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[发明专利]车辆后视镜的功能测试方法、装置及车辆-CN202310875526.3在审
发明人：任洪赢;李治民;李俊儒;刘丽双;赵德银;张东波 -专利权人：中国第一汽车股份有限公司
申请日： 2023-07-17 - 公布日： 2023-10-27 - 主分类号： G01M11/00 文献下载
摘要：本发明公开了一种车辆后视镜的功能测试方法、装置及车辆。其中，该方法包括：获取车辆的电源状态和后视镜状态，其中，电源状态用于表征车辆的整车电源是否开启，后视镜状态用于表征车辆的后视镜的运行动作；根据电源状态、后视镜状态和功能测试命令，对后视镜进行功能测试，得到测试结果，其中，功能测试命令用于控制后视镜进入任一功能测试模式；基于测试结果和预设测试报告模板，生成功能测试报告。本发明解决了相关技术提供的车辆后视镜的功能测试方法采用人工测试方法导致测试效率低、精度低的技术问题。
车辆后视镜功能测试方法装置

[发明专利]一种光纤光学测试并联装置及其工作方法-CN202310672196.8在审
发明人：张超;王艾华;田思忠 -专利权人：南京华信藤仓光通信有限公司
申请日： 2023-06-08 - 公布日： 2023-10-27 - 主分类号： G01M11/00 文献下载
摘要：本发明提供一种光纤光学测试并联装置及其工作方法，装置包括防水盒，电源适配器和电源插座配对连接通电；并联装置的光源端口接入光纤耦合器与光纤分光器连接，再接入光机械开关；通过纽子开关控制光纤检测选择，同时通过LED灯珠显示光纤检测状态；通过并联装置内部的光棱镜折射光线，引导光路指向切换设备的方向。本发明光纤测试并联装置通过光的折射原理加上机械切换可以将同测试端口设备并联在一起，很方便的并联光纤检验测试设备，可实现S18、PMD、OTDR三台设备并联，只需要切换钮子开关就可以接续一次通过切换完成各性能测试，无需要多次分开检测，大幅提升测试效率；可以实现有效光折射通信不损耗，满足测试功率。
一种光纤光学测试并联装置及其工作方法

[发明专利]线缆试验系统、分析装置、线缆试验方法以及程序-CN202180095206.5在审
发明人：冈本达也;饭田大辅;古敷谷优介;本田奈月 -专利权人：日本电信电话株式会社
申请日： 2021-04-14 - 公布日： 2023-10-27 - 主分类号： G01M11/00 文献下载
摘要：本发明的目的在于提供一种线缆试验系统、分析装置、线缆试验方法及程序，其无需向现场派遣作业人员就能够掌握架空线缆的松弛区间。本发明的线缆试验系统具备：光纤振动分布测量装置11，对于作为试验对象的架空光纤线缆50，获取由时间和长度方向的距离的区域表示的振动分布波形；和，分析装置12，根据所述振动分布波形计算在架空光纤线缆50中传播的振动的传播速度，将所述传播速度为阈值以下的架空光纤线缆50的区间作为线缆松弛区间而进行检测。
线缆试验系统分析装置方法以及程序

[发明专利]连接器测试治具-CN202310801927.4在审
发明人：周建;钱学锋;何业明;吴婷 -专利权人：蘅东光通讯技术（深圳）股份有限公司
申请日： 2023-07-03 - 公布日： 2023-10-27 - 主分类号： G01M11/00 文献下载
摘要：本申请涉及光纤连接器测试装置技术领域，尤其涉及一种连接器测试治具，包括：主体组件、卡接组件。主体组件一侧设置有卡槽和对接孔，对接孔贯穿主体组件。卡接组件固定安装与主体组件的背离卡槽的一侧。其中，主体组件设置有指示第一连接头插入角度的第一指示部，卡接组件设置有指示第二连接头插入角度的第二指示部。卡槽侧壁设置有限位件，限位件向卡槽中心轴方向延伸，限位件的延伸范围不超过对接孔的孔壁。如此，第二连接头的陶瓷插芯与第一连接头的陶瓷插芯在对接孔内对接，提高光纤连接器的对接精度；第一指示部与第二指示部分别指示第一连接头与第二连接头的插入角度，提高对接效率，进而保证对光纤连接器检测的可靠性并提高检测效率。
连接器测试

