专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]用于OCT血管造影的OCT B扫描的预处理-CN202310178438.8在审
  • 加加林·亚伊科姆 - 奥普托斯股份有限公司
  • 2023-02-28 - 2023-08-29 - A61B5/00
  • 本申请涉及用于OCT血管造影的OCT B扫描的预处理。一种计算机实现的方法,该方法处理身体部位的成像区域的重复B扫描,以生成裁剪的B扫描,成像区域包括成像区域的第一子区域中的解剖特征和成像区域的第二子区域中的感兴趣的脉管系统,该裁剪的B扫描用于生成提供感兴趣的脉管系统的表示的OCT血管造影数据,该方法包括通过以下方式处理重复B扫描中的每个B扫描:选择B扫描的数据元素的子集,使得所选择的数据元素沿着B扫描中的解剖特征的表示分布;使用所选择的数据元素来定义B扫描中的相应的感兴趣的子区域,该相应的感兴趣的子区域包括从包含感兴趣的脉管系统的第二子区域获得的OCT数据;以及裁剪B扫描以在B扫描中留下感兴趣的子区域
  • 用于oct血管造影扫描预处理
  • [发明专利]溅射方法-CN201980000948.8有效
  • 泷旭;石桥哲 - 株式会社爱发科
  • 2019-02-27 - 2021-07-09 - C23C14/34
  • 本发明的溅射方法为使用反应性溅射装置的溅射方法,所述反应性溅射装置具备阴极装置,所述阴极装置朝向应形成于成膜对象物的化合物膜的形成区域排出溅射粒子,与所述形成区域相对的空间为相对区域,所述阴极装置具备:扫描部,用于在所述相对区域扫描溅蚀区域;和靶,形成有所述溅蚀区域,并且扫描方向上的长度短于所述相对区域,所述扫描部在开始位置与结束位置之间朝向所述相对区域扫描所述溅蚀区域,所述开始位置为:相对于所述扫描方向上的所述形成区域的两个端部中的所述溅射粒子先到达的第一端部,所述扫描方向上的所述靶的表面的中点在所述扫描方向上位于所述形成区域的外侧的位置;所述结束位置为:相对于所述扫描方向上的所述形成区域的两个端部中的另一方的第二端部,所述扫描方向上的所述靶的所述表面的中点在所述扫描方向上位于所述形成区域的外侧的位置所述溅射方法在使所述扫描部中的所述靶的速度从所述开始位置起加速至第二扫描速度之后,进一步加速至第二扫描速度,然后减速至第一扫描速度之后,扫描至所述结束位置,从所述第一扫描速度起加速并成为所述第二扫描速度的位置比所述第一端部更靠所述形成区域的内侧,从所述第二扫描速度起减速并成为所述第一扫描速度的位置比所述第二端部更靠所述形成区域的内侧。
  • 溅射方法
  • [发明专利]二维码定位方法、介质、装置和计算设备-CN201910775253.9有效
  • 周磊;姜波;杜晨婷 - 网易(杭州)网络有限公司
  • 2019-08-21 - 2023-02-24 - G06K7/14
  • 该方法包括:根据二值化图像中的像素分布信息确定位于所述二值化图像上的多个像素扫描区域;当所述像素扫描区域内的像素数量为标准像素数量时,将所述像素扫描区域确定为标准像素扫描区域;当所述像素扫描区域内的像素数量为辅助像素数量时,将所述像素扫描区域确定为带有缺陷区域的辅助像素扫描区域;根据所述标准像素扫描区域和所述辅助像素扫描区域确定用于定位二维码的位置探测图形。该方法可以识别到二值化图像中存在缺陷区域的位置探测图形,提高了二维码的定位准确度和定位成功率。
  • 二维码定位方法介质装置计算设备
  • [发明专利]一种激光退火方法-CN201710067775.4有效
  • 沈耀庭 - 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司;中芯国际集成电路制造(北京)有限公司
  • 2017-02-07 - 2020-08-04 - H01L21/268
  • 本发明提供一种激光退火方法,所述方法包括:提供半导体晶圆,所述半导体晶圆至少包括第一区域和第二区域;通过激光束斑扫描所述半导体晶圆进行激光退火;其中,所述激光束斑扫描所述第一区域时边缘排除的尺寸,与扫描所述第二区域时边缘排除的尺寸不同;其中,所述激光束斑扫描所述第一区域时相邻两次扫描的间隔时间,与扫描所述第二区域时相邻两次扫描的间隔时间不同。根据本发明提供的激光退火方法,半导体晶圆至少包括第一区域和第二区域扫描第一区域时边缘排除的尺寸与扫描第二区域时边缘排除的尺寸不同,扫描第一区域时相邻两次扫描的间隔时间与扫描第二区域时相邻两次扫描的间隔时间不同
  • 一种激光退火方法
  • [发明专利]一种混合型粒子扫描照射方法及系统-CN202211711539.9在审
