[发明专利]一种碳化硅器件埋层型终端结构及其制备方法在审

专利信息
申请号: 202011059252.3 申请日: 2020-09-30
公开(公告)号: CN112349771A 公开(公告)日: 2021-02-09
发明(设计)人: 王俊;俞恒裕;梁世维;刘航志;江希;彭子舜;岳伟;杨余;张倩 申请(专利权)人: 湖南大学
主分类号: H01L29/06 分类号: H01L29/06;H01L21/8258
代理公司: 北京精金石知识产权代理有限公司 11470 代理人: 肖乐愈秋
地址: 410006 湖*** 国省代码: 湖南;43
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摘要: 发明公布了一种碳化硅器件埋层型终端结构,包括器件元胞和埋层型多调制环终端,所述器件元胞包括:N+ SiC衬底;位于所述N+ SiC衬底上的P缓冲层;位于所述P缓冲层上的P‑漂移区;位于所述P‑漂移区上的N基区,在N基区上进行离子注入形成门极区,位于所述N基区上的P+阳极区;所述埋层型多调制环终端距离P‑漂移区上表面的深度d≧0.3um。本发明还公布了一种碳化硅器件埋层型终端结构的制备方法。本发明可以有效缓解因漂移区上表面SiO2/SiC界面区域内的固定电荷对终端结构的影响,充分发挥终端结构的效果,缓解主结处的电场集中,提高器件的耐压能力。
搜索关键词: 一种 碳化硅 器件 埋层型 终端 结构 及其 制备 方法
【主权项】:
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