[发明专利]基于预氧化处理技术的4H-SiC场效应光电晶体管及制备方法有效

专利信息
申请号: 202210599814.6 申请日: 2022-05-30
公开(公告)号: CN114678441B 公开(公告)日: 2022-09-13
发明(设计)人: 田鸿昌;杜丰羽;宋庆文;袁昊;汤晓燕;张玉明 申请(专利权)人: 陕西半导体先导技术中心有限公司
主分类号: H01L31/113 分类号: H01L31/113;H01L31/0224;H01L31/18
代理公司: 西安嘉思特知识产权代理事务所(普通合伙) 61230 代理人: 王萌
地址: 710000 陕西省西安市*** 国省代码: 陕西;61
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摘要: 发明涉及一种基于预氧化处理技术的4H‑SiC场效应光电晶体管及制备方法,该场效应光电晶体管包括:4H‑SiC衬底层、4H‑SiC外延层、透明源电极、透明漏电极、界面钝化层、透明栅氧层和透明栅电极,其中,4H‑SiC外延层位于4H‑SiC衬底层上;透明源电极位于4H‑SiC衬底层的一端且覆盖4H‑SiC外延层的一端部;透明漏电极位于4H‑SiC衬底层的另一端且覆盖4H‑SiC外延层的另一端部;界面钝化层位于4H‑SiC外延层上且位于透明源电极和透明漏电极之间;透明栅氧层位于界面钝化层上;透明栅电极位于透明栅氧层上。该光电晶体管采用三端光电晶体管结构,解决了碳化硅探测器的增益问题。
搜索关键词: 基于 氧化 处理 技术 sic 场效应 光电晶体管 制备 方法
【主权项】:
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  • 张盛东;周晓梁;廖聪维;范昌辉;林清平;严建花;李建桦 - 北京大学深圳研究生院
  • 2021-05-13 - 2022-11-29 - H01L31/113
  • 本申请提供了一种光电探测晶体管包括衬底、底栅电极、底栅介质层、有源层、顶栅介质层和顶栅电极;有源层包括有光记忆功能的半导体材料以及沟道和源漏区域,顶栅电极为透明导电材料;源漏区域是通过对相应区域的有源层进行等离子体处理获得;积分阶段探测晶体管底栅和顶栅电极电压不同,使探测晶体管处在关态工作区且沟道电流远大于暗态电流;积分阶段包括曝光子阶段和其后的光记忆维持子阶段;暗态电流为曝光子阶段前探测晶体管工作在关态工作区时沟道中的电流;积分阶段结束后的读取阶段及读取阶段开始前,探测晶体管底栅和顶栅电极电压相同,使探测晶体管处在关态工作区且沟道电流恢复到暗态电流水平。本申请还公开了一种光电探测器。
  • 光电神经突触器件、对应的制备方法和工作方法-202211145123.5
  • 皮孝东;开翠红;杨德仁 - 浙江大学杭州国际科创中心
  • 2022-09-20 - 2022-11-29 - H01L31/113
  • 本发明涉及半导体工艺,公开了一种光电神经突触器件、对应的制备方法及工作方法,所述光电神经突触器件,包括:半导体衬底,位于所述半导体衬底表面的GaN层,位于所述GaN层表面的AlGaN层,位于所述AlGaN层表面的非晶SiNx层,位于所述非晶SiNx层表面的栅电极,其中GaN层、AlGaN层、非晶SiNx层构成浮栅结构,位于所述AlGaN层表面的源电极和漏电极。本发明引入非晶SiNx层作为电荷存储层,使光生载流子通过异质结极化场分离后进入电荷存储层,从而达到保存光电流的目的,最终获得灵敏度高、可靠性好、记忆时间大于10年的光电神经突触器件。
  • 金纳米线网格阵列与二维层状材料异质结复合的光电探测器、制备方法及用途-202211150248.7
  • 王权;孔存巍;张琳 - 江苏大学
  • 2022-09-21 - 2022-11-25 - H01L31/113
  • 本发明提供了一种金纳米线网格阵列与二维层状材料异质结复合的光电探测器、制备方法及用途。所述光电探测器包括附着在衬底上的金纳米线网格阵列,以及位于金纳米线网格阵列上方的二维层状材料异质结,所述二维层状材料异质结的两端与栅极和漏极接触;所述金纳米线网格阵列的网格为多边形。在入射光的激发下,这种位于同一平面内的金纳米线网格阵列结构能够产生阵列式表面等离激元电场,增强异质结对光子的吸收效率。使该光电探测器具有较高的光探测特性。
  • 一种智能光探测器及其使用方法和制备方法-202111680317.0
  • 程传同;张恒杰;陈弘达 - 中国科学院半导体研究所
  • 2021-12-30 - 2022-11-22 - H01L31/113
  • 本公开提供了一种智能光探测器及其使用方法和制备方法,智能光探测器包括:衬底;栅极,形成于衬底的上表面;接触电极,形成于栅极的上表面,且位于栅极的一侧;第一介质层,形成于栅极的上表面;悬浮栅层,形成于第一介质层的上表面;第二介质层,形成于悬浮栅层的上表面;有源导电层,形成于第二介质层的上表面;源极,形成于第二介质层的上表面,且位于有源导电层的一侧;漏极,形成于第二介质层的上表面,且位于有源导电层的另一侧;半导体光敏层,形成于有源导电层的上表面;第三介质层,形成于半导体光敏层的上表面。本公开通过调节施加在栅极上的电压来调整悬浮栅层中的电子或空穴的浓度,使光探测器的光响应度随之发生改变。
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