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[实用新型]探测装置-CN201820271239.6有效
发明人：张岚;顾铁;刘柱;王伟 -专利权人：奕瑞新材料科技（太仓）有限公司
申请日： 2018-02-26 - 公布日： 2018-09-14 - 主分类号： G01T1/167 文献下载
摘要：本实用新型提供一种探测装置，至少包括第一探测器、第二探测器及第三探测器，其中，所述第一探测器、所述第二探测器及所述第三探测器结构相同且呈间隔排布，且任一探测器沿至少一方向的投影同时位于至少两其他探测器上本实用新型的探测装置不需要使用编码板就可以实现对射线源的全方位定向，相较于现有的探测器既提高了探测效率，又提高了对射线源的定向精度；同时，本实用新型的探测装置包括多个间隔排布的探测器，可以确保从不同方向入射的中低能射线总能被至少一探测器遮挡，同时被至少一探测器探测到，大大减少了定位过程中的处理时间，从而提高了探测装置的探效率，并提高了探测装置的灵敏度。
探测装置探测器本实用新型第二探测器第一探测器间隔排布射线源其他探测器探测器结构中低能射线定位过程探测效率灵敏度编码板入射遮挡投影探测

[发明专利]探测装置-CN202310897276.3在审
发明人：刘政安;张宝桥;鲁成;鲁浩然 -专利权人：安百拓(南京)建筑矿山设备有限公司
申请日： 2023-07-20 - 公布日： 2023-09-08 - 主分类号： E21B47/00 文献下载
摘要：本申请公开了一种探测装置，包括：探测头、数据接口和壳体；其中，探测头用于采集探测数据；数据接口用于传输探测数据；壳体用于固定数据接口；探测头设置于壳体的前端，壳体的后端形成有用于使探测装置结合至一个钻杆的安装接口；数据接口设置在探测头和安装接口之间。本申请的有益效果在于：提供了一种能够充分利用探测数据来指导施工作业的探测装置。
探测装置

[发明专利]探测装置-CN201811345107.4在审
发明人：黄建华;赵鹏 -专利权人：黄建华;赵鹏
申请日： 2018-11-13 - 公布日： 2019-03-01 - 主分类号： G06K7/10 文献下载
摘要：本申请提供一种探测装置。所述探测装置包括伸缩杆、低频电子标签探测装置、固定件、操作终端和超高频电子标签探测器。所述低频电子标签探测装置与所述伸缩杆的第一端连接。所述固定件固定设置于所述伸缩杆。所述超高频电子标签探测器固定设置于所述操作终端。所述操作终端可用于输入命令并显示探测信息，还可用于探测超高频电子标签信息当所述操作终端用于探测超高频电子标签信息时，可将所述操作终端从所述固定件上取下进行探测。所述低频电子标签探测器和所述超高频电子标签探测器分开设置，且具有独立操作方式，避免了在进行探测工作时探测信号的串扰。
操作终端超高频电子标签探测装置固定件低频电子伸缩杆探测探测器固定设置可用标签标签探测器可拆卸设置独立操作分开设置输入命令探测信号探测信息第一端串扰取下申请

[实用新型]探测装置-CN201821863289.X有效
发明人：黄建华;赵鹏 -专利权人：黄建华;赵鹏
申请日： 2018-11-13 - 公布日： 2019-07-30 - 主分类号： G06K7/10 文献下载
摘要：本申请提供一种探测装置。所述探测装置包括伸缩杆、低频电子标签探测装置、固定件、操作终端和超高频电子标签探测器。所述低频电子标签探测装置与所述伸缩杆的第一端连接。所述固定件固定设置于所述伸缩杆。所述超高频电子标签探测器固定设置于所述操作终端。所述操作终端可用于输入命令并显示探测信息，还可用于探测超高频电子标签信息当所述操作终端用于探测超高频电子标签信息时，可将所述操作终端从所述固定件上取下进行探测。所述低频电子标签探测器和所述超高频电子标签探测器分开设置，且具有独立操作方式，避免了在进行探测工作时探测信号的串扰。
操作终端超高频电子标签探测装置固定件低频电子伸缩杆探测探测器固定设置可用标签标签探测器可拆卸设置独立操作分开设置输入命令探测信号探测信息第一端串扰取下申请

