[发明专利]碳化硅衬底上的电接触在审
申请号: | 201910450618.0 | 申请日: | 2019-05-28 |
公开(公告)号: | CN110544626A | 公开(公告)日: | 2019-12-06 |
发明(设计)人: | S.克里韦克;R.柯恩;S.克拉姆普;G.兰格;H.温克勒;S.韦勒特 | 申请(专利权)人: | 英飞凌科技股份有限公司 |
主分类号: | H01L21/283 | 分类号: | H01L21/283;H01L21/321;H01L23/485;H01L29/16 |
代理公司: | 72001 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人: | 胡莉莉;申屠伟进<国际申请>=<国际公布 |
地址: | 德国瑙伊比*** | 国省代码: | 德国;DE |
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摘要: | 本发明涉及碳化硅衬底上的电接触。一种用于在碳化硅衬底(105)上制造具有第一金属层(111)和至少一个第二金属层(121‑123)的电接触(106)的方法包括:执行化学清洁工艺(300),以去除碳残留物(302)的至少一部分,用于清洁第一金属层(111)。第一金属层(111)和/或第二金属层(121‑123)可以通过溅射沉积来产生。 | ||
搜索关键词: | 第一金属层 第二金属层 电接触 碳化硅 衬底 化学清洁 溅射沉积 碳残留物 去除 清洁 制造 | ||
【主权项】:
1.一种用于在碳化硅衬底(105)上制造电接触(106)的方法,所述电接触(106)具有第一金属层(111)和至少一个第二金属层(121-123),其中所述方法包括:/n- 在所述碳化硅衬底(105)上沉积所述第一金属层(111),/n- 使所述第一金属层(111)退火,由此形成碳残留物(302),/n- 执行化学清洁工艺(300),以去除所述碳残留物(302)的至少一部分,用于清洁所述第一金属层(111),以及/n- 在已清洁的第一金属层(111)的表面上沉积至少一个第二金属层(121-123)。/n
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- 专利分类
H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
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