专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]光半导体装置-CN200980138836.5无效
  • 西研一 - QD激光公司
  • 2009-07-30 - 2011-08-31 - H01S5/343
  • 本发明是如下的光半导体装置,其具备:下部包层(12),其具有第1导电类型;活性层(14),其设置在下部包层(12)上,并层叠了多个具有多个量子点(41)的量子点层(51~55);以及上部包层(18),其设置在该活性层(14)上,并具有作为与第1导电类型相反导电类型的第2导电类型,多个量子点层(51~55)的量子点密度不同。
  • 半导体装置
  • [发明专利]半导体结构及其形成方法-CN202211336757.9在审
  • 刘冬华 - 上海华虹宏力半导体制造有限公司
  • 2022-10-28 - 2023-03-14 - H01L21/76
  • 一种半导体结构及其形成方法,其中,形成方法包括:提供衬底,衬底包括第一区和第二区;在第二区内形成第一掺杂区,第一掺杂区的导电类型与衬底的导电类型相反;在第一区和第一掺杂区上形成第一材料层,第一材料层的导电类型与第一掺杂区的导电类型相反;在第二区上的第一材料层内形成第二掺杂区,第一掺杂区的导电类型与第二掺杂区的导电类型相同;对第一掺杂区和第二掺杂区进行扩散热处理,形成第一扩散区和第二扩散区,第一扩散区和第二扩散区构成深阱区,深阱区的深度大于或等于第一材料层的厚度
  • 半导体结构及其形成方法
  • [发明专利]一种VDMOS器件及其制作方法-CN201110076188.4有效
  • 朱超群;钟树理;任文珍;曾爱平;陈宇 - 比亚迪股份有限公司
  • 2011-03-29 - 2012-10-10 - H01L29/78
  • 本发明公开了一种VDMOS器件及其制作方法,VDMOS器件包括:第一导电类型衬底,在其背面设置有漏极;第一导电类型漂移区,设置在第一导电类型衬底上;第二导电类型阱区,其在第一导电类型漂移区的表面区域选择性的形成,与第一导电类型漂移区的导电类型相反;第一导电类型源区,设置在第二导电类型阱区内;栅极,位于第一导电类型漂移区上并部分覆盖第二导电类型阱区和第一导电类型源区;肖特基接触,设置在第一导电类型漂移区上并位于栅极区域中形成的肖特基接触位于栅极区域内并在第一导电类型漂移区上,在不增加器件整体尺寸、不增大器件导通电阻的情况下,提高了VDMOS器件结构中包含的体二极管的恢复速度。
  • 一种vdmos器件及其制作方法

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