[发明专利]一种适用于检测微反射镜阵列的检测装置-CN202310879359.X在审
发明人：童长青;陈浩然;王金雅;徐程奕;刘清沁;王栋 -专利权人：上海镭望光学科技有限公司
申请日： 2023-07-18 - 公布日： 2023-10-27 - 主分类号： G01M11/00 文献下载
摘要：一种适用于检测微反射镜阵列的检测装置，包括：上位机、检测机构和驱动机构；检测机构包括：光源模块、第一成像系统、第二成像系统、第三成像系统、图像传感器和位置传感器；第一成像系统用于将光源模块的出射光束成像至微反射镜阵列上；第二成像系统用于将微反射镜阵列的反射光束成像至图像传感器；第三成像系统用于将微反射镜阵列中微反射镜的反射角谱成像至位置传感器上；上位机实时显示图像传感器反馈的图像信息，以实时观测微反射镜阵列的检测过程，上位机对位置传感器反馈的光斑位置信息进行处理，以获取微反射镜阵列中各微反射镜的机电性能参数。通过位置传感器和图像传感器实现微反射镜阵列的检测、观测和标定一体化。
一种适用于检测反射阵列装置

[发明专利]一种双向光纤测试曲线的拼接方法-CN202310599398.4在审
发明人：叶欣辰 -专利权人：天津纤测道客科技发展有限公司
申请日： 2023-05-25 - 公布日： 2023-10-27 - 主分类号： G01M11/00 文献下载
摘要：本发明提供了一种双向光纤测试曲线的拼接方法，包括以下步骤：S1、分别向光纤两端发出测试光，对应得到第一测试曲线和第二测试曲线；S2、将第二测试曲线旋转180°，对旋转后的第二测试曲线进行偏移；S3、对第一测试曲线和偏移后的第二测试曲线进行拼合，得到合并曲线MA；S4、对合并曲线MA进行事件分析得到事件表EA，将合并曲线MA旋转180°后得到合并曲线MB，对合并曲线MB中的事件区间进行水平翻转，再进行事件分析得到事件表EB；S5、对事件表EA和事件表EB进行合并，对合并后的事件按距光纤端点距离排序，根据合并后的事件表获取光纤性能信息和故障位置。本发明有益效果：优化了双向测试曲线的处理方式，降低了操作难度，提高了准确度和测试效率。
一种双向光纤测试曲线拼接方法

[发明专利]光模块高低温测试装置-CN201710291198.7有效
发明人：许乐 -专利权人：苏州易锐光电科技有限公司
申请日： 2017-04-28 - 公布日： 2023-10-27 - 主分类号： G01M11/00 文献下载
摘要：本发明涉及一种光模块高低温测试装置，其用以测试光模块，该光模块高低温测试装置包括底座和设置在所述底座上的测试架，所述光模块放置在所述测试架上；所述测试架的上方设置有热电偶探头，所述热电偶探头与放置在所述测试架上的光模块接触，所述热电偶探头通过支架固定，该光模块高低温测试装置的热电偶探头通过支架固定，以当光模块固定在测试架上后，热电偶探头直接与光模块接触，从而使得该安装测试工艺方便，而由于热电偶探头不会发生位移现象，从而可避免由于电热偶探头的位移改变而带来了测试数据不准确的问题，另外，相对现有技术来说，该光模块高低温测试装置结构简单。
模块低温测试装置

