能力的准确评估，指导器件的抗辐射加固设计与宇航可靠性应用
一种脉宽调制中子粒子效应辐照测试系统方法

[实用新型]在线测量能量的极紫外辐照损伤测试装置-CN201620734229.2有效
发明人：谢婉露;吴晓斌;陈进新;王魁波;张罗莎;罗艳;周翊;王宇;崔惠绒 -专利权人：中国科学院光电研究院
申请日： 2016-07-13 - 公布日： 2017-04-19 - 主分类号： G01N17/00 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种在线测量能量的极紫外辐照损伤测试装置，包括光源腔室、收集镜腔室和测量腔室，收集镜腔室与测量腔室之间装有快门，快门可通过开/关状态的切换来改变光束的后续传播；测试腔室容纳有样品调节台、能量校准仪和辐照能量在线测试仪，样品调节台用于装载辐照损伤测试样品，辐照能量在线测试仪设置在快门与样品调节台之间的光路上，用于测试辐照在样品表面的能量，能量校准仪设置于在线测试仪与样品调节台之间的光路上，用于校准辐照能量在线测试仪。本实用新型的测试装置可在辐照损伤测试过程中实时测试辐照能量，提高辐照损伤测试结果的准确性和可靠性，且结构简单，安装方便，容易操作。
在线测量能量紫外辐照损伤测试装置

[发明专利]基于数据处理的耐辐照橡胶材料的性能分析方法及系统-CN202211381727.X有效
发明人：梁国伟;梁国超;肖红杰;吴桂祥;何鑫 -专利权人：广东祥利塑料有限公司
申请日： 2022-11-07 - 公布日： 2023-06-27 - 主分类号： G06T7/00 文献下载
摘要：本发明提供的基于数据处理的耐辐照橡胶材料的性能分析方法及系统，涉及数据处理技术领域。在本发明中，提取到目标耐辐照橡胶材料的目标耐辐照性能测试视频。分别对目标耐辐照性能测试视频和预先配置的多个参考耐辐照性能测试视频进行对比分析，以输出目标耐辐照性能测试视频和每一个参考耐辐照性能测试视频之间的视频对比分析结果。依据目标耐辐照性能测试视频和每一个参考耐辐照性能测试视频之间的视频对比分析结果反映出的测试视频相关度，并结合配置的参考材料机械性能信息，分析输出目标耐辐照性能测试视频对应的目标材料机械性能信息。
基于数据处理辐照橡胶材料性能分析方法系统

[发明专利]极紫外累积辐照损伤测试系统及方法-CN202010328028.3在审
发明人：谢婉露;吴晓斌;王魁波;罗艳;李慧 -专利权人：中国科学院微电子研究所
申请日： 2020-04-23 - 公布日： 2020-08-07 - 主分类号： G01N17/00 文献下载
摘要：本申请提供一种极紫外累积辐照损伤测试系统及方法，该测试系统包括：EUV光源腔室、收集镜腔室和测试腔室；EUV光源腔室用于产生EUV辐照源，该EUV辐照源用于辐射出宽谱辐照光；收集镜腔室用于容纳反射镜，该反射镜用于将宽谱辐照光中的EUV光反射聚焦到测试腔室中；测试腔室中，滤光片用于滤除反射光中的长波段光，从而得到窄谱EUV光用于样品辐照测试；衰减片装载台对EUV辐照光进行不同衰减倍率的光能量衰减；样品调节台用于调节样品移动，从而实现材料累积辐照自动控制本方案，能够提供金属、非金属、光学材料等多种固态材料长时间辐照损伤测试平台，且结构简单，操作方便，测试效率高。
紫外累积辐照损伤测试系统方法

[发明专利]一种基于辐照的岩石结构性能测试方法及测试系统-CN202110883160.5在审
发明人：于洪丹;陈卫忠 -专利权人：中国科学院武汉岩土力学研究所
申请日： 2021-08-02 - 公布日： 2021-10-22 - 主分类号： G01N1/44 文献下载
摘要：本发明公开了一种基于辐照的岩石结构性能测试方法，所述方法用于对岩石试样进行辐照并测试，所述方法包括：将所述岩石试样进行密封；对密封的所述岩石试样进行辐照；所述对密封的所述岩石试样进行辐照包括：将密封的所述岩石试样放置于室温的伽马辐射环境中进行辐照；对辐照完成后的所述岩石试样进行结构性能测试；所述对辐照完成后的所述岩石试样进行结构性能测试包括：对辐照完成后的所述岩石试样进行试验测试，获取用于表示所述岩石试样内部结构变化的测试数据，依据所述测试数据分析得到用于表示所述岩石试样内部结构变化的结构参数
一种基于辐照岩石结构性能测试方法系统

