[发明专利]半导体封装结构在审

专利信息
申请号: 201710206510.8 申请日: 2017-03-31
公开(公告)号: CN107393880A 公开(公告)日: 2017-11-24
发明(设计)人: 林子闳;彭逸轩;刘乃玮;黄伟哲;周哲雅 申请(专利权)人: 联发科技股份有限公司
主分类号: H01L23/31 分类号: H01L23/31;H01L23/485;H01L25/065
代理公司: 深圳市威世博知识产权代理事务所(普通合伙)44280 代理人: 何青瓦
地址: 中国台湾新竹市*** 国省代码: 台湾;71
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摘要: 发明实施例提供了一种半导体封装结构。其中该半导体封装结构包括半导体封装;其中,该半导体封装包括重分布层结构、半导体晶粒和多个导电结构;其中,该重分布层结构具有相对设置的第一表面与第二表面,并且包括多条导电线路和天线图案,分别邻近该第一表面与该第二表面;其中,该半导体晶粒,设置于该第一表面上并且电性耦接该重分布层结构;其中,该多个导电结构电性耦接至该重分布层结构,并且通过该多条第一导电线路与该天线图案隔开。本发明实施例,将天线图案整合于重分布层结构中,从而可以提高半导体封装结构的集成水平。
搜索关键词: 半导体 封装 结构
【主权项】:
一种半导体封装结构,其特征在于,包括:第一半导体封装;其中,该第一半导体封装包括:第一重分布层结构、第一半导体晶粒和多个导电结构;其中,该第一重分布层结构具有相对设置的第一表面与第二表面,并且包括:多条第一导电线路和天线图案,分别邻近该第一表面与该第二表面;其中,该第一半导体晶粒,设置于该第一表面上并且电性耦接该第一重分布层结构;其中,该多个导电结构电性耦接至该第一重分布层结构,并且通过该多条第一导电线路与该天线图案隔开。
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