[发明专利]封装结构及封装结构的封装方法在审

专利信息
申请号: 202310781155.2 申请日: 2023-06-28
公开(公告)号: CN116721976A 公开(公告)日: 2023-09-08
发明(设计)人: 庄凌艺;刘莹 申请(专利权)人: 长鑫存储技术有限公司
主分类号: H01L23/24 分类号: H01L23/24;H01L25/07;H01L25/18;H01L29/06;H01L23/49;H01L21/60;H01L21/54;H10B80/00
代理公司: 上海晨皓知识产权代理事务所(普通合伙) 31260 代理人: 成丽杰
地址: 230601 安徽省合肥市*** 国省代码: 安徽;34
权利要求书: 暂无信息 说明书: 暂无信息
摘要: 本公开实施例提供一种封装结构及封装结构的封装方法,封装结构包括:基板,基板具有相对的第一面和第二面,第一面上具有第一焊盘;叠层结构,位于第一面上,叠层结构包括朝向远离基板方向堆叠设置且相间隔的多个芯片,芯片具有相对的第三面和第四面,第三面背离基板,第三面具有第二焊盘,芯片的边缘区域具有缺口,缺口由第三面所处平面延伸至芯片中;保护膜,保护膜位于缺口中;导线,导线的一端与第二焊盘相接触,导线的另一端与第一焊盘相接触,导线邻近芯片的部分还与保护膜固定接触。本公开实施例至少有利于降低封装结构出现漏电或短路的可能性。
搜索关键词: 封装 结构 方法
【主权项】:
暂无信息
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