[发明专利]光缆位置的确定方法、装置、电子设备及存储介质-CN202011287996.0有效
发明人：吴宇 -专利权人：中国移动通信集团江苏有限公司;中国移动通信集团有限公司
申请日： 2020-11-17 - 公布日： 2023-10-27 - 主分类号： G01M11/00 文献下载
摘要：本申请公开了一种光缆位置的确定方法、装置、电子设备及存储介质，属于通信技术领域，其中，光缆位置的确定方法，包括：将预设光信号输入目标光纤的入射端，所述目标光纤为待探查光缆中的空闲光纤；对所述待探查光缆待探查段落的多个位置发出预设振动信号，并在所述目标光纤的入射端检测回波光信号中应变最大光信号；基于所述预设光信号、所述预设振动信号、所述应变最大光信号及所述应变最大光信对应的预设振动信号发出位置确定所述待探查光缆的位置。
光缆位置确定方法装置电子设备存储介质

[发明专利]一种线激光设备的系统标定方法和装置-CN202111088009.9有效
发明人：杨煦;邓志辉 -专利权人：杭州海康机器人股份有限公司
申请日： 2021-09-16 - 公布日： 2023-10-27 - 主分类号： G01M11/00 文献下载
摘要：本申请披露一种线激光设备的系统标定方法和装置。本申请中，可以获取线激光设备扫描到标定物体后输出的扫描数据，然后根据扫描数据、以及多组预估标定参数来预测标定物体的预测尺寸，继而可以根据预测尺寸和标定物体的标定尺寸来确定系统标定的目标标定参数。根据本实施例的方法，不需要借助测量工具以及人工测量，避免了工具的精度和人工测量所引起的误差，提高了系统标定的可靠性。
一种激光设备系统标定方法装置

[实用新型]一种便于更换模具的检测装置-CN202321614010.5有效
发明人：王雪洋;谢金乐 -专利权人：南阳高新区鹰翔光学有限公司
申请日： 2023-06-25 - 公布日： 2023-10-27 - 主分类号： G01M11/00 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种便于更换模具的检测装置，涉及透镜检测设备技术领域，旨在解决现有技术中不便于进行对齐，不能便利地更换模具以快速进行检测的问题，包括底座、光源座、模具座，模具座上设有模具，模具座的顶面高于光源座的顶面，模具座上设有安装槽，安装槽内滑动连接有安装板，安装板的底部两侧均设有滑柱，安装槽内侧壁上对称设有滑槽，滑柱在滑槽内滑动连接，本实用新型通过在模具座上设置可滑动翻转的安装板，使安装板可在竖直状态与水平状态进行切换，便于在安装板上方进行模具的安装拆卸，通过将模具安装在腰形槽内，利用对齐块进行安装对齐，相对于使用对齐孔进行对齐定位，更加简单方便，从而提高了模具更换的便利性。
一种便于更换模具检测装置

[发明专利]一种光纤激光器老化测试系统-CN202310833257.4在审
发明人：许海鑫;房强;史伟 -专利权人：山东海富光子科技股份有限公司
申请日： 2023-07-07 - 公布日： 2023-10-24 - 主分类号： G01M11/00 文献下载
摘要：本申请提供了一种光纤激光器老化测试系统，其解决了现有光纤激光器老化测试系统由于返回光损害机器而不适用万瓦级光纤激光器的技术问题；包括：光束调角室，内部设有光束反射组件；设有进液口、出液口的光束吸收室，用于盛装流动的换热液体，并且所述进液口靠近液面设置；及部分设有透光片的中部隔板，倾斜设于所述光束调角室、光束吸收室之间；其中，由所述光束反射组件反射的激光束，经所述透光片垂直射入所述换热液体。本申请广泛应用于光纤激光器老化测试技术领域。
一种光纤激光器老化测试系统