[发明专利]探测装置-CN200810099044.9有效
发明人：带金正;秋山收司 -专利权人：东京毅力科创株式会社
申请日： 2008-05-15 - 公布日： 2008-11-19 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本发明提供一种探测装置，在使用探测卡来调查晶片上的IC芯片的电特性的探测装置中，提高晶片的搬送效率，实现高生产率。在探测装置上设置有载置收容有多个基板的载体的装载口；具有在下面形成有探测器的探测卡的多个探测装置本体；和围绕铅垂轴旋转自由以及升降自由地构成的，用于在上述装载口与上述探测装置本体之间进行上述基板的转移的基板搬送机构而且通过基板搬送机构从载体接收至少2个基板，将这些至少2个基板依次搬入到多个探测装置本体内。
探测装置

[发明专利]探测装置-CN201280009972.6有效
发明人： E·勒斯尔;T·克勒;R·普罗克绍 -专利权人：皇家飞利浦有限公司
申请日： 2012-02-20 - 公布日： 2013-11-06 - 主分类号： A61B6/03 文献下载
摘要：本发明涉及一种探测装置，其包括用于过滤锥形辐射束（4）的滤波器（20），使得生成辐射束的具有不同能量谱的至少第一区域（22）和第二区域（23），其中，所述辐射束的所述第一区域辐照探测器探测表面（21）上的第一探测器面积（25），从而生成第一探测值集合，辐射束的第二区域辐照探测表面上的第二探测器面积（26），从而生成第二探测值集合。例如，利用滤波器，可以将探测装置用作双能量计算机断层摄影装置，其中，例如可以通过将滤波器添加到标准计算机断层摄影装置中，将标准计算机断层摄影装置变换成双能量计算机断层摄影装置，优选地不更改辐射源和探测器
探测装置

[发明专利]探测装置-CN201610915783.5在审
发明人：刘权;方祥建;施清清;李可;袁天宝;陈德贤;杨进;陇忠云;张辉鹏;王朝羽 -专利权人：珠海格力电器股份有限公司
申请日： 2016-10-20 - 公布日： 2017-02-01 - 主分类号： G01N23/04 文献下载
摘要：本发明公开一种探测装置，包括射线发生单元、成像单元和工件载具，射线发生单元设置在工件载具的运动路径上并释放出探测射线；工件载具驱动待测工件位于运动路径的不同位置时，探测射线穿过待测工件以使成像单元生成探测图像
探测装置

[发明专利]探测装置-CN201810131631.5在审
发明人：李法利 -专利权人：李法利
申请日： 2018-02-09 - 公布日： 2018-07-31 - 主分类号： G01V3/11 文献下载
摘要：本发明实施例涉及一种探测装置，包括：立板、励磁线圈和感应线圈组；励磁线圈设置于立板上，用于产生励磁电压；感应线圈组设置于励磁线圈内，根据励磁电压产生探测电流；感应线圈组包括第一感应线圈和第二感应线圈；第一感应线圈与第二感应线圈反向串联本发明实施例提供的探测装置可以准确判定被探测物的携带位置，消除探测区域内的弱区和盲区，从而使得探测装置的灵敏度更高，性能更稳定。
感应线圈探测装置感应线圈组励磁线圈励磁电压电动势立板大小相等反向串联方向相反探测区域携带位置灵敏度探测物弱区盲区判定探测

[发明专利]探测装置-CN201711008509.0在审
发明人：张龙;张丽;洪明志;梁晋宁 -专利权人：同方威视技术股份有限公司
申请日： 2017-10-25 - 公布日： 2018-03-16 - 主分类号： G01V8/20 文献下载
摘要：本发明涉及一种探测装置，用于扫描成像设备，其包括支座，支座具有弧形基面；后准组件，后准组件通过第一导轨滑动设置在支座上，以使后准组件能够相对于支座沿弧形基面的轴向进行直线运动；探测器组件，探测器组件通过第二导轨滑动设置在后准组件上，以使探测器组件能够相对后准组件沿弧形基面的轴向进行直线运动。本发明实施例探测装置包括的后准组件和探测器组件的位置均可根据实际应用要求进行调整，以使后准组件、探测器组件和光路对准，提高探测精度。
探测装置

[发明专利]探测装置-CN201911241931.X在审
发明人：林仲珉;刘俊良 -专利权人：迪科特测试科技(苏州)有限公司
申请日： 2019-12-06 - 公布日： 2021-06-08 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本公开提供一种探测装置，包括一电路板、一可挠性内连接基底、至少一探针以及一支撑部件。
探测装置

