[发明专利]具有与栅极自对准的体扩散的LDMOS器件有效
申请号: | 201611074855.4 | 申请日: | 2016-11-23 |
公开(公告)号: | CN106847894B | 公开(公告)日: | 2021-07-09 |
发明(设计)人: | H·L·爱德华兹;B·胡;J·R·托德 | 申请(专利权)人: | 德克萨斯仪器股份有限公司 |
主分类号: | H01L29/423 | 分类号: | H01L29/423;H01L21/336;H01L29/78 |
代理公司: | 北京纪凯知识产权代理有限公司 11245 | 代理人: | 赵志刚;赵蓉民 |
地址: | 美国德*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 本发明公开一种具有与栅极自对准的体扩散的LDMOS器件。一种横向扩散金属氧化物半导体(LDMOS)器件(200)包括其上具有p外延层(115)的衬底(105),在p外延层中的p体区(140),以及在p体内以提供漏极延伸区的n漂移(NDRIFT)区(120)。栅极堆叠包括在p体区中的沟道区上方与具有NDRIFT区的结的相应侧相邻并且在所述相应侧上的栅极介电层(122)。图案化栅极电极(123)在栅极电介质上。DWELL区(130)在p体区内。源极区(148)在DWELL区内,并且漏极区(145)在NDRIFT区(120)内。LDMOS器件的有效沟道长度(Leff)为75nm至150nm,其显示DWELL注入,所述DWELL注入利用栅极电极的边缘以描绘DWELL离子注入的边缘,使得DWELL区与栅极电极自对准。 | ||
搜索关键词: | 具有 栅极 对准 扩散 ldmos 器件 | ||
【主权项】:
一种形成横向扩散金属氧化物半导体器件即LDMOS器件的方法,其包括:提供其上具有p外延层的衬底;在所述p外延层的部分内形成包括NDRIFT离子注入的n漂移区即NDRIFT区;形成栅极堆叠,其包括在所述p外延层的表面沟道区上方形成栅极介电层,所述栅极介电层邻近于具有所述NDRIFT区的结的相应侧并且在具有所述NDRIFT区的结的相应侧上,然后在所述栅极介电层上形成图案化栅极电极;至少第一后栅极阱离子注入包括进入到所述p外延层中的p型(DWELL离子注入)以形成DWELL区,其中所述栅极电极的至少一个边缘被包括在用于所述DWELL离子注入的光掩模开口中,使得所述栅极电极描绘出所述DWELL离子注入的边缘,以及在所述DWELL区中形成源极区,以及在NDRIFT区中形成漏极区。
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