[发明专利]等离子体处理装置和等离子体处理方法无效
申请号: | 200710091350.3 | 申请日: | 2007-03-30 |
公开(公告)号: | CN101047114A | 公开(公告)日: | 2007-10-03 |
发明(设计)人: | 松本直树;舆水地盐;早川欣延;花冈秀敏;岩田学;田中谕志 | 申请(专利权)人: | 东京毅力科创株式会社 |
主分类号: | H01L21/00 | 分类号: | H01L21/00;H01L21/67;H01L21/3065;H01L21/205;H01L21/311;H01L21/31;C23C16/50;C23C16/505;C23C16/513;C23F4/00;H01J37/32;H01J37/00;H05H1/00;H05H |
代理公司: | 北京纪凯知识产权代理有限公司 | 代理人: | 龙淳 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 本发明涉及等离子体处理装置和等离子体处理方法。根据本发明,在双频重叠施加方式的电容结合型中,充分地防止和控制在另外一方的相对电极上形成的不期望的膜,同时任意地控制等离子体的密度的空间的分布特性。在下部电极的基座(16)上载置被处理基板(W),从高频电源(30)施加等离子体生成用的第一高频,施加来自高频电源(70)的离子引入用的第二高频。在基座(16)的上方与其平行地相对地配置的上部电极(34)通过环状的绝缘体(35)安装在腔室(10)内。上部电极(34)通过棒状的电感器(54)以及导线(56)连接到接地电位(通常是到腔室10中)。 | ||
搜索关键词: | 等离子体 处理 装置 方法 | ||
【主权项】:
1.一种等离子体处理装置,具有:可真空排气的接地的处理容器;第一电极,通过绝缘物或空间安装在所述处理容器内;第二电极,其在所述处理容器内空出规定的间隔而与所述第一电极平行地配置,与所述第一电极相对并支承被处理基板;第一高频供电部,向所述第二电极施加具有第一频率的第一高频;第二高频供电部,向所述第二电极施加具有比所述第一频率低的第二频率的第二高频;处理气体供给部,向所述第一电极、所述第二电极和所述处理容器的侧壁之间的处理空间提供期望的处理气体;电感器,电连接所述第一电极与接地电位之间。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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