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[发明专利]一种用于3D-SiP芯片测试向量压缩的方法及系统-CN201910086847.9有效
发明人：奚留华;张凯虹;徐德生;武乾文 -专利权人：无锡中微腾芯电子有限公司
申请日： 2019-01-29 - 公布日： 2021-05-28 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本发明涉及集成电路测试技术领域，具体公开了一种用于3D‑SiP芯片测试向量压缩的方法，其中，所述用于3D‑SiP芯片测试向量压缩的方法包括：搜索待压缩的测试向量的路径；加载待压缩的测试向量；将待压缩的测试向量进行模式转换以得到压缩后的测试向量本发明还公开了一种用于3D‑SiP芯片测试向量压缩的系统。本发明提供的用于3D‑SiP芯片测试向量压缩的方法使得压缩后的测试向量相比待压缩的测试向量压缩比达到50%，能够很大程度节省ATE中测试向量的空间。
一种用于 sip 芯片测试向量压缩方法系统

[发明专利]基于FDR的最大相容块的向量压缩方法、装置及系统-CN201811306318.7有效
发明人：詹文法;陶鹏程;邵志伟;江健生;程一飞;冯学军;吴海峰;张振林 -专利权人：安庆师范大学
申请日： 2018-11-05 - 公布日： 2022-06-21 - 主分类号： H03M7/46 文献下载
摘要：本发明公开了一种基于FDR的最大相容块的向量压缩方法，方法包括：1)、获取待压缩测试向量序列；2)、将待压缩测试向量均按照预设长度切分为若干个数据块；3)、将待压缩测试向量序列中的第一个待压缩测试向量的下一个向量作为当前测试向量，获取当前测试向量与当前测试向量的前一个测试向量中不相容的数据块的游程编码，并将游程编码与不相容的数据块的组合作为当前测试向量的编码结果；将当前测试向量的下一个向量作为当前测试向量，并返回执行步骤3)，直至待压缩测试向量序列中的各个待压缩测试向量被遍历。本发明公开了一种基于FDR的最大相容块的向量压缩装置。应用本发明实施例，提高了压缩率。
基于 fdr 最大相容向量压缩方法装置系统

[发明专利]基于测试模式重排序的分组测试向量之间的兼容性压缩方法-CN201510497701.5有效
发明人：詹文法;赵士钰;何姗姗 -专利权人：安庆师范学院
申请日： 2015-08-12 - 公布日： 2017-12-12 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本发明公开了一种基于测试模式重排序的分组测试向量之间的兼容性压缩方法，对压缩后的测试向量再进行测试模式重排序，然后对重排序后的测试向量进行等分分组，使得重排序之后的完全不兼容的测试向量分组之后达到近似兼容，进而进行测试向量的进一步压缩。本发明相比现有技术具有以下优点这个方案不需要很大的解压缩电路结构，在对测试数据重排序之后再考虑分组测试向量间的兼容性的测试数据压缩，这样利用分组测试向量间兼容性来压缩重排序后的测试向量时，能更好的增加测试数据的压缩率
基于测试模式排序分组向量之间兼容性压缩方法

[发明专利]一种基于二次压缩的测试向量压缩方法及系统-CN202210803043.8在审
发明人：熊素琴;李扬;邹和平;李求洋;陆春光;成达;李龙涛;郭建宁;赵立涛;孙南南;李禹凡;赵越;肖涛;宋磊;刘炜;李亦龙 -专利权人：中国电力科学研究院有限公司;国网浙江省电力有限公司营销服务中心
申请日： 2022-07-07 - 公布日： 2023-03-24 - 主分类号： G06F17/16 文献下载
摘要：本发明公开了一种基于二次压缩的测试向量压缩方法及系统，包括：获取待压缩的第一测试向量集；对所述第一测试向量集中的测试向量进行重新排序，以获取第二测试向量集；基于所述第二测试向量集进行差分压缩，获取初始压缩矩阵；对所述初始压缩矩阵进行奇异值分解压缩，获取最终压缩矩阵。本发明通过充分利用功能测试时，测试向量间差异性较小的特点，采用差分压缩和奇异值分解压缩相结合的技术，可将数据规模降低1‑2个数量级，极大地减小数据存储需求，有助于降低测试成本，提高测试效率；同时本发明算法资源占用小
一种基于二次压缩测试向量方法系统

