[发明专利]一种氮化物发光二极管在审

专利信息
申请号: 201711403205.4 申请日: 2017-12-22
公开(公告)号: CN108133985A 公开(公告)日: 2018-06-08
发明(设计)人: 黄理承;谢翔麟;黄文宾;林兓兓;蔡吉明 申请(专利权)人: 安徽三安光电有限公司
主分类号: H01L33/04 分类号: H01L33/04;H01L33/14;H01L33/32
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 241000 安徽*** 国省代码: 安徽;34
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摘要:
搜索关键词: 氮化物发光二极管 超晶格结构 衬底 超晶格结构层 电流扩展层 抗静电性能 操作电压 横向扩展 接触电阻 注入电流 成核层 发光层 缓冲层
【说明书】:

发明公开了一种氮化物发光二极管,包括一衬底,以及依次位于衬底上的成核层、缓冲层、n型层、发光层、P型层和N型接触层,其特征在于:所述N型接触层包括u‑GaN/n‑GaN超晶格结构层。本发明采用u‑GaN/n‑GaN超晶格结构或者u‑GaN/n‑GaN超晶格结构和n+GaN层作为N型接触层,降低与其上的电流扩展层的接触电阻,提高注入电流的横向扩展能力,使得抗静电性能得到改善,操作电压得到降低。

技术领域

本发明属于半导体光电器件领域,尤其涉及一种具有N型接触层的氮化物发光二极管。

背景技术

目前,发光二极管(Light-emitting diodes,简称LED)以其高效率、长寿命、全固态、自发光和绿色环保等优点,已经被广泛应用于照明和显示两大领域。其氮化镓系发光二极管因其带隙覆盖各种色光,成为国内外产学研各界重点研究的对象,尤其是近年来p型层结构逐渐成为各界研究的热点。

传统的发光二极管结构包括衬底,以及位于衬底上的成核层、缓冲层、N型GaN层、发光层、低温P型GaN层、电子阻挡层(P-AlGaN)、高温P型GaN层、P型接触层、电流扩展层(例如ITO)和一对电极,N型GaN层提供的电子与P型GaN层提供的空穴在发光层复合辐射发光,但是由于P型GaN层与P型接触层中P型杂质(例如Mg)的活化效率较低,同时由于P型接触层与电流扩展层的接触电阻较大,导致发光二极管的操作电压较高。

发明内容

为了解决上述问题,本发明提出一种氮化物发光二极管,包括一衬底,以及依次位于衬底上的缓冲层、n型GaN层、发光层、P型层和N型接触层,其特征在于:所述N型接触层包括u-GaN/n-GaN超晶格结构层。优选的,所述N型接触层还包括位于u-GaN/n-GaN超晶格结构层上的n+ GaN层。

优选的,所述n+ GaN层中n型杂质浓度不小于u-GaN/n-GaN超晶格结构层中n型杂质浓度。

优选的,所述P型层包括低温p型GaN层和p型AlGaN层。

优选的,所述N型接触层中的n+ GaN层的厚度为10Å~250Å,n型杂质浓度为1×1019~5×1019/cm3

优选的,所述u-GaN/ n-GaN超晶格结构层中u-GaN层的厚度为20Å~50Å。

优选的,所述u-GaN/ n-GaN超晶格结构层中n-GaN层的厚度为30Å~75Å。

优选的,所述u-GaN/ n-GaN超晶格结构层中n型杂质浓度为1×1019~5×1019/cm3

优选的,所述u-GaN/ n-GaN超晶格结构层的周期数为1~30。

优选的,所述P型层中P型杂质的浓度为5×1019~3×1020/cm3

优选的,该发光二极管还包括位于N型接触层上的扩展电流的电流扩展层、P电极、N电极。

优选的,所述电流扩展层的材料为ITO或者AZO或者TCO。

本发明采用u-GaN/n-GaN超晶格结构或者u-GaN/n-GaN超晶格结构和n+GaN层作为N型接触层,降低与其上的电流扩展层的接触电阻,提高注入电流的横向扩展能力,进而使得抗静电性能得到改善,操作电压得到降低。

附图说明

图1 本发明实施例1之发光二极管结构示意图。

图2 本发明实施例1之P型层和N型接触层结构示意图。

图3本发明实施例2之发光二极管结构示意图。

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