专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]一种质谱检出限的检测装置及其检测方法-CN201810629121.0有效
  • 罗艳;吴晓斌;王魁波;谢婉露;张罗莎;张立佳 - 中国科学院光电研究院
  • 2018-06-19 - 2023-10-20 - H01J49/02
  • 一种高精度质谱检出限的检测装置及其检测方法,其中,所述检测装置包括,待测高精度质谱仪、真空腔室、分子泵、干泵、隔膜泵、微调阀、金属细管、金属毛细管和大气采样阀;检测方法包括:以空气中稀有气体同位素浓度为检测目标,实现对高精度质谱仪检出限的检测。本发明的优点为,通过采用本发明检测装置,实现了利用空气中的低浓度稀有气体同位素对高精度质谱仪检出限的检测工作,解决了不易获得低浓度标准检测气体的问题,此外,相比已有的技术成果,本发明的一种高精度质谱检出限的检测装置及其检测方法简单易行,通过一次有效的测试,即可直观可比地获得检出限的数量级;通过简单地计算,即可精确可靠地获得四极质谱仪的最小可检浓度和最小可检分压。
  • 种质检出检测装置及其方法
  • [发明专利]一种极紫外光刻胶放气污染测试系统-CN201911171642.7有效
  • 谢婉露;吴晓斌;王魁波;罗艳;张罗莎;王宇 - 中国科学院微电子研究所
  • 2019-11-25 - 2022-10-21 - G01N17/00
  • 一种极紫外光辐照致光刻胶放气污染测试系统,该系统包括极紫外光源腔室、光收集腔室、污染样品测试腔室,其中:极紫外光源腔室,用于发出辐照光;光收集腔室,用于将极紫外光源腔室发出的辐照光线反射聚焦进入污染样品测试腔室内;污染样品测试腔室,用于在光收集腔室传入的辐照光线的作用下,实现光刻胶受到极紫外光辐照时放气污染特性对系统部件性能影响的测试。本发明提供的极紫外光辐照致光刻胶放气污染测试系统,结构简单,操作方便,不仅可以研究极紫外光刻胶放气特性还可用于光刻胶放气污染对系统部件性能的影响,从而可以更好的评估光刻胶的污染特性。
  • 一种紫外光刻放气污染测试系统
  • [发明专利]气体分压的在线测量装置及其在线测量方法-CN201910507546.9有效
  • 罗艳;吴晓斌;朱精果;王魁波;张罗莎;谢婉露 - 中国科学院微电子研究所
  • 2019-06-12 - 2022-02-08 - G01N27/62
  • 本发明涉及气体分压的在线测量装置及其在线测量方法,在线测量装置包括待测气源腔室,校准气源腔室,减压腔室,恒压腔室,真空计和质谱分析模块,其中第一进气阀门和减压腔室之间设有高压待测气体进样通道和中压待测气体进样通道,第一进气阀门和恒压腔室之间设有低压待测气体进样通道,第六进气阀门与减压腔室之间设有校准气体进样通道,减压腔室和恒压腔室之间设有气体流通通道,真空计用于测量上述四个腔室的真空度,质谱分析模块用于在线测量恒压腔室的气体;测量方法包括确定标样气体,洁净度检查,获取质谱计灵敏度,抽真空去除残余气体和气体分压的在线测量步骤。本发明的在线测量装置和方法,主要针对粗、低真空气体分析,根据待测气体压力而选择最优的进样通道,分压测量更加准确。
  • 气体在线测量装置及其测量方法
  • [发明专利]一种极紫外光学元件性能参数测试系统-CN201911171641.2有效
  • 谢婉露;吴晓斌;王魁波;罗艳;张罗莎;王宇 - 中国科学院微电子研究所
  • 2019-11-25 - 2021-04-16 - G01M11/02