[发明专利]芯片单粒子辐照测试方法、装置、系统及数据库建立方法-CN201810086328.8在审
发明人：祝名;谷瀚天;张伟;蒋晋东;朱恒静 -专利权人：中国空间技术研究院
申请日： 2018-01-30 - 公布日： 2018-07-24 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本发明公开了一种芯片单粒子辐照测试方法、装置、系统及数据库建立方法，属于辐照测试技术领域。所述单粒子辐照测试方法，包括：获取测试指令，并根据所述测试指令中包含的测试向量压缩文件标识，从测试向量压缩文件数据库中提取对应的测试向量压缩文件；对提取的所述测试向量压缩文件进行解压缩，确定测试向量和测试向量对应的输出标准值；根据确定的所述测试向量，以驱动待测芯片，使所述待测芯片输出测试向量对应的实际输出值；将所述测试向量对应的输出标准值与实际输出值进行比较，作为待测芯片的单粒子辐照测试结果。该方法能够覆盖所有芯片的辐照试验测试，通用性高。
测试向量压缩单粒子辐照测试向量待测芯片测试数据库建立测试指令实际输出输出标准芯片文件数据库辐照测试辐照试验输出测试文件标识解压缩向量驱动覆盖

[发明专利]基于参考向量和位掩码的SOC的测试方法-CN201110136727.9无效
发明人：俞洋;彭喜元;乔立岩;陶丽楠;向刚;王帅 -专利权人：哈尔滨工业大学
申请日： 2011-05-25 - 公布日： 2012-01-18 - 主分类号： G01R31/3185 文献下载
摘要：基于参考向量和位掩码的SOC的测试方法，涉及SOC的测试方法，解决了现有测试方法在对IP核进行检测时，存在压缩率有待提高的问题，它包括步骤一、把测试数据进行压缩；步骤二、将压缩后的数据传输并存储在ATE上；步骤三、在测试时通过芯片上的解压结构对压缩数据解压缩，还原成测试数据；步骤四、用测试数据对SOC进行测试；步骤一的压缩过程包括：步骤一一、根据目标子向量的位数将测试集TD进行划分；步骤一二、选择子向量集中重复率最高的子向量作为参考向量；步骤一三、对于每一个测试子向量进行编码；步骤一四、整合成压缩后的的测试向量。用于基于可复用IP核设计的SOC的测试。
基于参考向量掩码 soc 测试方法

[发明专利]一种基于分组测试向量之间的近似兼容性压缩方法-CN201510497739.2有效
发明人：詹文法;赵士钰;何姗姗 -专利权人：安庆师范学院
申请日： 2015-08-12 - 公布日： 2018-03-23 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本发明公开了一种基于分组测试向量之间的近似兼容性压缩方法，应用于对经过基于编码的测试数据压缩方法压缩后的测试数据进行进一步压缩，首先对压缩后的测试数据进行分组，然后使分组后的不兼容的测试向量之间能够近似兼容，最后根据兼容的测试向量进一步压缩测试数据。本发明相比现有技术具有以下优点无需改变被测试的电路结构，尤其是电路中扫描链的结构。在对测试数据压缩之后再考虑分组测试向量间近似兼容性的测试数据压缩，这样可以根据兼容性的分组测试向量来压缩测试数据，使压缩后的测试数据更易于压缩，提高编码效率，减少测试数据体积。
一种基于分组测试向量之间近似兼容性压缩方法

