[发明专利]半导体器件的制造方法有效

专利信息
申请号: 202010086860.7 申请日: 2020-02-11
公开(公告)号: CN113113409B 公开(公告)日: 2022-09-20
发明(设计)人: 安佑松;吴容哲 申请(专利权)人: 夏泰鑫半导体(青岛)有限公司
主分类号: H01L27/108 分类号: H01L27/108;H01L21/8242
代理公司: 深圳市赛恩倍吉知识产权代理有限公司 44334 代理人: 彭辉剑;龚慧惠
地址: 266000 山东省青岛市黄岛区*** 国省代码: 山东;37
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摘要: 一种半导体器件的制造方法包括:在器件层上设置多层的掩模、抗灰化层、第一和第二伪置层、定义出第一图案组的第一图案结构,及定义出第二图案组的第二图案结构;其中所述第一伪置层的耐灰化性高于所述第二伪置层;通过所述第一和第二图案结构蚀刻所述第二、第一伪置层,从而形成定义出目标图案的目标图案结构,其中所述抗灰化层被部分地暴露;执行灰化工艺以减缩所述目标图案结构,以暴露出凹陷的所述第一伪置层;和执行图案转印工艺,通过所述凹陷的第一伪置层而蚀刻所述抗灰化层和所述多层的掩模,从而将所述目标图案转印到所述多层的掩模。
搜索关键词: 半导体器件 制造 方法
【主权项】:
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