[发明专利]半导体结构有效

专利信息
申请号: 201611126760.2 申请日: 2016-12-09
公开(公告)号: CN108615764B 公开(公告)日: 2021-06-04
发明(设计)人: 陈永翔;张耀文;刘注雍;杨怡箴;张馨文 申请(专利权)人: 旺宏电子股份有限公司
主分类号: H01L29/78 分类号: H01L29/78;H01L29/06
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人: 任岩
地址: 中国台湾新竹*** 国省代码: 台湾;71
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摘要: 发明公开了一种半导体结构,包括一第一源极/漏极区、一第二源极/漏极区、一通道掺杂区、一栅极结构、一第一阱、和一第二阱。第二源极/漏极区与第一源极/漏极区相对设置。通道掺杂区设置在第一源极/漏极区和第二源极/漏极区之间。栅极结构设置在通道掺杂区上。第一阱具有设置在第一源极/漏极区下的一第一部分。第二阱与第一阱相对设置,并与第二源极/漏极区分离。第一源极/漏极区、第二源极/漏极区、和通道掺杂区具有一第一导电类型。第一阱和第二阱具有不同于第一导电类型的一第二导电类型。
搜索关键词: 半导体 结构
【主权项】:
1.一种半导体结构,包括:一第一源极/漏极区,具有一第一导电类型;一第二源极/漏极区,与该第一源极/漏极区相对设置,该第二源极/漏极区具有该第一导电类型;一通道掺杂区,设置在该第一源极/漏极区和该第二源极/漏极区之间,该通道掺杂区具有该第一导电类型;一栅极结构,设置在该通道掺杂区上;一第一阱,具有设置在该第一源极/漏极区下的一第一部分,该第一阱具有不同于该第一导电类型的一第二导电类型;以及一第二阱,与该第一阱相对设置,并与该第二源极/漏极区分离,该第二阱具有该第二导电类型。
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