[发明专利]一种基于测试向量相容的测试向量编码压缩方法-CN200910100309.7无效
发明人：潘赟;万民永;严晓浪 -专利权人：浙江大学
申请日： 2009-07-02 - 公布日： 2009-12-16 - 主分类号： G01R31/317 文献下载
摘要：本发明公开了一种基于向量相容的测试向量编码压缩方法。它包括测试向量的压缩和编码后的解压缩两部分，首先确定测试向量的编码，从测试向量集中取出向量t₁，通过与t₁相容性最大的向量合并，并确保整体压缩率的提升，完成对测试向量的分组并对测试向量组编码解码时将编码移入到被测电路保存，重复对编码解码，直到还原被压缩之前的向量组。本发明根据相容性最大的关系把测试向量集分组，并将测试向量组内的向量合并编码，不相容的位置用标记码标出，极大的减少了用地址信息标记所需的位数，在编码两端分别插入组头信息和组分割码。解码时，将测试向量组的编码移入被测电路保存，可以重复利用，极大地降低了测试机与被测电路的带宽。
一种基于测试向量相容编码压缩方法

[发明专利]一种最小游程切换点标记编码压缩方法及装置-CN201911192482.4有效
发明人：詹文法;陶鹏程;蔡雪原;邵志伟;彭勇;张振林;丁文祥;彭登辉;华铭;都奕 -专利权人：安庆师范大学
申请日： 2019-11-28 - 公布日： 2023-06-30 - 主分类号： H03M7/46 文献下载
摘要：本发明涉及一种最小游程切换点标记编码压缩方法，包括S1、将测试向量进行均匀划分成若干组区域；S2、将区域中的所有测试向量进行编码压缩，压缩后继续压缩下一组区域中的测试向量，直至全部区域压缩；S3、将该组区域的测试向量压缩后，继续读取下一组区域，重复执行步骤S2；直到最后一个区域压缩完成。本发明还公开了一种最小游程切换点标记编码压缩装置。本发明针对测试向量与测试向量之间游程的关系进行压缩，极大缩短了编码字的数量，有效得提高了压缩率。
一种最小游程切换标记编码压缩方法装置

[发明专利]一种基于最大近似相容的分组测试向量的编码压缩方法-CN201510498198.5有效
发明人：詹文法;赵士钰;何姗姗 -专利权人：安庆师范学院
申请日： 2015-08-12 - 公布日： 2017-12-12 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本发明公开了一种基于最大近似相容的分组测试向量的编码压缩方法，应用于对经过基于编码的测试数据压缩方法压缩后的测试数据进行进一步压缩，其特征在于，首先需要一个存储器用于存储源测试数据集的分组的测试向量，在源测试数据集不存在无关位时，将测试向量等分划分，求得各相邻分组测试向量间的不兼容组数，在满足最大近似相容度范围时，对相邻的分组测试向量进行编码压缩。本发明相比现有技术具有以下优点使压缩后的测试数据更易于压缩，发挥到最大的压缩效果，减少测试数据体积。
一种基于最大近似相容分组测试向量编码压缩方法

[发明专利]路径延迟故障测试向量压缩方法及装置-CN200810056676.7有效
发明人：向东;李开伟 -专利权人：清华大学
申请日： 2008-01-23 - 公布日： 2008-07-16 - 主分类号： G01R31/3183 文献下载
摘要：本发明实施例公开了一种路径延迟故障测试向量压缩方法及装置，采用路径延迟故障测试向量生成等效电路，根据故障激活和传播条件，将路径延迟故障等效为无扇出电路中的单固定型故障。根据电路拓扑结构，将电路划分为输入相关区域和输出相关区域并分别进行测试向量的动态压缩，采用基于扇出数的多目标路径延迟故障测试向量生成技术，在路径延迟故障测试向量生成过程中进行测试向量集合的动态压缩，得到高压缩比的路径延迟故障压缩测试向量集本发明实施例提供的方法，在保证故障覆盖率为100％的基础上，可以在较短时间内获得很高的测试向量压缩比，为芯片测试提供了可靠的路径延迟故障测试方法。
路径延迟故障测试向量压缩方法装置

