专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]蚀刻-CN201310376404.6在审
  • 张永俊;王冠;宋卿 - 广州三星通信技术研究有限公司;三星电子株式会社
  • 2013-08-26 - 2015-03-18 - C23F1/28
  • 本发明提供了一种蚀刻,所述蚀刻由以重量计的下述组分配制而成:15%-25%的三氯化铁,30%-50%的氢氟酸,2%-5%的磷酸,其余为水。优选地,在蚀刻中,以重量计,三氯化铁的含量为20%-25%,氢氟酸的含量为35%-50%,磷酸的含量为2%-3%,其余为水。本发明的蚀刻能够在实现高蚀刻效率和优良的加工效果的同时能够形成凸凹起伏和平缓过渡的表面微结构。
  • 蚀刻
  • [发明专利]蚀刻-CN201710388257.2在审
  • 吉崎了;向喜广 - 长濑化成株式会社
  • 2017-05-27 - 2017-12-08 - C09K13/06
  • 本发明提供一种蚀刻,该蚀刻对铟的溶解度大,可抑制草酸与铟的盐的析出,能够长期使用,并且残渣除去性和消泡性也优异,适用于氧化铟系膜的蚀刻。本发明的蚀刻的特征在于,其含有(A)草酸、(B)聚乙烯吡咯烷酮以及(C)水,被用于氧化铟系膜的蚀刻
  • 蚀刻
  • [发明专利]蚀刻-CN202080005184.4在审
  • 着能真;白滨祐二;妹尾骏作 - 松下知识产权经营株式会社
  • 2020-04-30 - 2021-04-30 - C23F1/18
  • 通过干蚀刻对源极漏极间的非晶硅进行挖掘时,存在形成构成电极端子的铜/钼膜的钼膜的下侧被挖开的遮檐形状。一种蚀刻,其特征在于,其由过氧化氢、有机酸、胺类、唑类、过氧化氢分解抑制剂和水构成,前述有机酸为选自乙醇酸、乳酸、草酸、丙二酸、马来酸、琥珀酸、苹果酸、柠檬酸、天冬氨酸、谷氨酸中的3种以上的混合物,所述蚀刻能够将遮檐形状蚀刻成规定的形状
  • 蚀刻
  • [发明专利]蚀刻-CN202211240753.0在审
  • 吴鉴 - 苏州华星光电技术有限公司
  • 2022-10-11 - 2023-01-17 - C23F1/16
  • 本发明实施例公开了一种蚀刻;该蚀刻用于同时蚀刻金属层和半导体层,该蚀刻包括过硫酸化合物、无机酸、含氟化合物、唑类化合物、有机酸、及水,以质量百分比计,蚀刻的各组分含量如下:过硫酸化合物5wt%至,无机酸0.1wt%至5wt%,含氟化合物0.1wt%至4wt%,唑类化合物0.1wt%至6wt%,有机酸0.1wt%至6wt%;本发明通过利用过硫酸化合物中过硫酸根离子的氧化作用,加强对于半导体层的蚀刻,实现同时对于金属层和半导体层的蚀刻,一次性湿蚀刻金属线层和置于金属线下方的半导体层,将传统的两次干蚀刻和两次湿蚀刻制程缩减成一次干蚀刻和两次湿蚀刻,提高了制造的生产节拍和效率。
  • 蚀刻
  • [发明专利]蚀刻-CN200810185797.1有效
  • 片山大辅;栗井雅代 - MEC股份有限公司
  • 2008-12-10 - 2009-07-15 - C23F1/18
  • 本发明涉及蚀刻,提供能够抑制对镍以外的金属、尤其是铜的侵蚀的镍的蚀刻。该蚀刻是含有硝酸或硫酸、过氧化氢以及水的镍的蚀刻,其特征在于,含有聚合物,该聚合物具有选自下述式(I)、下述式(II)及下述式(III)中的至少一个重复单元,其中,R1~R
  • 蚀刻
  • [发明专利]蚀刻-CN200810187717.6有效
  • 中村幸子;中岛庆一 - MEC股份有限公司
  • 2008-12-31 - 2009-07-22 - C23F1/18
  • 本发明涉及蚀刻,提供即使在高温条件下也能够可靠地维持铜层与绝缘层的密合性,而且能够提高对广泛的绝缘材料的密合性的蚀刻。一种蚀刻,是含有硫酸、过氧化氢及水的铜的蚀刻,含有苯基四唑类和硝基苯并三唑类。
