[发明专利]垂直双扩散场效应晶体管及其制作方法在审
申请号: | 201711482322.4 | 申请日: | 2017-12-29 |
公开(公告)号: | CN108198860A | 公开(公告)日: | 2018-06-22 |
发明(设计)人: | 梅小杰;李龙;杨东;邹荣涛;杜永琴 | 申请(专利权)人: | 深圳市金誉半导体有限公司 |
主分类号: | H01L29/78 | 分类号: | H01L29/78;H01L29/06;H01L21/336 |
代理公司: | 深圳市兰锋知识产权代理事务所(普通合伙) 44419 | 代理人: | 曹明兰 |
地址: | 518000 广东省深圳市龙华新区*** | 国省代码: | 广东;44 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 一种垂直双扩散场效应晶体管包括N型衬底、N型外延区、形成于N型外延区表面的第一、第二P型体区、位于第一P型体区表面的两个第一N型注入区、位于第二P型体区表面的两个第二N型注入区、位于N型外延区表面的第三N型注入区、位于两个第一N型注入区之间的第一P型注入区、位于两个第二N型注入区之间的第二P型注入区、依次形成于N型外延区、第一及第二P型体区、第一、第二N型注入区上的栅氧化层与多晶硅层、形成于多晶硅层上、第一、第二及第三N型注入区上的介质层、贯穿介质层且对应第一N型注入区与第一P型注入区的第一通孔、贯穿介质层且对应第二N型注入区与第二P型注入区的第二通孔。 | ||
搜索关键词: | 介质层 垂直双扩散场效应晶体管 多晶硅层 通孔 栅氧化层 衬底 贯穿 制作 | ||
【主权项】:
1.一种垂直双扩散场效应晶体管,其特征在于:所述晶体管包括N型衬底、形成于所述N型衬底上的N型外延区、形成于所述N型外延区表面的第一P型体区与第二P型体区、位于所述第一P型体区表面的两个第一N型注入区、位于所述第二P型体区表面的两个第二N型注入区、位于所述第一P型体区与所述第二P型体区之间的N型外延区表面的第三N型注入区、位于所述两个第一N型注入区之间的所述第一P型体区表面的第一P型注入区、位于所述两个第二N型注入区之间的所述第二P型体区表面的第二P型注入区、依次形成于所述N型外延区、所述第一及第二P型体区、所述第一、第二N型注入区上的栅氧化层与多晶硅层、贯穿所述栅氧化层及多晶硅层且对应所述第一N型注入区与P型注入区的第一开口、贯穿所述栅氧化层与多晶硅层且对应所述第二N型注入区及所述第二P型注入区的第二开口、贯穿所述栅氧化层及多晶硅层且对应所述第三N型注入区的第三开口、形成于所述多晶硅层上、所述第一、第二及第三N型注入区上的介质层、贯穿所述介质层且对应所述第一P型注入区的第一通孔、贯穿所述介质层且对应所述第二P型注入区的第二通孔。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于深圳市金誉半导体有限公司,未经深圳市金誉半导体有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201711482322.4/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:鳍型半导体结构、晶体管结构及其制备方法
- 下一篇:薄膜晶体管
- 同类专利
- 专利分类