[发明专利]探测装置-CN201911372048.4在审
发明人：刘俊良 -专利权人：迪科特测试科技(苏州)有限公司
申请日： 2019-12-27 - 公布日： 2021-06-29 - 主分类号： H01L21/67 文献下载
摘要：本发明公开一种探测装置，包括一夹具，经配置用以支撑一受测装置(DUT)；以及一操纵器或探测卡，布置在该夹具上方并包括从该操纵器朝向该夹具突出的许多探针，其中该夹具包括一粗糙化表面以及用于放置晶圆的真空抽吸孔
探测装置

[发明专利]探测装置-CN202011501215.3在审
发明人：松本恭平;川上大地 -专利权人：株式会社京滨
申请日： 2020-12-18 - 公布日： 2021-10-12 - 主分类号： F02D41/20 文献下载
摘要：本发明的探测装置具有：滤波器单元，进行对于第1波形进行滤波处理的第1滤波处理和对于第2波形进行滤波处理的第2滤波处理之中的任一者；检测单元，在将所述第1波形的微分波形或所述第2波形设为第3波形的情况下，峰值的定时；校正单元，基于所述第3波形的所述第1峰值与所述第1峰值之后出现的所述第3波形的第2峰值的差分，校正由所述检测单元检测出的定时即检测值相对所述燃料喷射阀实际地进行所述开阀或所述闭阀的定时的偏移；以及探测单元，基于由所述校正单元校正后的检测值，探测所述燃料喷射阀的所述开阀及所述闭阀中的任一者或两者。
探测装置

[发明专利]探测装置-CN202310727765.4在审
发明人：奚竞杰;李烝;杨鹏;顾辰辰;孙健;王富久;王衡;曹竞飞;马宁 -专利权人：中国船舶集团有限公司第七一一研究所;上海齐耀重工有限公司
申请日： 2023-06-19 - 公布日： 2023-10-24 - 主分类号： G01N21/17 文献下载
摘要：本申请公开了一种探测装置，包括：气室单元，气室单元用于填充待测气体；光路单元，光路单元包括相背离的入射端和反射端，入射端用以提供平行光以穿过气室单元，反射端用以反射平行光并反向穿过气室单元；检测单元，检测单元与气室单元连接该探测装置通过在气室单元内设置待测气体，入射端用以提供平行光以穿过待测气体，反射端用以反射平行光且平行光反向穿过气室单元的待测气体，检测单元与气室单元连接，检测单元用以根据反向穿过气室单元的平行光检测气室单元内通入的待测气体的浓度，该探测装置通过检测单元实现检测气室单元内通入的待测气体的浓度。
探测装置

[发明专利]探测装置-CN201410331001.4有效
发明人：筱原荣一;山口显治;八田政隆 -专利权人：东京毅力科创株式会社
申请日： 2014-07-11 - 公布日： 2018-07-13 - 主分类号： H01L21/66 文献下载
摘要：本发明提供一种探测装置，该探测装置在按晶片等级进行半导体器件的电特性检查时能够简便且有效地防止在晶片表面附近产生火花(放电)。该探测装置中，火花防止机构(50)包括：在探测卡(16)和载置台(12)之间包围探针(26S、26G)的周围的围绕部件(52)；和在对半导体晶片(W)上的各芯片(功率器件)进行电特性检查时，为了在探针(
探测装置围绕部件探针电特性检查火花气体供给机构半导体晶片半导体器件防止机构功率器件供给气体晶片表面接触板探测卡有效地载置台放电晶片芯片包围

[发明专利]探测装置-CN201410366542.0有效
发明人：筱原荣一;长坂旨俊;猪股勇;矢野和哉;加藤仪保 -专利权人：东京毅力科创株式会社
申请日： 2014-07-29 - 公布日： 2017-09-22 - 主分类号： H01L21/66 文献下载
摘要：本发明提供一种按晶片等级进行在衬底的两面具有电极的功率器件的电特性检查的探测装置，在衬底的背面侧电极与吸盘顶部的载置面导体之间实现接触电阻的降低和均匀化。在该探测装置中，用于将半导体晶片W保持在吸盘顶部12上的吸附机构，在吸盘顶部的载置面导体上以满足Φ＜p≤2Φ的条件的图案(口径Φ、孔距p)设置多个垂直微细孔。
探测装置

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