[发明专利]半导体封装件及其制法在审

专利信息
申请号: 201610913497.5 申请日: 2016-10-20
公开(公告)号: CN107818953A 公开(公告)日: 2018-03-20
发明(设计)人: 潘嘉伟;高迺澔;江东升 申请(专利权)人: 矽品精密工业股份有限公司
主分类号: H01L23/31 分类号: H01L23/31;H01L23/14;H01L21/50;H01L21/56
代理公司: 北京三友知识产权代理有限公司11127 代理人: 王涛
地址: 中国台*** 国省代码: 台湾;71
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摘要: 发明提供一种半导体封装件及其制法,该制法包含准备一承载件,该承载件包含有相对的第一设置面与第二设置面,该第一设置面设有多个芯片;形成一封装胶体以包覆该等芯片的外周面;在该第二设置面设置一支撑件,其中该支撑件的热膨胀系数大于该承载件的热膨胀系数;在该等芯片与该封装胶体的表面形成一线路重布结构层,完成半导体封装件;其中,该支撑件可有效降低该承载件与该封装胶体的翘曲形变。
搜索关键词: 半导体 封装 及其 制法
【主权项】:
一种半导体封装件,其特征在于,所述半导体封装件包含:一承载件,具有相对的一第一设置面与一第二设置面;一支撑件,设置于所述承载件的所述第二设置面,所述支撑件的热膨胀系数大于所述承载件的热膨胀系数;多个芯片,分离设置于所述承载件的所述第一设置面;封装胶体,形成在所述承载件的所述第一设置面且包覆所述多个芯片的外周面;及一线路重布结构层,形成于所述封装胶体的表面与所述多个芯片的主动面,且电连接各所述芯片。
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