[发明专利]一种光伏组件的性能测试设备、方法及系统-CN202310756193.2在审
发明人：陈大英;张立英;冯笑丹;徐志伟;陈明;王文祥;彭子剑;黄力哲;贾宜萌;杜闯;王伟;吕贝;高培鑫;万月;林盘盘 -专利权人：温州泰涵新能源有限公司;中国华能集团清洁能源技术研究院有限公司;华能新能源股份有限公司四川分公司;华能新能源股份有限公司
申请日： 2023-06-25 - 公布日： 2023-09-12 - 主分类号： H02S50/10 文献下载
摘要：本发明提供了一种光伏组件的性能测试设备、方法及系统，获取由顶部测光模块测量得到的环境辐照度；在环境辐照度满足预设的第一测试条件的情况下，基于环境辐照度和待测辐照度计算待测辐照度所需的目标透光率；将遮光板的透光率调整为目标透光率以将照射到光伏组件表面的辐照度调整为待测辐照度，获取由下部测光模块测量得到的光伏组件表面的辐照度；在光伏组件表面的辐照度满足预设的第二测试条件的情况下，控制测试仪测试光伏组件的性能。本方案能够在自然环境下调整照射到光伏组件表面的辐照度并测试光伏组件的性能，从而提高测试准确性。
一种组件性能测试设备方法系统

[发明专利]一种功率器件的辐照测试电路及系统-CN202210103350.5在审
发明人：王春林;高见头;张刚;赵发展 -专利权人：中国科学院微电子研究所
申请日： 2022-01-27 - 公布日： 2023-08-08 - 主分类号： G01R31/00 文献下载
摘要：本申请公开一种功率器件的辐照测试电路及系统，涉及电子器件测试技术领域，能够实现功率器件的原位测试，可以提高测试精度。功率器件的辐照测试电路，包括：功率器件；测试源表，用于向处于辐照环境中的所述功率器件提供电压激励，以及测试所述功率器件在所述电压激励下的电流值；电性测试电路，用于测试所述功率器件在辐照环境中的电学性能。
一种功率器件辐照测试电路系统

[实用新型]LED灯光辐照度测试装置-CN201921370211.9有效
发明人：周果;王西同;赵拓;何虎;黄雪松;秦元峰;李丹;李果 -专利权人：南阳防爆电气研究所有限公司
申请日： 2019-08-22 - 公布日： 2020-03-31 - 主分类号： G01M11/02 文献下载
摘要：本实用新型公开了LED灯光辐照度测试装置，属于辐照度测试装置技术领域。LED灯光辐照度测试装置，包括辐照度计，所述辐照度计用于测量单颗LED灯珠的辐照度，所述LED灯珠连接测试电路，所述测试电路包括可调直流稳压电源、滑动变阻器和电压测量仪，所述可调直流稳压电源和滑动变阻器与所述本实用新型能够保证在正常条件和故障条件下测量光学设备光辐照度最大值的准确性，保证光学设备光辐照度测量的准确性。
led 灯光辐照测试装置

[发明专利]一种辐照总剂量与电磁干扰协合损伤效应测试系统与方法-CN202010575638.3有效
发明人：刘书焕;黄泰燚;李卓奇;张坤;李龙;刘双瑛;张君;阿米尔;许江涛;张国和;陈伟 -专利权人：西安交通大学
申请日： 2020-06-22 - 公布日： 2022-05-06 - 主分类号： G01R31/00 文献下载
摘要：本发明公开了一种辐照总剂量与电磁干扰协合损伤效应测试系统与方法，该系统包括射频信号源、射频功分器、恒压电压源、半导体参数测试仪、矩阵开关、上位机、辐照测试板以及测试样品板；射频信号源提供任意频率和幅值的电磁干扰信号，经过一分多射频功分器注入到多个测试样品之中；恒压电压源通过半导体参数测试仪为测试样品提供偏置电压；半导体参数测试仪通过矩阵开关可以同时连接多个测试样品，并为其设置不同偏置状态；通过上位机程序操控半导体参数测试仪，设置不同测试任务及为测试样品设置不同参数，完成参数测试；测试样品固定于辐照测试板上放置在辐照间接受粒子辐照；从而实现了辐照总剂量与电磁干扰协合损伤效应的测试。
一种辐照剂量电磁干扰损伤效应测试系统方法

[发明专利]芯片单粒子辐照测试方法、装置、系统及数据库建立方法-CN201810086328.8在审
发明人：祝名;谷瀚天;张伟;蒋晋东;朱恒静 -专利权人：中国空间技术研究院
申请日： 2018-01-30 - 公布日： 2018-07-24 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本发明公开了一种芯片单粒子辐照测试方法、装置、系统及数据库建立方法，属于辐照测试技术领域。所述单粒子辐照测试方法，包括：获取测试指令，并根据所述测试指令中包含的测试向量压缩文件标识，从测试向量压缩文件数据库中提取对应的测试向量压缩文件；对提取的所述测试向量压缩文件进行解压缩，确定测试向量和测试向量对应的输出标准值；根据确定的所述测试向量，以驱动待测芯片，使所述待测芯片输出测试向量对应的实际输出值；将所述测试向量对应的输出标准值与实际输出值进行比较，作为待测芯片的单粒子辐照测试结果。该方法能够覆盖所有芯片的辐照试验测试，通用性高。
测试向量压缩单粒子辐照测试向量待测芯片测试数据库建立测试指令实际输出输出标准芯片文件数据库辐照测试辐照试验输出测试文件标识解压缩向量驱动覆盖

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