专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]存储单元的基于时间存取-CN201880038003.0有效
  • U·迪温琴佐 - 美光科技公司
  • 2018-05-30 - 2021-04-23 - G11C11/22
  • 本申请案涉及存储单元的基于时间存取。在读取操作的感测部分期间,可将选定单元充电到预定电压电平。可基于在所述充电开始与在选定单元达到所述预定电压电平时之间的持续时间识别存储于所述选定单元上的逻辑状态。在一些实例中,时变信号可用于基于所述充电的所述持续时间而指示所述逻辑状态。在一些实例中,所述充电的所述持续时间可基于所述选定单元的极化状态、所述选定单元的电介质电荷状态,或所述选定单元的极化状态及电介质电荷状态两者。
  • 存储器单元基于时间存取
  • [发明专利]存储单元的基于时间存取-CN202110404869.2有效
  • U·迪温琴佐 - 美光科技公司
  • 2018-05-30 - 2022-04-08 - G11C11/22
  • 本申请案涉及存储单元的基于时间存取。在读取操作的感测部分期间,可将选定单元充电到预定电压电平。可基于在所述充电开始与在选定单元达到所述预定电压电平时之间的持续时间识别存储于所述选定单元上的逻辑状态。在一些实例中,时变信号可用于基于所述充电的所述持续时间而指示所述逻辑状态。在一些实例中,所述充电的所述持续时间可基于所述选定单元的极化状态、所述选定单元的电介质电荷状态,或所述选定单元的极化状态及电介质电荷状态两者。
  • 存储器单元基于时间存取
  • [发明专利]存储单元的基于时间存取-CN201880045794.X在审
  • U·迪温琴佐 - 美光科技公司
  • 2018-05-30 - 2020-03-17 - G11C11/22
  • 本文中描述用于存储阵列中的存储单元的基于时间存取的方法、系统及装置。在读取操作的感测部分期间,可将选定单元充电到预定电压电平。可基于在充电开始与在选定单元达到所述预定电压电平时之间的持续时间识别存储于所述选定单元上的逻辑状态。在一些实例中,时变信号可用于基于所述充电的所述持续时间而指示所述逻辑状态。所述充电的所述持续时间可基于所述选定单元的极化状态、所述选定状态的电介质电荷状态,或所述选定单元的极化状态及电介质电荷状态两者。
  • 存储器单元基于时间存取
  • [发明专利]存储设备-CN202010651112.9在审
  • 姜南求 - 爱思开海力士有限公司
  • 2020-07-08 - 2021-05-07 - G11C16/04
  • 一种存储设备,包括存储单元阵列,其包括多个存储块;外围电路,其用于对多个存储块中的选定块执行编程操作并且在编程操作期间将选定块中包括的存储单元编程为多个编程状态;以及控制逻辑,其用于控制外围电路执行编程操作控制逻辑对编程操作期间所使用的编程脉冲数目进行计数,并且基于经计数的编程脉冲数目来确定选定块是否为坏块。
  • 存储器设备
  • [发明专利]电压切换电路-CN201610555070.2有效
  • 柏正豪 - 力旺电子股份有限公司
  • 2016-07-14 - 2019-08-30 - G11C16/30
  • 一种电压切换电路,连接至一非易失性存储的一存储胞。在该非易失性存储的一编程模式且该存储胞为一选定胞时,在二输出端皆提供一高电压。在该非易失性存储的该编程模式且该存储胞为一未选定胞时,在二输出端提供一中间电压与一接地电压。在该非易失性存储的一抹除模式且该存储胞为该选定胞时,在二输出端提供该高电压与该接地电压。在该非易失性存储的该抹除模式且该存储胞为该未选定胞时,在二输出端提供该接地电压。在一读取模式时,在二输出端皆提供一读取电压。
  • 电压切换电路
  • [发明专利]存储器件及其擦除操作-CN202180000881.5有效
  • 梁轲;侯春源 - 长江存储科技有限责任公司
  • 2021-03-24 - 2023-09-15 - G11C16/14
  • 在某些方面中,一种存储器件包括:存储单元阵列,存储单元阵列包括多个存储单元行;多个字线,多个字线分别耦合到多个存储单元行;以及外围电路,外围电路耦合到多个字线并且被配置为对多个存储单元行中的选定单元行执行擦除操作选定单元行耦合到选定字线。为了执行擦除操作,外围电路被配置为:在第一时间段中,将耦合到多个存储单元行中的未选定单元行的未选定字线从初始电压放电到放电电压;并且在第一时间段之后的第二时间段中,使未选定字线浮置。
  • 存储器器件及其擦除操作
  • [发明专利]对浮动栅极耦合具有补偿的非易失性存储装置的读取操作-CN200780007206.5有效
  • 尼玛·穆赫莱斯 - 桑迪士克股份有限公司
  • 2007-02-27 - 2009-03-25 - G11C16/26
  • 由于基于相邻浮动栅极(或其它相邻电荷存储元件)中所存储的电荷的电场耦合,可能发生非易失性存储单元的浮动栅极(或其它电荷存储元件)上所存储的表观电荷的移位。所述问题最显著发生于已在不同时间编程的若干组相邻存储单元之间。为了解决此耦合,针对特定存单元的读取过程将向相邻存储单元提供补偿,以便减小所述相邻存储单元对所述特定存单元具有的耦合效应。为此,将读取电压施加至选定单元的字线,将第二通过电压施加至与所述选定单元相邻的存储单元的字线,且将第一通过电压施加至其它字线。在读取所述选定单元之前,读取所述相邻存储单元的状态,且根据此状态,设定所述第二通过电压。
  • 浮动栅极耦合具有补偿非易失性存储装置读取操作
  • [发明专利]具有动态编程验证电平的存储装置-CN202111622421.4在审
  • A·夏尔马 - 美光科技公司
  • 2021-12-28 - 2022-07-01 - G11C16/10
  • 本申请涉及具有动态编程验证电平的存储装置。存储装置可包含存储单元阵列和配置成存取所述存储单元阵列的控制。所述控制可感测选定单元的第一阈值电压。响应于所述经感测第一阈值电压在第一预编程验证电平和第一编程验证电平之间,所述控制可将所述选定单元偏置用于SSPC编程。响应于所述经感测第一阈值电压小于所述第一预编程验证电平,所述控制可将所述选定单元偏置用于非SSPC编程。响应于所述经感测第一阈值电压大于所述第一编程验证电平,所述控制可禁止所述选定单元进行编程。
  • 具有动态编程验证电平存储器装置

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