[发明专利]碳化硅衬底上的电接触在审

专利信息
申请号: 201910450618.0 申请日: 2019-05-28
公开(公告)号: CN110544626A 公开(公告)日: 2019-12-06
发明(设计)人: S.克里韦克;R.柯恩;S.克拉姆普;G.兰格;H.温克勒;S.韦勒特 申请(专利权)人: 英飞凌科技股份有限公司
主分类号: H01L21/283 分类号: H01L21/283;H01L21/321;H01L23/485;H01L29/16
代理公司: 72001 中国专利代理(香港)有限公司 代理人: 胡莉莉;申屠伟进<国际申请>=<国际公布
地址: 德国瑙伊比*** 国省代码: 德国;DE
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摘要: 发明涉及碳化硅衬底上的电接触。一种用于在碳化硅衬底(105)上制造具有第一金属层(111)和至少一个第二金属层(121‑123)的电接触(106)的方法包括:执行化学清洁工艺(300),以去除碳残留物(302)的至少一部分,用于清洁第一金属层(111)。第一金属层(111)和/或第二金属层(121‑123)可以通过溅射沉积来产生。
搜索关键词: 第一金属层 第二金属层 电接触 碳化硅 衬底 化学清洁 溅射沉积 碳残留物 去除 清洁 制造
【主权项】:
1.一种用于在碳化硅衬底(105)上制造电接触(106)的方法,所述电接触(106)具有第一金属层(111)和至少一个第二金属层(121-123),其中所述方法包括:/n- 在所述碳化硅衬底(105)上沉积所述第一金属层(111),/n- 使所述第一金属层(111)退火,由此形成碳残留物(302),/n- 执行化学清洁工艺(300),以去除所述碳残留物(302)的至少一部分,用于清洁所述第一金属层(111),以及/n- 在已清洁的第一金属层(111)的表面上沉积至少一个第二金属层(121-123)。/n
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