[发明专利]适应多种封装的测试方法、装置、计算机设备及存储介质-CN202110220756.7在审
发明人：李湘锦;张鹏;王伟良 -专利权人：记忆科技（深圳）有限公司
申请日： 2021-02-26 - 公布日： 2021-06-11 - 主分类号： G06F11/22 文献下载
摘要：本发明公开了一种适应多种封装的测试方法、装置、计算机设备及存储介质，方法包括获取多种封装的待测试芯片；获取待测试芯片不同封装的可用IO数量；将待测试芯片不同封装的可用IO数量进行比较，筛选出可用IO数量最小的封装作为测试封装；初始化待测试芯片，并将预设的测试向量传输至测试封装的压缩器；通过压缩器的解压缩电路解压测试向量，得到测试向量并开始扫描测试待测试芯片。本方案通过筛选出可用IO数量最小的封装作为测试封装，并将测试向量传输至测试封装的压缩器，通过压缩器的解压缩电路解压测试向量，得到测试向量并开始扫描测试待测试芯片，能够适应因为多种封装的芯片并对芯片进行正常测试，保证测试可靠性。
适应多种封装测试方法装置计算机设备存储介质

[发明专利]测试方法和装置-CN202011066469.7在审
发明人：张鹏;许超 -专利权人：龙芯中科技术股份有限公司
申请日： 2020-09-30 - 公布日： 2022-04-12 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本发明实施例提供一种测试方法和装置，应用于对目标芯片的测试中，方法包括：获取测试所述目标芯片所需的测试向量；其中，所述测试向量的数量为至少一个；分别从每个所述测试向量的测试端口信息中提取扫描端口信息；根据预设压缩倍数，分别对所述每个测试向量的扫描端口信息进行压缩和格式转换，得到每个测试向量对应的目标测试向量；采用所述目标测试向量对所述目标芯片进行测试。本发明实施例通过在测试向量的端口信息中提取出到扫描端口信息并对扫描端口信息部分进行压缩，降低了测试向量的测试深度，减小了测试向量在ATE中的存储空间，从而降低了测试成本。
测试方法装置

[发明专利]基于向量切分的线性压缩方法-CN201510974229.X在审
发明人：吴海峰;吴琼;詹文法;程一飞;张翠娟 -专利权人：安庆师范学院
申请日： 2015-12-21 - 公布日： 2016-05-25 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本发明公开了一种基于向量切分的线性压缩方法，步骤包括：根据电路网表产生故障列表；通过随机测试，分离出难测故障；产生测试向量V，将测试向量V加入测试集T；以产生的测试向量V为种子，先取段长l＝2，使用基于向量切分的线性压缩技术生成测试集S；对测试集S进行故障模拟；检测是否存在未测故障，若存在，重复步骤c、步骤d、步骤e，直到故障覆盖率达到100％；取段长l＝3、4、L/2，得到L/2-1个测试集，比较这L/2-1个测试集的向量数目，取向量数目最少的测试集本发明的优点在于在测试向量生成时就考虑压缩规律，实现压缩效果的最大化；每个种子可以展开成2L个测试向量。
基于向量切分线性压缩方法

[发明专利]一种交替循环翻转的测试数据压缩方法-CN201611117080.4在审
发明人：吴海峰;江健生;程一飞;吴琼;詹文法 -专利权人：吴海峰
申请日： 2016-12-07 - 公布日： 2017-05-03 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本发明公开了一种交替循环翻转的测试数据压缩方法，步骤包括将原始测试向量进行向量排序，取排序后的第一个测试向量作为种子，并对种子做一位交替循环翻转，获得测试子集，将原始测试向量与测试子集进行比较，删除强相容于测试子集的测试向量，生成新的测试集。再重复执行上述操作，直至测试集为空，获得的种子集结果即为压缩结果。与现有技术相比，本发明提供的该交替循环翻转的测试数据压缩方法解压协议简单、压缩效率高，每个种子解压生成4L‑4个测试向量，解压时每次仅需翻转一位，测试功耗低。
一种交替循环翻转测试数据压缩方法

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