  • 李永江;张潇;马晓颖;李乾楠;杨凡;陈志凌 - 上海艾普强粒子设备有限公司
  • 2022-12-29 - 2023-06-23 - G01T1/02
  • 本申请公开了一种混合型粒子扫描照射方法及系统,涉及高速粒子束流实验技术领域,混合型粒子扫描照射方法包括以下步骤:获取目标介质区域信息、目标介质总剂量信息以及扫描判定模型,基于所述目标介质区域信息,对目标介质区域划分子区域,基于所述目标介质总当量信息,对各个所述子区域分配剂量,在对子区域进行区分判断,若是连续扫描区域,则适用连续扫描模式,若是点扫描区域,适用于点扫描模式,点扫描与连续扫描结合的方式,有效减少了开关束流的次数,从而减少了关断束流时的泄漏剂量,提高了实验结果的准确性,也保证了整个目标介质区域的均匀照射。
  • 一种混合粒子扫描照射方法系统
  • [发明专利]多任务的扫描方法-CN02144429.3无效
  • 张晓秋 - 明基电通股份有限公司
  • 2002-09-27 - 2004-03-31 - G06K9/34
  • 多任务的扫描方法是用于光学扫描装置中,该方法包括步骤:设定多个扫描范围;依据该些扫描范围的重叠情形划分多个扫描区域,以使每一区域是涵盖该些范围之一、涵盖该些范围之一的部份或涵盖数个该些范围或其部分;将这些区域依与起始位置间的远近,设定先后顺序;将各区域解析度设为所涵盖范围的解析度要求中的最高的一个;光学扫描装置的CCD依所设定的顺序与解析度扫描区域,中途不返回该起始位置;以及CCD在结束该扫描后回到该起始位置。该步进马达在非扫描区域时加速运转,以节省扫描时间;在扫描区域则依据该区域的影像类型、解析度及扫描范围,调整出最佳化的速度,以提高扫描效能。
  • 任务扫描方法
  • [发明专利]扫描曝光装置、扫描曝光方法以及物品制造方法-CN202110847346.5在审
  • 上野卓郎;板桥宏明 - 佳能株式会社
  • 2021-07-27 - 2022-01-28 - G03F7/20
  • 本公开涉及扫描曝光装置、扫描曝光方法以及物品制造方法。扫描曝光装置针对由照明光学系统照明的照明区域扫描原版,并且一边与原版的扫描同步地扫描基板,一边对基板进行扫描曝光。扫描曝光装置具备:第1调整机构,在进行基板的第1区域扫描曝光以及与第1区域部分地重复的第2区域扫描曝光的模式下调整被照射到第1区域与第2区域的重复区域的曝光光的照度分布;第2调整机构,调整照明区域的形状;以及控制部,在执行以在重复区域的整个区域使曝光量超过目标曝光量的方式使第1调整机构动作的第1调整动作之后,执行以在重复区域使曝光量收敛于目标曝光量的容许范围的方式使第2调整机构动作的第2调整动作。
  • 扫描曝光装置方法以及物品制造
  • [发明专利]扫描系统的参数配置方法、扫描系统和电子装置-CN202111557227.2在审
  • 李云;邢峣 - 武汉联影生命科学仪器有限公司
  • 2021-12-18 - 2022-03-25 - G06F9/445
  • 本申请涉及一种扫描系统的参数配置方法、扫描系统和电子装置,其中,该扫描系统的参数配置方法包括:通过扫描系统识别扫描对象身体区域的位置信息;根据位置信息确定身体区域为第一区域或者第二区域,第一区域和第二区域扫描对象不同位置的身体区域;若身体区域在第一区域中,配置扫描系统的第一参数,若身体区域在第二区域中,配置与第一参数不同的扫描系统的第二参数。通过本申请,解决了相关技术中,在获取更高质量的扫描图像数据的同时,整体的数据处理成本增加的问题,实现了在获取高质量扫描图像数据的过程中,降低处理数据处理量以降低处理成本的效果,提高了数据处理的效率。
  • 扫描系统参数配置方法电子装置
  • [发明专利]晶圆缺陷扫描方法-CN201410414597.4在审
  • 何理;许向辉 - 上海华力微电子有限公司
  • 2014-08-21 - 2014-11-19 - H01L21/66
  • 本发明公开了一种晶圆缺陷扫描方法,其包括提供一包括多个重复的芯片单元的晶圆;定义每一芯片单元的存储区域和非存储区域;将各芯片单元中的存储区域划分为第一扫描区,各非存储区域划分为第二扫描区域;执行两次缺陷扫描,以第一光强的入射光扫描第一扫描区以获得第一扫描区的缺陷,以小于该第一光强的第二光强的入射光扫描第二扫描区以获得第二扫描区的缺陷;将第一扫描区的缺陷和第二扫描区的缺陷合并。本发明能够提高存储区域的缺陷捕获能力。
  • 缺陷扫描方法

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