[发明专利]用于测井探测器的测试装置及性能评价测试方法-CN202210359903.3在审
发明人：吴金平;郑奕挺;倪卫宁;张卫;李永杰;郑俊华;李继博;宋红喜 -专利权人：中国石油化工股份有限公司;中石化石油工程技术研究院有限公司
申请日： 2022-04-06 - 公布日： 2023-10-24 - 主分类号： G01M11/00 文献下载
摘要：本发明提供用于测井探测器的测试装置及性能评价测试方法，其中测试装置包括高温高压容器、天然岩石模拟井眼、加温系统、加压系统、温压测控采集系统、上位机控制处理系统和测井探测器检测系统。本发明提供的测试装置及性能评价测试方法，构建测井探测器测试中温度和压力均可控制的测试装置和性能评价测试方法，满足测井探测器在温度、压力和温度压力共同作用下测试需求，以发现测井探测器高温高压性能的不足并改进，保证随钻成像测井仪器在井下高温高压环境中稳定可靠的工作。
用于测井探测器测试装置性能评价方法

[发明专利]一种激光动态目标模拟及瞄准精度测量设备-CN202311091020.X在审
发明人：请求不公布姓名 -专利权人：河南骞源电子科技有限公司
申请日： 2023-08-28 - 公布日： 2023-10-24 - 主分类号： G01M11/00 文献下载
摘要：本发明涉及激光跟踪技术领域，具体涉及一种激光动态目标模拟及瞄准精度测量设备，包括箱体与结构靶板。箱体中设有激光器，激光器产生的激光经衰减装置衰减后经二维振镜模块模拟出运动轨迹，衰减装置能够对激光的强度进行平滑的衰减，实现激光强度变化在现实环境中的模拟，二维振镜模块实现对激光轨迹的模拟，面阵相机对结构靶板上形成的光斑进行拍摄，图像经处理后换算为跟踪误差曲线，实现对激光跟踪设备的跟踪误差分析。本发明实现了激光动态目标模拟的同时可实现对受试设备的瞄准精度测量，此外还通过激光衰减装置，实现了对激光强度的衰减，实现了对激光在现实环境中的模拟，对提升受试设备的跟踪精度具有积极的意义。
一种激光动态目标模拟瞄准精度测量设备

[发明专利]光方向探测装置-CN202310804659.1在审
发明人：金荆沙;方世超 -专利权人：武汉锐科光纤激光技术股份有限公司
申请日： 2023-06-30 - 公布日： 2023-10-24 - 主分类号： G01M11/00 文献下载
摘要：本发明公开一种光方向探测装置，其中，所述光方向探测装置包括底座、探测结构以及高度调整结构，所述底座用以安装光器件，所述探测结构包括沿上下向活动安装于所述底座的安装板、以及设于所述安装板的光电传感器，所述光电传感器用以探测自所述光器件泄漏的剥除光，所述高度调整结构设于所述底座与所述安装板之间，用以调整所述安装板与所述底座之间的间距，通过所述高度调整结构调整所述安装板的高度，用以调整所述光电传感器的位置，以在所述光电传感器探测到剥除光后，通过所述光电传感器的位置与所述光器件泄露处的位置确定出剥除光的方向，从而使得所述光方向探测装置能够探测出剥除光的方向，方便后续相应进行剥除光的吸收处理。
方向探测装置

[发明专利]一种半导体激光器的结温测试方法-CN202310149051.X有效
发明人：刘刚;冷祥;魏明;李宁 -专利权人：无锡市华辰芯光半导体科技有限公司
申请日： 2023-02-20 - 公布日： 2023-10-24 - 主分类号： G01M11/00 文献下载
摘要：本发明提供一种半导体激光器的结温测试方法，包括：获取测试载台为第一温度、半导体激光器在第一直流电流工作下，半导体激光器发出光的第一峰值波长；获取半导体激光器在第二脉冲电流工作下，测试载台在不同第二温度下半导体激光器分别对应发出光的第二峰值波长，第二脉冲电流的电流值等于第一直流电流的电流值；对不同第二温度下发出光的分别对应的第二峰值波长的数据进行拟合，获取半导体激光器在脉冲工作条件下峰值波长随半导体激光器的结温的变化曲线；获取变化曲线中峰值波长等于第一峰值波长时对应的测试结温。所述方法能降低测试半导体激光器结温的复杂度和提高测试精度。
一种半导体激光器测试方法

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