  • 蚀刻
  • [发明专利]蚀刻-CN201810269618.6有效
  • 吉崎了 - 长濑化成株式会社
  • 2018-03-29 - 2023-09-29 - H01L21/3213
  • 本发明的目的在于提供一种蚀刻,该蚀刻即使水分蒸发,也能够抑制草酸析出,不仅有机膜和SiN的残渣除去性优异,而且玻璃的残渣除去性也优异,适合用于氧化铟系膜的蚀刻。另外,本发明的目的还在于提供一种蚀刻,该蚀刻对铟的溶解度大,可抑制草酸与铟的盐的析出,能够长期使用,进一步本发明的目的还在于提供一种维持高蚀刻速率的蚀刻。本发明的蚀刻的特征在于,其含有(A)草酸、(B)具有2个以上的羟基的伯胺和/或多元醇以及(C)水,该蚀刻被用于氧化铟系膜的蚀刻
  • 蚀刻
  • [发明专利]蚀刻-CN200810163836.8无效
  • 沈慕禹 - 绍兴华立电子有限公司
  • 2008-12-25 - 2009-06-03 - C23F1/16
  • 本发明公开了一种蚀刻,属于蚀刻工艺技术领域,包括蚀刻母液、蚀刻,所述蚀刻母液由以下重量百分比的组分配制而成,三氯化铁40-60%,氯化铜2-4%,盐酸2-8%,余量为水;蚀刻由以下重量百分比的组分配制而成本发明蚀刻蚀刻速度快,蚀刻效率及精度高,并降低了侧蚀影响。
  • 蚀刻
  • [发明专利]蚀刻-CN200880011921.0有效
  • 板野充司;中村新吾;毛塚健彦;渡边大祐 - 大金工业株式会社
  • 2008-04-08 - 2010-02-24 - H01L21/308
  • 本发明提供伴随药液蒸发等的组成变化少、药液更换频度少,而且经时的蚀刻速率变化也少,能够均匀蚀刻硅氧化膜的蚀刻。具体地涉及含有氢氟酸(a)、氟化铵(b)以及氟化氢与沸点比氨高的碱的盐(c)的蚀刻,氟化铵(b)的浓度为8.2mol/kg以下,氟化铵(b)和氟化氢与沸点比氨高的碱的盐(c)的合计为9.5mol/kg以上,还涉及该蚀刻的制造方法以及使用该蚀刻蚀刻方法。
  • 蚀刻
  • [发明专利]蚀刻-CN201280011860.4无效
  • 向喜广;安江秀国;吉崎了;西岛佳孝 - 长濑化成株式会社
  • 2012-03-05 - 2013-12-18 - C23F1/18
  • 本发明目的在于提供一种蚀刻及使用了该蚀刻的铜配线的形成方法,该蚀刻可以对铜配线横截面赋予良好的顺锥形状,而且侧蚀量少、容易形成精细图案的线路,并几乎不会对透明导电膜产生损伤,蚀刻速率稳定且易于对蚀刻废液进行再利用和回收本发明是一种蚀刻及使用了该蚀刻的铜配线的形成方法,用于对至少具有1层铜膜和铜合金膜的金属膜的所述铜膜和铜合金膜进行蚀刻,该蚀刻含有:二价铜离子和三家铁离子的至少1种;至少1种的卤离子;甘氨酸、2-
  • 蚀刻
  • [实用新型]蚀刻-CN201721309349.9有效
  • 钱俊 - 深圳市柔宇科技有限公司
  • 2017-10-11 - 2018-05-22 - C23F1/08
  • 本实用新型公开了一种蚀刻机。蚀刻机用于蚀刻工件。蚀刻机包括蚀刻槽,位检测装置,储罐,供管路和控制装置。蚀刻槽用于容置蚀刻,设有工件入口处。位检测装置用于检测工件入口处的蚀刻位。储罐用于存储蚀刻。供管路连接储罐和蚀刻槽。供管路设有阀门。控制装置连接位检测装置和阀门,控制装置用于在工件入口处的蚀刻位低于预设位时控制阀门使储罐内蚀刻输入工件入口处。本实用新型的蚀刻机可以控制补充工件进入蚀刻槽时工件入口处流失的蚀刻,避免工件进入蚀刻槽时背面存在气泡使得工件表面局部接触不到蚀刻蚀刻不均,存在斑点(Mura)。
  • 蚀刻

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