  • 一种极紫外光学元件性能参数测试系统,该系统包括极紫外光源腔室、光收集纯化腔室和测量腔室,其中:极紫外光源腔室,用于发出辐照光;光收集纯化腔室,用于对极紫外光源腔室发出的辐照光进行光谱纯化及聚焦,得到中心波长为13.5nm的极紫外光,并将极紫外光反射传输到测量腔室中;测量腔室,用于装载待测光学元件,使极紫外光照射到所述待测光学元件的表面,实现对待测光学元件特性参数的测试。本发明提供的极紫外光学元件性能参数测试系统,结构简单,操作方便,可以在不破坏真空环境条件下,实现极紫外探测器光谱响应率、反射镜反射率、滤光片透过率等光学元件的不同性能的测试。
  • 一种紫外光学元件性能参数测试系统
  • [发明专利]一种微量元素光谱检测方法及装置-CN201911306376.4在审
  • 李春宇;张罗莎;吕航 - 中国人民公安大学
  • 2019-12-18 - 2020-04-10 - G01N21/25
  • 本发明提供了一种微量元素光谱检测方法,包括如下步骤:调制强度随时间变化的激发光源,并使用激发光源照射微量元素样品,激发周期性特征光,其中,所述周期性特征光,在时域空间上的强度随时间呈周期分布;光探测器采集光信号,转换为数字信号,将所述数字信号,从时域空间变换至频率域空间,判断对应于时域空间下的频率处,是否存在强度明显高于其他频率处强度的信号,若存在,则强度明显高于其他频率处强度的信号,即为微量元素样品激发的周期性特征光信号。本发明有效的解决了光谱法微量元素检测过程中微弱的检测信号完全淹没于背景噪声的问题,避免了微弱信号难以检测造成对微量元素检测的误判。还提供了一种微量元素检测装置。
  • 一种微量元素光谱检测方法装置
  • [实用新型]气体分压的在线测量装置-CN201920884374.2有效
  • 罗艳;吴晓斌;朱精果;王魁波;张罗莎;谢婉露 - 中国科学院微电子研究所
  • 2019-06-12 - 2020-04-10 - G01L11/00
  • 本实用新型涉及气体分压的在线测量装置,包括待测气源腔室,校准气源腔室,减压腔室,恒压腔室,真空计和质谱分析模块,其中第一进气阀门和减压腔室之间设有高压待测气体进样通道和中压待测气体进样通道,第一进气阀门和恒压腔室之间设有低压待测气体进样通道,第六进气阀门与减压腔室之间设有校准气体进样通道,减压腔室和恒压腔室之间设有气体流通通道,真空计用于测量上述四个腔室的真空度,质谱分析模块用于在线测量恒压腔室的气体。本实用新型的在线测量装置,主要针对粗、低真空气体分析,根据待测气体压力而选择最优的进样通道,分压测量更加准确。
  • 气体在线测量装置
  • [发明专利]一种极紫外光辐照致材料氢脆性能的测试系统-CN201911171755.7在审
  • 谢婉露;吴晓斌;王魁波;罗艳;张罗莎;王宇 - 中国科学院微电子研究所
  • 2019-11-25 - 2020-03-13 - G01N17/00
  • 一种极紫外光辐照致材料氢脆的测试系统,该系统包括极紫外光源子系统、光路转换子系统和样品测试子系统,其中:极紫外光源子系统,用于发出辐照光;光路转换子系统,用于对极紫外光源子系统发出的辐照光进行反射和聚焦,将辐照光反射聚焦至样品测试子系统;样品测试子系统,用于装载待测样品并调节待测样品所处的位置,辐照光反射聚焦至样品测试子系统的焦点处后继续传播至待测样品的表面,实现对待测样品的检测。本发明提供的极紫外光辐照致氢脆测试系统通过极紫外光源子系统、光路转换子系统和样品测试子系统模拟了极紫外光刻机中的动态低压氢气环境,结构简单,便于实现在极紫外光辐照以及低压氢气环境中材料氢脆性能的试验。
  • 一种紫外光辐照材料脆性测试系统

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